中小功率光伏陣列I-V特性測試技術(shù)研究
3.1 測試原理及構(gòu)成
圖2示出基于動態(tài)電容充電的光伏陣列特性曲線測試儀結(jié)構(gòu)。主要包括主電路、控制最小系統(tǒng)、外部采樣電路、驅(qū)動隔離電路、保護電路等。主要技術(shù)包括設(shè)計合適的充電電容以及在充電過程中對光伏陣列輸出電壓、電流進行高速、高精度的采集。本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/194403.htm
基于動態(tài)電容充電的光伏陣列特性測試方法使用電容作為光伏陣列的負載,電容剛開始充電時,電容兩端電壓為零,光伏陣列相當(dāng)于短路;當(dāng)電容充電結(jié)束后,電容兩端電壓為光伏陣列的開路電壓,相當(dāng)于光伏陣列開路。整個測試過程為:由控制電路發(fā)出控制信號使K1閉合,光伏陣列開始對電容C充電,電容電壓從零變化到開路電壓,光伏陣列的工作點就會由短路電流處逐漸變化到開路電壓處,在此過程中進行光伏陣列輸出電壓和電流的采樣,從而得到光伏陣列在每個工作點的電壓和電流,由這些采樣點的組合就構(gòu)成了當(dāng)前環(huán)境條件下光伏陣列的I-V特性曲線。采樣結(jié)束后,斷開K1,閉合K2,對C進行放電,使電容保持零初始狀態(tài)。
3.2 充電電容的設(shè)計
電容值大小直接決定了充電時間的長短,從而決定了采樣的速率和系統(tǒng)的體積。電容越大,充電時間越長,有利于數(shù)據(jù)采樣,但系統(tǒng)體積增加;選擇較小的電容值,能夠減小系統(tǒng)體積,但電容充電時問縮短,在采樣周期不變的情況下,采樣數(shù)據(jù)點數(shù)就會減少,從而由這些點繪制的I-V特性曲線的準(zhǔn)確度就會降低。
圖3為電容充電曲線示意圖,由圖可見電容充電時間介于以曲線(1)和曲線(2)充電方式充電時間之間。
若以曲線(1)的方式給電容充電,整個充電過程電流始終為短路電流Isc。由電容特性可知電容兩端電壓u(t)與流過電容的電流i(t)的關(guān)系為:
由以上分析和實際試驗經(jīng)驗可知,電容實際充電時間約為由公式t=CUoc/Isc計算的值的3倍。系統(tǒng)中電壓測試范圍為0~1kV(Umax=1kV),電流測試范圍為0~20 A(Imax=20 A)。在整個充電過程中采樣200個點,所選擇的A/D采樣芯片兩次數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換之間的時間間隔為2μs,故轉(zhuǎn)換時間應(yīng)不低于400μs,再加上要對轉(zhuǎn)換結(jié)果進行判斷,考慮一定的安全裕量,采樣時間應(yīng)不低于10ms。
為保證小電壓大電流(Uoc1=Umax×3%=30 V,Isc1=Imax=20A)也能保證足夠的采樣時間,采樣時間應(yīng)滿足:
根據(jù)公式(6)和(7),選擇充電電容為2 mF。
3.3 放電電阻設(shè)計
為了保證不影響下一次充電測量的準(zhǔn)確性,需要在每次電容充電完成后通過放電電阻R對電容放電。R越小,放電時間越快,但R上承受的功率越大;R越大,放電時間越長,不利于系統(tǒng)工作快速性的要求。綜合實際情況,取放電時間為10s。電容電壓U與t關(guān)系為:U=Uocexp[-t/(RC)],當(dāng)t=5RC時,認為電容兩端電壓接近零。t=10s,C=2mF,解得R=1kΩ。
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