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          基于LabVIEW的微米顆粒散射光信號(hào)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2012-05-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          圖5為級(jí)顆粒程序前面板,從圖中可以看到實(shí)時(shí)顯示的總信號(hào)(底板信號(hào)+顆粒信號(hào))圖和顆粒信號(hào)(總信號(hào)-底板信號(hào))圖,也可實(shí)時(shí)觀察到接收信號(hào)的最大值及該信號(hào)在接收環(huán)所處的位置。此外,還可以對(duì)數(shù)據(jù)采集卡的有關(guān)參數(shù)如設(shè)備編號(hào)、采樣通道、觸發(fā)沿等進(jìn)行設(shè)置。級(jí)顆粒的程序框圖如圖6所示,其中包含了光信號(hào)的采集、存儲(chǔ)、顯示和防止錯(cuò)誤退出等子程序。

          d.JPG

          4 結(jié)語

          實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,通過用 8.20編寫的采集程序可以有效地控制PCI-6220M高速數(shù)據(jù)采集卡,準(zhǔn)確地采集和存儲(chǔ)顆粒的散射光信號(hào),為今后利用這些數(shù)據(jù)進(jìn)行微納米顆粒的測量和通過反演算法計(jì)算顆粒的粒徑分布提供了可靠的依據(jù)。


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