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          基于BIST的IP核測試方案
          
						
          
				作者：
				時間：2011-11-30
				來源：網(wǎng)絡(luò)
				
				
				
				
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          VHDL描述
          　　此模式選擇模塊實現(xiàn)狀態(tài)之間的切換，電路簡單，易于實現(xiàn)。
          　　5 結(jié)束語
          　　BIST為嵌入式內(nèi)核的測試提供了一個可解決的方案，其測試效果明顯，故障覆蓋率較高，實現(xiàn)簡單。通過加入測試外殼可以實現(xiàn)對IP核的訪問、隔離、控制，有效地提高了IP核的可測性。但是采用BIST會使電路面積增加額外開銷，必須在IP核的可測性和面積之間進行權(quán)衡。
          
				
            
                
			
							
          
                
			            
          
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          關(guān)鍵詞：
            			            BIST
                        IP核
                        測試方案
                        
                        
            
          
            
			
          
		
          	
		

	

          
	
	
          
		
          
			
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