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          利用熱分析預(yù)測IC的瞬態(tài)效應(yīng)并避免過熱

          作者: 時間:2010-01-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            我們可利用以上得出的方程式和線性LED驅(qū)動器(例如MAX16828/MAX16815)驗證RC仿真模型的實際應(yīng)用。這些芯片工作在最高40V電壓,幾乎不需要外部元件,MAX16828能夠為一串LED供電,最大電流可達200mA (圖6)。MAX16815與MAX16828引腳兼容,功能相似,但最大輸出電流可達100mA,而非200mA。兩款LED驅(qū)動器都適合于汽車應(yīng)用,例如,用于側(cè)燈、汽車尾燈、背光和指示燈。如果內(nèi)部MOSFET需要承受較大電流,而且具有較大壓差時,MAX16828將需要耗散相當(dāng)可觀的熱量(LED串的正向電壓較低時,MOSFET會發(fā)生這種情況)。RSENSE兩端的電壓調(diào)節(jié)在200mV ±3.5%,該電阻用于設(shè)置LED電流。芯片的DIM輸入為LED提供較寬范圍的PWM調(diào)光,因為它能夠承受高壓,可以直接將其連接到IN引腳。為了直接顯示管芯溫度,我們對連接在DIM和IN引腳之間內(nèi)部ESD二極管的正向偏壓進行測量。該二極管偏置在大約100μA,其正向電壓變化率為2mV/°K (這點可通過溫控爐對器件加熱進行驗證),實驗設(shè)置如圖7所示。5V電源和56kΩ電阻提供100μA偏置電流,為ESD二極管提供正向偏置。驅(qū)動器設(shè)置為可向LED提供200mA的輸出電流。MAX16815/MAX16828 HBLED驅(qū)動器的典型應(yīng)用電路


          圖6. MAX16815/MAX16828 HBLED驅(qū)動器的典型應(yīng)用電路。
          圖中所示測試裝置采用片上ESD二極管測量管芯的瞬時溫度
          圖7. 圖中所示測試裝置采用片上ESD二極管測量管芯的瞬時溫度。*EP表示裸焊盤。

            這種狀態(tài)下,元件承載大量電流,ESD二極管測量處于測量通路。因此,由于焊接線和內(nèi)部金屬電阻的影響,會產(chǎn)生一定誤差。根據(jù)內(nèi)部布局和焊接線長度計算,估計最差情況下的寄生電阻為50mΩ。200mA下,該寄生電阻會在二極管讀數(shù)上產(chǎn)生大約±10mV (最大)的誤差,對應(yīng)的溫度測量精度誤差大于±5°C。此外,管芯ESD二極管放置在靠近片上功率MOSFET和熱保護電路處。這種配置可使二極管更準(zhǔn)確地表示該區(qū)域的溫度。

            系統(tǒng)定義1

            接下來的部分介紹如何利用測試裝置,采集代表瞬時熱特性的二極管電壓,用于上述式7和式21的系統(tǒng)定義方程式。為了計算kA和θJA (代入式11),采用熱風(fēng)槍加熱芯片。因為我們并不希望芯片內(nèi)部產(chǎn)生熱量,所以將芯片斷電。利用熱風(fēng)槍加熱元件會使封裝、管芯的溫度上升。可利用示波器測量二極管的電壓,以監(jiān)測管芯的溫度變化(圖 8)。

            當(dāng)芯片加熱時,二極管電壓按照指數(shù)規(guī)律迅速下降,與公式預(yù)測結(jié)果一致。接近曲線中間位置時,關(guān)閉熱槍,使封裝和管芯開始冷卻。二極管電壓又按照指數(shù)規(guī)律上升。我們并不確切知道有多少熱量從熱風(fēng)槍傳遞到芯片。因此,為了消除該未知數(shù),我們首先將式28調(diào)整為僅擬合曲線(圖8)的上升部分(冷卻)。這種曲線擬合使我們能夠估算kA的最佳值。冷卻期間沒有熱功率傳遞至封裝,封裝僅僅進行冷卻,P = 0。因此,式28可簡化為:

          式28可簡化為(式34)

            我們已知VDA (室溫下的初始測量值為643mV)和VDi (t = 0時的參考讀數(shù))值。為了確定KA,我們必須調(diào)整方程式,使其包括上升曲線的一對讀數(shù),將得到kA = -0.0175。圖9所示為采用上述kA值時的讀數(shù)(二極管電壓單位為mV,與以秒為單位的時間的對應(yīng)關(guān)系)和式34的波形。

           該二極管電壓瞬態(tài)值包括表示外部熱風(fēng)槍加熱(下降曲線)和移開熱風(fēng)槍后冷卻(上升曲線)的指數(shù)曲線
          圖8. 該二極管電壓值包括表示外部熱風(fēng)槍加熱(下降曲線)和移開熱風(fēng)槍后冷卻(上升曲線)的指數(shù)曲線。式34



          圖9. 式34,擬合至一對二極管電壓測量值,非常接近芯片經(jīng)過熱風(fēng)槍加熱后再冷卻的二極管測量值。

          正如我們在圖9中看到的那樣,式34與kA = -0.0175時的測量數(shù)據(jù)非常接近。為了驗證我們公式的正確性,我們嘗試利用針對kA測定的值擬合公式28的下降曲線,方程式精確擬合(圖10)。因此,我們看到針對系統(tǒng)定義1所討論系統(tǒng)的式34與實驗數(shù)據(jù)非常接近。

            系統(tǒng)定義2

            驗證系統(tǒng)2的式30、式31和式32更加困難。必須在管芯產(chǎn)生熱量,利用二極管正向電壓測量管芯溫度,并將溫度值與提出的RC網(wǎng)絡(luò)的C1電壓仿真數(shù)據(jù)進行擬合。這項工作可利用MATLAB編程實現(xiàn)。在已知整個芯片初始溫度的情況下,記錄不同時間的熱特性非常重要。按照這種方式,我們還可以求解RC網(wǎng)絡(luò)的初始電容電壓。利用相同的測試裝置(參見圖7),接通電流通道并在示波器上采集二極管電壓(圖11)。



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