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          吉時利為改良的脈沖測試發(fā)布新版測試軟件

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          作者: 時間:2006-12-26 來源: 收藏

          針對不斷增長的需求提供解決方案的行業(yè)領袖 (Keithley) 儀器公司(NYSE:KEI),日前發(fā)布6.1版交互式KTEI,暨功能強大的KTEI(交互式環(huán)境)軟件之最新版本,適用于4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)。新版KTEI 6.1軟件增強了4200-PIV的脈沖I-V能力并顯著改進脈沖和DC的相關性。

          脈沖正成為日益重要的新特性分析技術。高速脈沖避免了自加熱效應可能造成的損壞并應用于新半導體材料和器件的特性分析,例如高k柵層疊特性分析中的電荷俘獲。吉時利4200-PIV包將4200-SCS的能力擴展至包含脈沖發(fā)生和分析的領域,適用于材料和器件特性分析。

          此外,KTEI V6.1集成了用于吉時利3400脈沖發(fā)生器的驅(qū)動程序,該驅(qū)動程序使吉時利4200-SCS能無縫集成3400脈沖發(fā)生器到環(huán)境中實現(xiàn)多種脈沖功能。KTEI V6.1為易用、可現(xiàn)場安裝的軟件升級。

          本次最新發(fā)布的KTEI軟件實踐了吉時利的一貫承諾,即不斷改進其功能強大的測量工具并提供只需極低成本的升級和遷移路徑。該優(yōu)勢并非測試業(yè)界所有公司皆都提供。吉時利尤其注重用戶投資保護,旨在幫助用戶簡單升級所需軟件或硬件而非每隔幾年就購買一套完整的新硬件裝置。


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