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          多遙測天線集中校準(zhǔn)源的設(shè)計與應(yīng)用

          作者: 時間:2013-02-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘要:通常采用誤碼儀產(chǎn)生的信號經(jīng)調(diào)制后送入發(fā)射,接收機(jī)收到信號解調(diào)后,再送入誤碼儀測量鏈路誤碼率完成單。該校準(zhǔn)方式無法進(jìn)行多天線集中校準(zhǔn),針對該校準(zhǔn)方式的弊端提出了一種多天線集中校準(zhǔn)的方法,利用反饋式移位寄存器理論在FPGA中產(chǎn)生偽隨機(jī)序列,給出了偽隨機(jī)序列的仿真波形,并利用IN-SNEC公司接收機(jī)測試軟件完成多天線集中校準(zhǔn)源的測試。
          關(guān)鍵詞:m序列;移位寄存器理論;FPGA;集中校準(zhǔn)

          0 引言
          為保證多試驗(yàn)對象的數(shù)據(jù)同時接收,試驗(yàn)場所需配備數(shù)量較多的天線,通常這些天線位置較為分散,給天線的集中校準(zhǔn)帶來了很大困難?,F(xiàn)行的方案是利用誤碼儀產(chǎn)生信號通過信號發(fā)生器調(diào)制后經(jīng)遙測天線發(fā)射出去,接收機(jī)收到信號解調(diào)后將信號送回誤碼儀進(jìn)行誤碼率測試完成單天線校準(zhǔn)。這種方案的弊端在于使用誤碼儀必須形成閉合的環(huán)路才能進(jìn)行誤碼率測試,這樣多套天線都配置誤碼儀、信號發(fā)生器、發(fā)送天線等設(shè)備將耗費(fèi)大量的人力物力。本文中提到的校準(zhǔn)方案是利用各個遙測站已經(jīng)配置的遙測接收機(jī)自帶的誤碼率測試程序,使用FPGA產(chǎn)生連續(xù)偽隨機(jī)碼,對整個遙測鏈路進(jìn)行多次單向測試,這樣使用某一遙測站點(diǎn)集中發(fā)送校準(zhǔn)信號,各個站點(diǎn)即可進(jìn)行定量的誤碼率測試完成多天線集中校準(zhǔn),大大節(jié)約了人力物力成本,低成本的FPGA完全可以取代成本昂貴的誤碼儀對遙測天線進(jìn)行集中校準(zhǔn)。
          偽隨機(jī)序列的偽隨機(jī)性表現(xiàn)在預(yù)先的可確定性、可重復(fù)產(chǎn)生與處理。偽隨機(jī)序列雖然不是真正的隨機(jī)序列,但是當(dāng)序列周期足夠長時,偽隨機(jī)序列具有隨機(jī)序列的良好統(tǒng)計特性。因此偽隨機(jī)序列被廣泛應(yīng)用于誤碼率測試、時延測量、通信加密、數(shù)據(jù)的擾亂和解擾、擴(kuò)展頻譜通信、電子對抗、數(shù)字網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的故障診斷及性能自測等多個領(lǐng)域。
          由于FPGA(Field-Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編輯門陣列)在電子系統(tǒng)設(shè)計中的廣泛使用,且便于實(shí)現(xiàn)大規(guī)模的數(shù)字系統(tǒng),在很多高速設(shè)計和高速測試的場合下,希望能夠在FPGA中實(shí)現(xiàn)偽隨機(jī)序列發(fā)生器。
          產(chǎn)生偽隨機(jī)序列的電路通常為一反饋移位寄存器,它又可分為線性反饋移位寄存器和非線性反饋移位寄存器兩類,由線性反饋寄存器產(chǎn)生出的周期最長的二進(jìn)制數(shù)字序列通常稱為m序列。本文介紹的是在FPGA內(nèi)利用線性反饋移位寄存器LFSR(Linear Feedback Shift Register s)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)m序列發(fā)生器的方法。這種方法具有結(jié)構(gòu)簡單易于實(shí)現(xiàn),生成的偽隨機(jī)序列隨機(jī)性好,占用FPGA內(nèi)部資源少等特點(diǎn)。

          1 m序列產(chǎn)生原理
          偽隨機(jī)序列具有類似于隨機(jī)噪聲的一些統(tǒng)計特性,同時又便于重復(fù)產(chǎn)生和處理。由于它具有隨機(jī)噪聲的優(yōu)點(diǎn),又避免了隨機(jī)噪聲的缺點(diǎn),人們對偽隨機(jī)序列已經(jīng)有了比較深入的研究。m序列的理論比較成熟,實(shí)現(xiàn)比較簡單,因此獲得了日益廣泛的應(yīng)用。
          m序列是最長線性反饋式移位寄存器的簡稱,它是由帶線性反饋的移位寄存器產(chǎn)生的周期最長的序列。m序列信號發(fā)生器是在n級線性移位寄存器的基礎(chǔ)上,加上反饋邏輯電路構(gòu)成的。n級線性反饋移位寄存器的邏輯功能可以用圖1來表示。圖中n個小方框表示n個D寄存器,用ai表示寄存器的狀態(tài)。反饋線的連接狀態(tài)用ci表示,當(dāng)ci=1時,表示第i級寄存器輸出參與反饋;當(dāng)ci=0時,表示第i級寄存器輸出不參與反饋。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/192831.htm

          a.JPG


          設(shè)n級移位寄存器的初始狀態(tài)為:a-1a-2…a-n,經(jīng)過一次移位后,狀態(tài)變?yōu)閍0a-1…a-n+1,經(jīng)過n次移位后,狀態(tài)為an-1an-2…a1a0,再次移位后,寄存器左端得到的輸入an按照圖中的線路連接關(guān)系,可寫為:
          b.JPG
          式中求和按模2運(yùn)算。
          若初始狀態(tài)為全“0”,則移位得到的狀態(tài)仍然是全“0”,因此n級線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的序列最長周期為2n-1,此時線性反饋移位寄存器所產(chǎn)生的偽隨機(jī)序列即為m序列。
          反饋線的連接狀態(tài)ci的取值決定了移位寄存器的反饋連接和序列的結(jié)構(gòu),圖中的n級移位寄存器的連接多項(xiàng)式為(c0=1,cn=1):
          c.JPG
          這一方程稱為特征多項(xiàng)式。特征多項(xiàng)式刻畫了從某一時刻的狀態(tài)到下一時刻狀態(tài)的轉(zhuǎn)移規(guī)律。
          可以證明,特征多項(xiàng)式f(x)對應(yīng)的n級線性反饋移位寄存器輸出最長序列的條件為:
          (1)f(x)是既約的;
          (2)f(x)可整除xm+1,m=2n-1;
          (3)f(x)除不盡xm+1,qm。
          將這樣的特征多項(xiàng)式稱為本原多項(xiàng)式。在制作m序列發(fā)生器時,移位寄存器的反饋線(及模2加法電路)的數(shù)目直接決定于本原多項(xiàng)式。由于本原多項(xiàng)式的逆多項(xiàng)式也是本原多項(xiàng)式,因此一個本原多項(xiàng)式可以生成兩種互為逆碼的m序列。以9級m序列為例,9級m序列的本原多項(xiàng)式為x9+x4+1,其逆多項(xiàng)式為x9+x5+1同樣可以產(chǎn)生m序列,逆多項(xiàng)式產(chǎn)生的m序列與本原多項(xiàng)式x9+x4+1產(chǎn)生的m序列互為逆碼。

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