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          基于BIST的IP核測(cè)試方案設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2012-08-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/193355.htm

          VHDL描述

            此模式選擇模塊實(shí)現(xiàn)狀態(tài)之間的切換,電路簡(jiǎn)單,易于實(shí)現(xiàn)。

            5 結(jié)束語(yǔ)

            為嵌入式內(nèi)核的提供了一個(gè)可解決的方案,其效果明顯,故障覆蓋率較高,實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單。通過加入外殼可以實(shí)現(xiàn)對(duì)的訪問、隔離、控制,有效地提高了的可測(cè)性。但是采用會(huì)使電路面積增加額外開銷,必須在的可測(cè)性和面積之間進(jìn)行權(quán)衡。


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