三星3D垂直NAND閃存量產(chǎn) SSD容量可輕松提升
韓國三星公司剛剛宣布旗下的最新一代采用3D垂直閃存(V-NAND)的固態(tài)硬盤驅(qū)動器已經(jīng)開始進行量產(chǎn)。最新的3D垂直閃存與傳統(tǒng)的NAND存儲芯片相比,具有包括讀寫速度快1倍、使用壽命多10倍及能耗減少50%等眾多優(yōu)勢。雖然目前3D芯片所能提供的存儲密度仍與傳統(tǒng)的2D芯片結(jié)構相同,但是當在2D結(jié)構發(fā)展停滯時,完全可以依靠3D結(jié)構就能提供更多數(shù)量級的額外存儲密度。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201609/303934.htm閃存技術可以說是21世紀以來最偉大的奇跡故事之一。雖然早在1980年就已經(jīng)問世,但是在十多年之后才被正式投放到市場中,當時的閃存存儲密度只有 20MB?,F(xiàn)在經(jīng)過了20多年的發(fā)展,閃存技術已經(jīng)多次提升甚至超越了摩爾定律的限制,容量已經(jīng)達到了最初時的3萬多倍。
最新的NAND閃存采用了10納米的的光刻工藝,并且開始遇到一些物理上的麻煩。一個NAND閃存,就是一個浮柵晶體管(floating-gate transistor),而一個絕緣柵層能夠存儲電荷很長的時間。而存儲器的讀取,則是通過門控脈沖測量設備通道的導通性來實現(xiàn)的。如果沒有存儲電荷,存儲單元就會給出一個響應;而如果存儲了電荷,它就不會給出響應,從而允許非破壞性地數(shù)據(jù)讀取。但在制造較小尺寸的NAND閃存方面,至少面臨著兩種困難。首先,每個門只持有少數(shù)的電子,因此會導致其狀態(tài)很難被區(qū)分。其次,控制電極是如此之小(緊密),以至于分布其上的存儲單元會受到影響,最終導致不可靠的數(shù)據(jù)讀寫。
而3D V-NAND閃存的幾何學就是,通過在垂直方向?qū)で罂臻g,來彌補這個問題。第一個變化就是捕獲電荷陷阱的閃存幾何學,由AMD公司在2002年首創(chuàng)。在一個閃存單元的電荷陷阱內(nèi),存儲的電荷并不在浮柵上,而是處于一個嵌入式的氮化硅薄膜上。這種薄膜具有更強的抗點缺陷能力。它也可以被做得很厚,存儲更多的電子,從而對少量的電子損失不那么敏感。
第二個變化,就是把一個平面的電荷陷阱單元,做成圓柱形(如上圖所示)。增長的一大排V-NAND單元(本例中為1 vertical stack / 8cell)開始形成一個交變堆棧,導電(摻雜)了多晶硅曾(紅色區(qū)域)和中空的二氧化硅層(藍色區(qū)域)。
下一步則是腐蝕或形成一個通過這些曾的圓柱形孔。在實踐中,一個128Gbit的24層V-NAND芯片,其存儲單元的形成需要29億個這樣的孔。然后沉積出一個二氧化硅的保形層,罩住這些孔的內(nèi)表面;隨之是一個類似的氮化硅層,以及第二個二氧化硅層。氮化硅是電荷俘獲層,二氧化硅層則是門和隧道介質(zhì)。最后,孔的中心會被填滿導電的摻雜多晶硅,以形成存儲cell的通道。
三星公司現(xiàn)在已經(jīng)開始為企業(yè)級用戶提供V-NAND固態(tài)硬盤的少部分產(chǎn)品,兩種容量分別為480GB及960GB,在寫入速度上已經(jīng)比該公司早期的 SM843T型980GB固態(tài)硬盤提升了20%,而另一方面在功耗上則減少了40%。更重要的是,最新的3D垂直式存儲驅(qū)動的使用耐久度已經(jīng)達到了 SM843T的10倍有余,而能夠滿足上一代SSD固態(tài)硬盤所無法應對的新類型應用,完全實現(xiàn)之前從來不可能實現(xiàn)的目標。不過目前依然還沒有任何全新3D 垂直面向大眾消費市場的上市時間及價格消息。
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