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          R&S矢量源及信號分析儀的無線系統(tǒng)仿真及設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2012-02-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          測試系統(tǒng)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/194443.htm

            對于整個(gè)而言,在完成最初的后,為了保證設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性,我們需要對各個(gè)設(shè)計(jì)階段進(jìn)行驗(yàn)證。無論從基帶和射頻的角度,還是從模擬到數(shù)字的角度來看:現(xiàn)有的測試系統(tǒng)需要相應(yīng)的接口以完成不同模塊、不同階段的測試。除此之外,由于現(xiàn)有的被測系統(tǒng)具有的多樣性特點(diǎn),測試系統(tǒng)提供的接口需要盡可能地靈活以滿足不同的被測設(shè)備。RS公司的可以提供從基帶到射頻、從模擬到數(shù)字、從單端到差分、以及從輸入到輸出的多種接口以滿足設(shè)計(jì)和測試的多方面需求。

            RS的從SMU200A到SMBV,都可以通過實(shí)時(shí)或者ARB的方式產(chǎn)生所需的測試數(shù)據(jù),同時(shí)SMU獨(dú)特的雙通道設(shè)計(jì)理念和內(nèi)置衰落模擬器功能可以方便的進(jìn)行不同的配置以滿足不同的測試需求。另外所有提供的基帶、射頻接口可以對中的不同鏈路模塊進(jìn)行測試;而基帶部分(包括基帶源AMU及AFQ系列)提供的基帶模擬和數(shù)字IQ輸入、輸出接口又可以滿足不同被測器件的需求。RS的從FSQ到FSV系列,也可以直接分析從基帶到射頻的輸入信號,通過解調(diào)選件、矢量分析選件或內(nèi)置的移動通信選件完成對不同設(shè)計(jì)階段的數(shù)據(jù)分析。另外,F(xiàn)Sx系列提供的模擬和數(shù)字IQ輸入輸出接口,不但可以對不同的模塊進(jìn)行分別測試,還可以完成相應(yīng)的數(shù)據(jù)采集功能,以方便在后續(xù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理(圖3)。

            

            圖3:矢量源SMU及FSQ。

            除此之外,對于基帶及測試所需的數(shù)字接口,由于標(biāo)準(zhǔn)和使用器件的差異性,需要滿足不同速率、不同接口形式、不同電平形式的數(shù)字接口。RS提供的EX-IQ Box可以將不同的邏輯電平形式、不同的速率、不同的接口形式轉(zhuǎn)換為RS統(tǒng)一的TVR290接口,并且支持矢量源和信號分析儀的數(shù)字IQ輸入和輸出,可以方便地和被測設(shè)備進(jìn)行連接。此外,對于最新版本的EX-IQ Box,也可以支持OBSAI和CPRI接口(圖4)。

            

            圖4:應(yīng)用于矢量源及信號分析儀的EX-IQ Box接口。

            基于矢量源與信號分析儀的及設(shè)計(jì)方案

            如前所述,為了節(jié)省整個(gè)設(shè)計(jì)周期并且盡可能的保證設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性,我們需要將仿真、設(shè)計(jì)和測試系統(tǒng)聯(lián)系起來,以達(dá)到最佳的設(shè)計(jì)效果。對應(yīng)仿真系統(tǒng)而言,它主要通過軟件進(jìn)行分析,而被測系統(tǒng)往往都是硬件設(shè)備。因此,在設(shè)計(jì)中需要將軟件和硬件有機(jī)的結(jié)合起來完成相應(yīng)的工作。而我們的測試系統(tǒng)恰恰可以作為整個(gè)軟件系統(tǒng)和硬件系統(tǒng)連接的橋梁,達(dá)到優(yōu)化設(shè)計(jì)的目的。測試系統(tǒng)及仿真系統(tǒng)的連接,可以通過GPIB或LAN口實(shí)現(xiàn)(圖5)。

            

          圖5:基于RS矢量源、信號分析儀以及VSS仿真軟件的仿真及設(shè)計(jì)方案框圖。

            圖5:基于RS矢量源、信號分析儀以及VSS仿真軟件的仿真及設(shè)計(jì)方案框圖。

            AWR公司的TestWave軟件將測試測量(TM)設(shè)備與通信系統(tǒng)和射頻/微波電路仿真軟件相整合。結(jié)合MWO和VSS仿真軟件,TestWave為和射頻/微波電路設(shè)計(jì)人員提供了一個(gè)全面整合的設(shè)計(jì)流程,它將電路圖仿真、測試信號生成與測試測量驗(yàn)證合而為一。這些功能讓設(shè)計(jì)人員能利用半實(shí)物仿真進(jìn)行計(jì)算機(jī)比較研究。在同一環(huán)境將這兩個(gè)以前脫鉤的開發(fā)階段整合,將能夠節(jié)省寶貴時(shí)間。其功能特色主要在于:連接VSS和MWO與外部測試測量設(shè)備、 全面整合設(shè)計(jì)流程,最終達(dá)到節(jié)省時(shí)間、加快產(chǎn)品上市的目的。



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