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          Keithley最新升級版參數(shù)測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性

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          作者: 時間:2006-12-20 來源: 收藏
          吉時利()儀器公司(NYSE代碼:KEI)日前發(fā)布面向S600系列參數(shù)系統(tǒng)的交互式平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料的吞吐量(如RF頻率測試),并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過程中所涉及的能力。此外,經(jīng)過升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡化了測試工作。

          最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時利()不斷改進測試平臺和增強固定設(shè)備重用性方面的一貫承諾,將助于測試工程師們降低總體測試成本。吉時利(Keithley)通過不斷增強其產(chǎn)品功能來滿足用戶日益復(fù)雜的測試需求,例如進一步完善研發(fā)早期階段的測試工作,以及獲取模型校準所需的大量RF統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

          吉時利(Keithley)KTE軟件是功能強大的圓片測試開發(fā)與執(zhí)行平臺,能夠幫助測試工程師制訂整個測試方案。通過調(diào)用預(yù)定義的測試庫、定義參數(shù)和連接方式,用戶可在subsite級創(chuàng)建自定義的電氣測試項目。


          KTE V5.2是針對吉時利(Keithley)S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)而設(shè)計。S600系列已在各種測試環(huán)境中廣泛應(yīng)用,包括過程控制、過程和設(shè)備調(diào)諧與優(yōu)化、圓片測試,以及器件建模和表征等領(lǐng)域,S600系列測試系統(tǒng)在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用已經(jīng)跨越5代工藝節(jié)點,在此期間,S600以其對固定設(shè)備重用性的良好支持,降低了用戶的測試成本并引導(dǎo)了整個半導(dǎo)體測試行業(yè)。

          增強的支持
          支持的改進是KTE V5.2版增強的最重要功能。利用并行測試技術(shù),用戶能在過程開發(fā)中、相同的測試時間內(nèi)獲取更多數(shù)據(jù)量,或在產(chǎn)品量產(chǎn)過程中較少的時間內(nèi)獲取同樣數(shù)據(jù)量,并行測試技術(shù)已經(jīng)成為提高測試吞吐量的一種主要手段。新發(fā)布的KTE V5.2版中涉及的新特性包括對PT_Execute的全校驗支持,PT_Execute是一種能夠在并行和串行測試二者之間進行快速評估的軟件例程。早期評估方法需提供復(fù)雜的用戶手冊,既浪費時間又耗費工程資源。PT_Execute僅通過簡單的鍵盤操作即可啟動運行,大大縮短工程研發(fā)時間并降低用戶的總成本。其另一增強特性是FMI(Force-Measurement Interlock,強制互鎖)技術(shù),F(xiàn)MI為固件與軟件聯(lián)合解決方案,能減少測試過程中的串擾、噪聲,降低測試結(jié)果的波動(measurement variability)。

          增強的RF測試
          新的KTE V5.2增強了,包括改進的LRM校準,這比現(xiàn)有的測試技術(shù)更加實用且完全有別于現(xiàn)今市場的其他類似技術(shù)。KTE V5.2中在生產(chǎn)條件下實現(xiàn)相關(guān)性和校準,增強了S680參數(shù)測試系統(tǒng)的RF測試能力,能同時進行精確的DC和RF測量工作,非常適用研發(fā)和生產(chǎn)過程。

          KTE V5.2增強的錯誤信息描述功能有助于簡化故障檢測工作,另一增強功能追蹤校準臺接觸情況(touchdown),用于預(yù)測探針頭的磨損程度。RF測試瀏覽器工具包可實現(xiàn)海量測試數(shù)據(jù)的大幅度快速精簡產(chǎn)生所感興趣的RF參數(shù),幫助RF設(shè)備工程師實現(xiàn)實時過程控制。

          對新型子系統(tǒng)的強大支持
          Keithley的KTE V5.2平臺還改進了對嵌入式儀器子系統(tǒng)的支持,采用該種設(shè)計方式可提高系統(tǒng)總體測試吞吐量。該系統(tǒng)優(yōu)化了多種新型子系統(tǒng),包括一種能夠?qū)㈦娙轀y量吞吐量提高2倍的新型LCR表、一個頻譜分析儀(在基準電路分析中的應(yīng)用逐漸增多)和Keithley的3400系列脈沖/圖形發(fā)生器。3400系列脈沖/圖形發(fā)生器能夠滿足高級半導(dǎo)體器件表征和材料研究過程中進行脈沖測試的需要。在器件尺寸不斷減小、很多電子元件和材料的工作速度不斷增長地驅(qū)動下,產(chǎn)生該類應(yīng)用。

          更好的易用性 
          Keithley的KTE V5.2大大改善了軟件平臺的易用性。增強的KRM(Keithley Recipe Manager,Keithley配置管理器)能實現(xiàn)多重配置的編輯,并處理其中一種配置(測試例程)的輸入信息,將程序員的干預(yù)活動減至最少。其他的增強功能包括增加搜索內(nèi)容的高亮顯示和數(shù)據(jù)輸入中的撤銷功能。


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