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          在升壓變換器中利用新型MOSFET減少開關(guān)損耗

          作者: 時(shí)間:2011-02-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          圖5通態(tài)電阻比較

          圖6關(guān)斷波形比較

          圖7關(guān)斷比較

          圖8柵極電壓Vgs關(guān)斷波形

          耗,提高效率,主要途徑是:

           ?。?)選用低

           ?。?)選用低等效串聯(lián)電阻(ESR)的電容器C1和C5;

           ?。?)選用低等效電阻的電感線圈L1;

           ?。?)選用低導(dǎo)通電阻和低通態(tài)電壓的二極管D1。

            關(guān)于L1和輸出電容C5數(shù)值選擇可根據(jù)式(7)和式(9)求出。輸出電流IO=PO/VO=70W/120V≈0.6A,周期Ts=1/fs=1/80kHz=12.5μs,Vi=50V,設(shè)最大占空比Dmax=0.73,代入式(7)可得:L=×0.73×12.5×10-6

          =2.5×10-3H=2.5mH

            紋波電壓Δvo=120V×1%=1.2V,VO=120V,DTs=9.1μs,設(shè)負(fù)載電阻R=200Ω,代入式(9)可得:C5==4.55μF

            考慮在輸出負(fù)載瞬時(shí)變化時(shí)能安全運(yùn)行,可選用500μF/200V低ESR的電容器。

            選用低是提高效率的關(guān)鍵一環(huán)。目前快捷公司推出的新一代—QFET系列產(chǎn)品,則具有低損耗特征。

          32QFET的主要特點(diǎn)

            QFET是新一代MOSFET。在芯片結(jié)構(gòu)上,采用了條狀P+槽(或P+阱)替代了傳統(tǒng)MOSFET有源區(qū)中的蜂窩狀P+槽,并形成柱面結(jié),從而在相同的擊穿電壓下可使用較低電阻率的外延層(N-),因而有較低的導(dǎo)通電阻Rds(on)。同時(shí),通過對柵極氧化層的控制,有較低的柵極電荷Qg。

            在QFET系列產(chǎn)品中,F(xiàn)QP10N20(200V/10A)適合于在彩色顯示器電源中用作。FQP10N20采用TO220封裝,Rds(on)=0.28Ω(典型值),Qg=13.5nC(典型值),與電壓和電流容量相同并采用相同封裝的普通MOSFET比較,Rds(on)近20%,Qg約減小40%。圖4和圖5分別為FQP10N20與普通MOSFET的Rds(on)和Qg比較曲線。

          33采用QFET替代普通MOSFET的效果

            在圖3所示的中,當(dāng)工作條件相同時(shí),采用FQP10N20與普通器件其開關(guān)關(guān)斷波形比較如圖6所示。從圖6可知,QFET的Vds電壓上升時(shí)間和Id電流下降時(shí)間要比電壓與電流容量相當(dāng)?shù)钠胀∕OSFET都快。

            圖7為FQP10N20與普通MOSFET關(guān)斷損耗波形比較。波形面積與器件關(guān)斷期間的能耗成正比,由于QFET的波形面積小于普通MOSFET,故有較低的關(guān)斷損耗。圖8示出了關(guān)斷期間柵-源極之間電壓Vgs的波形對比。由于QFET有較小的柵極電荷,所以Vgs的關(guān)斷下降時(shí)間比普通MOSFET短。

            圖9為在不同工作頻率下對測試所獲得的數(shù)據(jù)繪制的效率曲線。由圖9可知,采用FQP10N20(QFET)替代普通MOSFET,效率有(2~4)%的提高。并且隨頻率增加,QFET對效率的改進(jìn)更加明顯。

          Mxw9.gif (4988 字節(jié))

          圖9在相同工作條件下效率比較

          4結(jié)語

            設(shè)計(jì)高效開關(guān)電源,重點(diǎn)是選用低開關(guān)損耗的功率MOSFET??旖莅雽?dǎo)體推出的QFET新一代MOSFET,具有低開通電阻和小柵極電荷特性,實(shí)現(xiàn)了低開關(guān)損耗和驅(qū)動(dòng)損耗,從而提高了電源效率。


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