基于BIST的IP核測(cè)試方案設(shè)計(jì)
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/193355.htm
此模式選擇模塊實(shí)現(xiàn)狀態(tài)之間的切換,電路簡(jiǎn)單,易于實(shí)現(xiàn)。
5 結(jié)束語(yǔ)
BIST為嵌入式內(nèi)核的測(cè)試提供了一個(gè)可解決的方案,其測(cè)試效果明顯,故障覆蓋率較高,實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單。通過加入測(cè)試外殼可以實(shí)現(xiàn)對(duì)IP核的訪問、隔離、控制,有效地提高了IP核的可測(cè)性。但是采用BIST會(huì)使電路面積增加額外開銷,必須在IP核的可測(cè)性和面積之間進(jìn)行權(quán)衡。
評(píng)論