汽車輪胎壓力傳感器芯片應(yīng)用研究
數(shù)學(xué)模型與分析
半徑為R的同平膜片的中心最大撓度為:
而中心島半徑ro與全膜半徑R的比值為C的單島膜中心最大撓度為:
當(dāng)C值為0.5時(shí)(常用設(shè)計(jì))、單島膜結(jié)構(gòu)中心最大位移僅為平膜的四分之一。
當(dāng)E型膜片的大膜內(nèi)切半徑為R,硬心島外切半徑為ro時(shí),其薄膜上表面的徑向和切向應(yīng)力為:
在處和r=R處,和取得最大值,其值大小相等,符號相反,即
,
是平膜邊緣應(yīng)力的倍。
從式中看出,應(yīng)力和均近似對稱,當(dāng)C=0.5時(shí),這種對稱性更好,的對稱點(diǎn),即=0點(diǎn)在r≈0.76R處,但=0的點(diǎn)卻在r≈0.85R處,因此采用這種方案時(shí)電阻徑向分布尺寸不宜超過1/10R.
實(shí)現(xiàn)工藝要點(diǎn)
工藝版圖設(shè)計(jì)
當(dāng)加大并加厚芯片尺寸,可實(shí)現(xiàn)芯片量程拓展,芯片為一個(gè)固邊固支的方形平膜片,具有3~10倍的過載能力,圖3為按不同量程設(shè)計(jì)的芯片工藝版圖。
圖3 按不同量程設(shè)計(jì)的芯片工藝版圖
主要解決的工藝技術(shù)問題:
?、俑哔|(zhì)量的硅-硅真空鍵合工藝;
?、诰鶆蚝透吆细衤实臏p薄工藝;
?、鄹邷?zhǔn)確度高均勻的摻雜一致性及細(xì)長電阻條一致性控制以確保傳感器的低溫度漂移;
?、軆?nèi)應(yīng)力匹配消除技術(shù)以確保傳感器的時(shí)間穩(wěn)定性;
⑤相應(yīng)的抗電磁干擾設(shè)計(jì);
?、薹庋b設(shè)計(jì)與工藝中的抗高振動及離心加速度措施;
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