二階有源低通濾波電路的設(shè)計(jì)與分析
3.2.3 用參數(shù)掃描分析法測(cè)試斯率特性
在圖3所示電路中,改變電阻R6,RF的值,從而改變Q值,觀察頻率特性變化。由理論分析結(jié)果可知,改變放大倍數(shù),即可改變Q值。利用Multisim的參數(shù)掃描分析功能,即可得到不同條件下的頻率特性。
在主菜單欄中,選擇Simulate/Analyses/ParameterSweep——命令,在出現(xiàn)的對(duì)話框中進(jìn)行如下設(shè)置:器件類型選擇電阻,器件名稱選擇電阻RF,分別取RF=0 Ω,6 200 Ω,ll 780 Ω“More Options”選項(xiàng)中,掃描類型選AC Analysis,再選擇節(jié)點(diǎn)V(6)為輸出節(jié)點(diǎn),點(diǎn)擊Simulate進(jìn)行仿真,得到RF取3個(gè)不同阻值時(shí)電路的幅/相特性曲線,如圖6所示。
從圖6中可以看出,3條曲線從下至上對(duì)應(yīng)的電阻RF分別為0 Ω,6200 Ω,11780 Ω幅頻特性縱坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的對(duì)數(shù)坐標(biāo)分別-8.4 dB,2.88 dB,12.89 dB對(duì)應(yīng)的3 dB截止頻率約為127 kHz??梢?,RF越大,Auf越大,Q越大,幅頻特性曲線越尖銳。在同樣的設(shè)計(jì)截止頻率下,Q值的不同對(duì)實(shí)際截止頻率有較大的影響。同理可以分析電阻R6對(duì)幅頻特性的影響。
采用類似的方法,還可以分析電容C1,C2,電阻R1,R2對(duì)通頻帶的影響。分析結(jié)果如下:C1,C2,R1,R2的變小均會(huì)引起電路截止頻率的增大和通頻帶的變寬,而C1,C2,R1,R2的變化對(duì)電壓增益的影響不大。R6與輸出電壓幅度成反比,RF與輸出電壓幅度成正比,但R6,RF的變化不影響電路的頻率特性。
4 結(jié)束語
分析結(jié)果表明,Multisim中的仿真分析結(jié)果與理論計(jì)算十分接近。Multisim既是一個(gè)非常優(yōu)秀的電子技術(shù)教學(xué)工具,又是一個(gè)專門用于電子電路設(shè)計(jì)與仿真的軟件。將Multisim應(yīng)用于電路設(shè)計(jì)不僅可以簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)過程、提高設(shè)計(jì)效率,而且可以優(yōu)化設(shè)計(jì)方案、節(jié)約設(shè)計(jì)成本,是現(xiàn)代化設(shè)計(jì)的趨勢(shì)。
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評(píng)論