AD5933阻抗測量芯片原理及其應(yīng)用
3阻抗測量過程實(shí)現(xiàn)
3.1AD5933測量阻抗模值計(jì)算
上面已經(jīng)提到在頻率掃描過程中,各個頻率點(diǎn)上都可以得到實(shí)部值R和虛部值I兩個值,通過它們可以計(jì)算傅立葉變換之后的模值,模值=。計(jì)算之前先把實(shí)部和虛部值用十進(jìn)制表示。但這只是傅立葉變換后的結(jié)果,要想得到阻抗的實(shí)際值必須乘以一個校準(zhǔn)系數(shù),這里稱這個系數(shù)為增益系數(shù)。
下面給出一個計(jì)算增益系數(shù)的例子。當(dāng)輸出電壓范圍為2V,標(biāo)定電阻為200kΩ,可編程放大器設(shè)置為1,電流電壓轉(zhuǎn)換放大器增益電阻為200 kΩ,激勵頻率為30kHz,在這個頻率點(diǎn)上得到的實(shí)部和虛部值分別為F064、227E,轉(zhuǎn)換為十進(jìn)制分別為-3996、8830,則傅立葉變換后的模值=,則增益系數(shù)為標(biāo)定電阻的倒數(shù)除以計(jì)算得到的模值,即(1/200kΩ)/9692.106=515.819E-12。
下面再給出一個已知增益系數(shù)、被測電阻的實(shí)部和虛部值計(jì)算被測電阻阻值的例子。假設(shè)被測電阻為510kΩ,激勵頻率為30kHz,測量得到的實(shí)部和虛部值分別為-1473和3507,則計(jì)算得到的模值為3802.863。電阻值=1/(增益系數(shù)×模值)=1/(515.819E-12×3802.863) =509.791kΩ。
對于不同的測量頻率點(diǎn)增益系數(shù)是不同的,所以在不同的頻率點(diǎn)上要分別計(jì)算增益系數(shù)。
在測量過程中可以通過限制電阻的測量范圍來優(yōu)化測量性能。表4給出6個不同的阻抗范圍作為參考,它們所選擇的輸出電壓范圍均為2V,可編程增益放大器設(shè)置為1。
表4測量阻抗范圍設(shè)定
3.2相角計(jì)算及校準(zhǔn)
在阻抗測量過程中不僅僅要關(guān)注電阻的模值,還要知道相角的大小,相角值=。和模值一樣相角也要進(jìn)行校準(zhǔn)。首先對標(biāo)定電阻進(jìn)行測量,得到標(biāo)定電阻的相角,測量電阻的實(shí)際相角等于測量計(jì)算得到的值減去標(biāo)定電阻的相角值。值得注意的是測量時(shí)通過得到的相角是在-90º到+90º之間的,所以要根據(jù)R和I所決定的象限來把相角變換到所在象限內(nèi)。如果R0,I>0則說明在第二象限,所以計(jì)算時(shí)要把相角加上180º;如果R0,I0則是在第三象限,計(jì)算時(shí)要把相角減去180 º。
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3.1AD5933測量阻抗模值計(jì)算
上面已經(jīng)提到在頻率掃描過程中,各個頻率點(diǎn)上都可以得到實(shí)部值R和虛部值I兩個值,通過它們可以計(jì)算傅立葉變換之后的模值,模值=。計(jì)算之前先把實(shí)部和虛部值用十進(jìn)制表示。但這只是傅立葉變換后的結(jié)果,要想得到阻抗的實(shí)際值必須乘以一個校準(zhǔn)系數(shù),這里稱這個系數(shù)為增益系數(shù)。
下面給出一個計(jì)算增益系數(shù)的例子。當(dāng)輸出電壓范圍為2V,標(biāo)定電阻為200kΩ,可編程放大器設(shè)置為1,電流電壓轉(zhuǎn)換放大器增益電阻為200 kΩ,激勵頻率為30kHz,在這個頻率點(diǎn)上得到的實(shí)部和虛部值分別為F064、227E,轉(zhuǎn)換為十進(jìn)制分別為-3996、8830,則傅立葉變換后的模值=,則增益系數(shù)為標(biāo)定電阻的倒數(shù)除以計(jì)算得到的模值,即(1/200kΩ)/9692.106=515.819E-12。
下面再給出一個已知增益系數(shù)、被測電阻的實(shí)部和虛部值計(jì)算被測電阻阻值的例子。假設(shè)被測電阻為510kΩ,激勵頻率為30kHz,測量得到的實(shí)部和虛部值分別為-1473和3507,則計(jì)算得到的模值為3802.863。電阻值=1/(增益系數(shù)×模值)=1/(515.819E-12×3802.863) =509.791kΩ。
對于不同的測量頻率點(diǎn)增益系數(shù)是不同的,所以在不同的頻率點(diǎn)上要分別計(jì)算增益系數(shù)。
在測量過程中可以通過限制電阻的測量范圍來優(yōu)化測量性能。表4給出6個不同的阻抗范圍作為參考,它們所選擇的輸出電壓范圍均為2V,可編程增益放大器設(shè)置為1。
表4測量阻抗范圍設(shè)定
3.2相角計(jì)算及校準(zhǔn)
在阻抗測量過程中不僅僅要關(guān)注電阻的模值,還要知道相角的大小,相角值=。和模值一樣相角也要進(jìn)行校準(zhǔn)。首先對標(biāo)定電阻進(jìn)行測量,得到標(biāo)定電阻的相角,測量電阻的實(shí)際相角等于測量計(jì)算得到的值減去標(biāo)定電阻的相角值。值得注意的是測量時(shí)通過得到的相角是在-90º到+90º之間的,所以要根據(jù)R和I所決定的象限來把相角變換到所在象限內(nèi)。如果R0,I>0則說明在第二象限,所以計(jì)算時(shí)要把相角加上180º;如果R0,I0則是在第三象限,計(jì)算時(shí)要把相角減去180 º。
4單片機(jī)控制的阻抗測量系統(tǒng)
本文設(shè)計(jì)了一個用單片機(jī)控制AD5933實(shí)現(xiàn)阻抗測量的系統(tǒng)。單片機(jī)選擇的ADI公司的ADμC848。單片機(jī)和AD5933通過 串口實(shí)現(xiàn)通訊,單片機(jī)控制對AD5933的工作模式設(shè)置,控制測量過程,讀取測量結(jié)果,并通過串口傳輸?shù)絇C機(jī)。
4.1 硬件電路
系統(tǒng)采用電池供電,又MAX603實(shí)現(xiàn)把四節(jié)1.5V電池串聯(lián)后的電壓變到5V。在AD5933
的RFB和VIN之間接入電流電壓轉(zhuǎn)換電阻,這個電阻的值是可以按照上面提到的設(shè)置測量電阻的范圍的方法來設(shè)定的。在VIN和VOUT之間接入的是被測電阻,測量之前先大致估計(jì)一下測量電阻的范圍,然后來選擇相應(yīng)電流電壓轉(zhuǎn)換電阻的大小。在測量被測電阻之前,首先要用已知阻值的電阻進(jìn)行標(biāo)定,得到模值和相角的基準(zhǔn)。單片機(jī)把從AD5933讀到的阻抗測量結(jié)果的實(shí)部和虛部通過串口傳到上位機(jī),又上位機(jī)根據(jù)上面提到的公式,計(jì)算得到阻抗值。圖2中給出了電路連接的原理圖。
圖2系統(tǒng)硬件電路圖
4.2 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
圖3中給出了系統(tǒng)測量的軟件流程圖。這是完成單個阻抗測量的過程。測量后得到的
實(shí)部和虛部結(jié)果都是十六進(jìn)制表示。用單片機(jī)傳輸?shù)缴衔粰C(jī)后進(jìn)行后續(xù)的處理。每個頻率點(diǎn)上都要首先對標(biāo)定電阻進(jìn)行測量和計(jì)算,然后再以此為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算被測電阻。
圖3系統(tǒng)軟件流程
5小結(jié)
本文介紹了阻抗測量芯片AD5933,它是一款可以實(shí)現(xiàn)精確測量的高集成度的芯片,大大簡化了測量系統(tǒng)的電路和數(shù)據(jù)處理過程。本文對其性能、參數(shù)設(shè)置和具體測量實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了較為詳細(xì)的介紹,并設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了單片機(jī)系統(tǒng)對其控制。為阻抗測量提供了一個比較方便、使用的解決方案。
本文設(shè)計(jì)了一個用單片機(jī)控制AD5933實(shí)現(xiàn)阻抗測量的系統(tǒng)。單片機(jī)選擇的ADI公司的ADμC848。單片機(jī)和AD5933通過 串口實(shí)現(xiàn)通訊,單片機(jī)控制對AD5933的工作模式設(shè)置,控制測量過程,讀取測量結(jié)果,并通過串口傳輸?shù)絇C機(jī)。
4.1 硬件電路
系統(tǒng)采用電池供電,又MAX603實(shí)現(xiàn)把四節(jié)1.5V電池串聯(lián)后的電壓變到5V。在AD5933
的RFB和VIN之間接入電流電壓轉(zhuǎn)換電阻,這個電阻的值是可以按照上面提到的設(shè)置測量電阻的范圍的方法來設(shè)定的。在VIN和VOUT之間接入的是被測電阻,測量之前先大致估計(jì)一下測量電阻的范圍,然后來選擇相應(yīng)電流電壓轉(zhuǎn)換電阻的大小。在測量被測電阻之前,首先要用已知阻值的電阻進(jìn)行標(biāo)定,得到模值和相角的基準(zhǔn)。單片機(jī)把從AD5933讀到的阻抗測量結(jié)果的實(shí)部和虛部通過串口傳到上位機(jī),又上位機(jī)根據(jù)上面提到的公式,計(jì)算得到阻抗值。圖2中給出了電路連接的原理圖。
圖2系統(tǒng)硬件電路圖
4.2 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
圖3中給出了系統(tǒng)測量的軟件流程圖。這是完成單個阻抗測量的過程。測量后得到的
實(shí)部和虛部結(jié)果都是十六進(jìn)制表示。用單片機(jī)傳輸?shù)缴衔粰C(jī)后進(jìn)行后續(xù)的處理。每個頻率點(diǎn)上都要首先對標(biāo)定電阻進(jìn)行測量和計(jì)算,然后再以此為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算被測電阻。
圖3系統(tǒng)軟件流程
5小結(jié)
本文介紹了阻抗測量芯片AD5933,它是一款可以實(shí)現(xiàn)精確測量的高集成度的芯片,大大簡化了測量系統(tǒng)的電路和數(shù)據(jù)處理過程。本文對其性能、參數(shù)設(shè)置和具體測量實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了較為詳細(xì)的介紹,并設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了單片機(jī)系統(tǒng)對其控制。為阻抗測量提供了一個比較方便、使用的解決方案。
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