分享晶體管的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)

　　晶體管的放大能力可以用萬(wàn)用表的hFE檔測(cè)量。測(cè)量時(shí)，應(yīng)先將萬(wàn)用表置于ADJ檔進(jìn)行調(diào)零后，再撥至hFE檔，將被測(cè)晶體管的C、B、E三個(gè)引腳分別插入相應(yīng)的測(cè)試插孔中(采用TO-3封裝的大功率晶體管，可將其3個(gè)電極接出3根引線后，再分別與三個(gè)插孔相接)，萬(wàn)用表即會(huì)指示出該管的放大倍數(shù)。

　　若萬(wàn)用表無(wú)hFE檔，則也可使用萬(wàn)用表的R×1k檔來(lái)估測(cè)晶體管放大能力。測(cè)量PNP管時(shí)，應(yīng)將萬(wàn)用表的黑表筆接晶體管的發(fā)射極E，紅表筆接晶體管的集電極C，再在晶體管的集電結(jié)(B、C極之間)上并接1只電阻(硅管為100kΩ鍺管為20 kΩ)，然后觀察萬(wàn)用表的阻值變化情況。若萬(wàn)用表指針擺動(dòng)幅度較大，則說(shuō)明晶體管的放大能力較強(qiáng)。若萬(wàn)用表指針不變或擺動(dòng)幅較小，則說(shuō)明晶體管無(wú)放大能力或放大能力較差。

　　測(cè)量NPN管時(shí)，應(yīng)將萬(wàn)用表的黑表筆接晶體管的集電極C，紅表筆接晶體管的發(fā)射極E，在集電結(jié)上并接1只電阻，然后觀察萬(wàn)用表的阻值變化情況。萬(wàn)用表指針擺動(dòng)幅度越大，說(shuō)明晶體管的放大能力越強(qiáng)。

　　也可以用晶體管直流參數(shù)測(cè)試表的hFE/測(cè)試功能來(lái)測(cè)量放大能力。測(cè)量時(shí)，先將測(cè)試表的hFE/ICEO檔置于hFE–100檔或hFE–300檔，選擇晶體管的極性，將晶體管插入測(cè)試孔后，按動(dòng)相應(yīng)的hFE鍵，再?gòu)谋碇凶x出hFE值即可。

　　3.反向擊穿電壓的檢測(cè)

　　晶體管的反向擊穿電壓可使用晶體管直流參數(shù)測(cè)試表的V(BR)測(cè)試功能來(lái)測(cè)量。測(cè)量時(shí)，先選擇被測(cè)晶體管的極性，然后將晶體管插入測(cè)試孔，按動(dòng)相應(yīng)的V(BR)鍵，再?gòu)谋碇凶x出反向擊穿電壓值。

　　對(duì)于反向擊穿電壓低于50V的晶體管，也可用圖5-58中所示的電路進(jìn)行測(cè)試。將待測(cè)晶體管VT的集電極C、發(fā)射極E與測(cè)試電路的A端、B端相連(PNP 管的E極接A點(diǎn)，C極接B點(diǎn);NPN管的E有接B點(diǎn)，C極接A點(diǎn))后，調(diào)節(jié)電源電壓，當(dāng)發(fā)光二極管LED點(diǎn)亮?xí)r，A、B兩端之間的電壓值即是晶體管的反向擊穿電壓。

　　(三)特殊晶體管的檢測(cè)

　　1.帶阻尼行輸出管的檢測(cè)

　　用萬(wàn)用表R×1檔，測(cè)量發(fā)射結(jié)(基極B與發(fā)射極E之間)的正、反向電阻值。正常的行輸出管，其發(fā)射結(jié)的正、反向電阻值均較小，只有2050Ω。

　　用萬(wàn)用表R×1k檔，測(cè)量行輸出管集電結(jié)(基極B與集電極C之間)的正、反向電阻值。正常時(shí)，正向電阻值(黑表筆接基極B，紅表筆接集電極C)為 310kΩ，反向電阻值為無(wú)窮大。若測(cè)得正、反向電阻值均為0或均為無(wú)窮大，則說(shuō)明該管的集電結(jié)已擊穿損壞或開(kāi)路損壞。

　　用萬(wàn)用表R×1k檔，測(cè)量行輸出管C、E極內(nèi)部阻尼二極管的正、反向電阻值，正常時(shí)正向電阻值較小(67 kΩ)，反向電阻值為無(wú)窮大，若測(cè)得C、E極之間的正反向電阻值均很小，則是行輸出管C、E極之間短路或阻尼二極管擊穿損壞。若測(cè)得C、E極之間的正、反向電阻值均為無(wú)窮大，則是阻尼二極管開(kāi)路損壞。

　　帶阻尼行輸出管的反向擊穿電壓可以用晶體管直流參數(shù)測(cè)試表測(cè)量，其方法與普通晶體管相同。

　　帶阻尼行輸出管的放大能力(交流電流放大系數(shù)β值)不能用萬(wàn)用表的hFE檔直接測(cè)量，因?yàn)槠鋬?nèi)部有阻尼二極管和保護(hù)電阻器。測(cè)量時(shí)可在行輸出管的集電極C 與基極B之間并接1只30 kΩ的電位器，然后再將行輸出管各電極與hFE插孔連接。適當(dāng)調(diào)節(jié)電位器的電阻值，并從萬(wàn)用表上讀出β值。

　　2.帶阻晶體管的檢測(cè)

　　因帶阻晶體管內(nèi)部含有1只或2只電阻器，故檢測(cè)的方法與普通晶體管略有不同。檢測(cè)之前應(yīng)先了解管內(nèi)電阻器的阻值。

　　測(cè)量時(shí)，將萬(wàn)用表置于R×1k檔，測(cè)量帶阻晶體管集電極C與發(fā)射極E之間的電阻值(測(cè)NPN管時(shí)，應(yīng)將黑表筆接C極，紅表筆接E極;測(cè)PNP管時(shí)，應(yīng)將紅表筆接C極，黑表筆接E極)，正常時(shí)，阻值應(yīng)為無(wú)窮大，且在測(cè)量的同時(shí)，若將帶阻晶體管的基極B與集電極C之間短路后，則應(yīng)有小于50kΩ的電阻值。否則，可確定為晶體管不良。

　　也可以用測(cè)量帶阻晶體管BE極、CB極及CE極之間正、反向電阻值的方法(應(yīng)考慮到內(nèi)含電阻器對(duì)各極間正、反向電阻值的影響)來(lái)估測(cè)晶體管是否損壞。

　　3.光敏三極管的檢測(cè)

　　光敏三極管只有集電極C和發(fā)射極E兩個(gè)引腳，基極B為受窗口。通常，較長(zhǎng)(或靠近管鍵的一端)的引腳為E極，較短的引腳的C極。達(dá)林頓型光敏三極管封裝缺圓的一側(cè)為C極。

　　檢測(cè)時(shí)，先測(cè)量光敏三極管的暗電阻：將光敏三極管的受光窗口用黑紙或黑布遮住，再將萬(wàn)用表置于R×1k檔。紅表筆和黑表筆分別接光敏三極管的兩個(gè)引腳。正常時(shí)，正、反向電阻均為無(wú)窮大。若測(cè)出一定阻值或阻值接近0，則說(shuō)明該光敏三極管已漏電或已擊穿短路。

　　測(cè)量光敏三極管的亮電阻：在暗電阻測(cè)量狀態(tài)下，若將遮擋受光窗口的黑紙或黑布移開(kāi)，將受光窗口靠近光源，正常時(shí)應(yīng)有1530kΩ的電阻值。則說(shuō)明光敏三極管已開(kāi)路損壞或靈敏度偏低。