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          基于PSoC的防高壓電容測(cè)量設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

          作者: 時(shí)間:2010-04-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            電容容量參數(shù)方法

            從數(shù)字化與自動(dòng)化角度來(lái)講,電容容量參數(shù)通常有三種方法:容抗法,振蕩法和充電法。

            容抗法是指利用電容對(duì)交流信號(hào)源所表現(xiàn)出的阻抗特性,通過(guò)測(cè)量電容在某一頻率下的容抗值,再利用z=1/wc(w為角頻率)關(guān)系式根據(jù)已知信號(hào)源的角頻率w計(jì)算出待測(cè)電容容量的方法。這種方法能較好地反映出電容元件交流頻率特性,可用來(lái)測(cè)量電容元件的多方面參數(shù)特性,例如容量,介質(zhì)損耗等,是當(dāng)前電容測(cè)試儀產(chǎn)品應(yīng)用最廣的一種方法。但是,它有一個(gè)缺點(diǎn):電容的充電和放電同處于一個(gè)回路之中,要做到既能保證測(cè)量精度又能防高壓設(shè)計(jì)比較困難。

            振蕩法是指利用由電阻、電容或電感無(wú)源元器件構(gòu)成的振蕩電路,通過(guò)測(cè)量振蕩信號(hào)的頻率,再利用w=1/RC或w2=/LC關(guān)系式,根據(jù)已知其它無(wú)源元器件參數(shù)值計(jì)算出待測(cè)電容容量的方法。這種方法測(cè)量精度一般比較差,而且對(duì)振蕩電路所需的元件精度與穩(wěn)定性都要求都很高,因此它主要應(yīng)用在一些精度要求不高的產(chǎn)品或領(lǐng)域里。

            充電法是指利用恒流源對(duì)待測(cè)電容進(jìn)行充電,通過(guò)測(cè)量電容電壓達(dá)到參考電壓所需的時(shí)間,再利用i=c×dUc/dt關(guān)系式算出待測(cè)電容容量的方法,如圖2所示。由于電流i是恒流源,所以i=c×dUc/dt可以演變?yōu)閏=i×St/Su關(guān)系式,這樣電容容量c與充電時(shí)間就有嚴(yán)格的線性比例關(guān)系。測(cè)量時(shí)只要將最終的計(jì)數(shù)結(jié)果讀出來(lái)并進(jìn)行一定的換算就可知道待測(cè)電容的容量值。

          充電法測(cè)量電路圖


            圖2 充電法測(cè)量電路圖

            相比容抗與振蕩測(cè)量方法相比,這種方法具有如下一些特點(diǎn):一、放電回路與充電回路可以分開(kāi)。如圖2所示,電容充滿(mǎn)電后,控制器的放電控制信號(hào)置高,N溝道場(chǎng)管導(dǎo)通,CX上的電荷即通過(guò)放電電阻R,場(chǎng)管的源漏極對(duì)地實(shí)現(xiàn)泄放。這種充放電回路分開(kāi)的拓樸結(jié)構(gòu)對(duì)防高壓設(shè)計(jì)是非常有好處的。因?yàn)槲⒖刂破骰蛲獠坑布娐芬坏z測(cè)到待測(cè)電容上存在高壓電荷,放電回路就可以打開(kāi),實(shí)現(xiàn)電容的高壓電荷泄放之后再測(cè)量,從而對(duì)由集成電路構(gòu)成的高精度測(cè)量充電電路元件實(shí)行保護(hù)。二、成本低,精度高。如圖2所示,充電測(cè)量電路主要由計(jì)數(shù)器,比較器和恒流源組成,放電測(cè)量電路由一個(gè)電阻和NMOS管構(gòu)成,這種電路結(jié)構(gòu)可使得除了放電電阻和NMOS管不易集成到常用的單芯片系統(tǒng)之外,其它部分都可以集成進(jìn)去,從而確保整個(gè)電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,外圍元器件少。如果系統(tǒng)時(shí)鐘頻率加快,計(jì)數(shù)器的位數(shù)增加,將可以保證整個(gè)電容測(cè)量電路寬量程,高精度。三、這種電路主要適用于電容容量參數(shù),其它方面的參數(shù)測(cè)量實(shí)現(xiàn)起來(lái)是比較困難的;同時(shí)如上所述,這種測(cè)量電路需要一個(gè)比較穩(wěn)定的恒流源,而且為了實(shí)現(xiàn)寬量程,高精度的電容測(cè)量功能,這個(gè)恒流源還要求具有可編程性,范圍寬,以實(shí)現(xiàn)在小電容時(shí)使用恒定的小電流信號(hào)測(cè)量來(lái)確保測(cè)量精度,而大電容使用恒定的大電流信號(hào)測(cè)量來(lái)確保測(cè)量速度的要求。

            根據(jù)上面所述的充電法電容參數(shù)測(cè)量特點(diǎn),如果需要設(shè)計(jì)一款只測(cè)電容容量參數(shù),而且能防高壓的電容測(cè)試系統(tǒng),那么問(wèn)題的關(guān)鍵就集中到一點(diǎn):具有一個(gè)大范圍,高精準(zhǔn),可編程的恒流源。事實(shí)上,我們?cè)谏厦娼榻B時(shí)已經(jīng)提到了,都具有可實(shí)現(xiàn)充電法測(cè)量電路所需的比較器,計(jì)數(shù)器之外的可編程模擬和數(shù)字模塊之外,還具有可編程恒流源(IDAC)硬件資源。因此,基于來(lái)實(shí)現(xiàn)一個(gè)耐高壓,寬量程,高精度,低成本的電容容量測(cè)試系統(tǒng)會(huì)是一件很容易做到的事情。

            基于PSoC的防容量測(cè)量方案實(shí)現(xiàn)

            根據(jù)我們上面對(duì)基于PSoC的防容量測(cè)量方案的可行性,實(shí)現(xiàn)拓樸以及PSoC 內(nèi)部架構(gòu)的闡述,我們可以知道要實(shí)現(xiàn)這一方案需要做如下幾部分設(shè)計(jì):防高壓測(cè)量外圍電路設(shè)計(jì),PSoC模塊配置設(shè)計(jì)和測(cè)量軟件設(shè)計(jì)。下面我們將對(duì)其分別進(jìn)行介紹。



          關(guān)鍵詞: PSoC 高壓電容 測(cè)量

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