基于測量數(shù)據(jù)的電磁兼容性能參數(shù)建模的研究
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根據(jù)多個自變量的最優(yōu)組合建立回歸方程來預測因變量的回歸分析稱為多元回歸分析，其模型為：
回歸方程的顯著性檢驗，即檢驗β是否幾乎全部近似為0。如果成立，則表明使用線性模型描述是不恰當?shù)摹?br /> 其大致步驟如下：
(1)將輸入自變量作為橫坐標，輸出量即測試值作為縱坐標，描繪出測試曲線。
(2)對所描繪的曲線進行分析，確定公式的基本形式。如果數(shù)據(jù)點基本成一條直線，則可以用一元線性回歸方法確定直線坐標。如果數(shù)據(jù)點描繪的是曲線，則要根據(jù)曲線的特點判斷曲線屬于何種函數(shù)類型?？蓪Ρ纫阎臄?shù)學函數(shù)曲線加以對比、區(qū)分。如果測試曲線很難判斷屬于何種類型，則可以按多項式回歸處理。
(3)確定擬合方程中的常量?？筛鶕?jù)一系列測試數(shù)據(jù)確定方程中的常量。
(4)檢驗所確定的方程穩(wěn)定性和顯著性，用測試數(shù)據(jù)中的自變量代入擬合方程計算出函數(shù)值，看與實際測試值是否一致。差別的大小通常用標準差來表示，進行方差分析，F(xiàn)檢驗等。如果所確定的公式基本形式有錯誤，此時應建立另外形式的公式。
在進行研究分析的時候，考慮某功率放大器放大倍數(shù)的變化情況。假設(shè)經(jīng)過數(shù)據(jù)統(tǒng)計得到此功率放大器的放大倍數(shù)情況如表1所示。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/194476.htm
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