應用材料公司為10nm以下推出三項工藝
應用材料公司,總部位于美國硅谷。近日該公司在京舉辦媒體說明會,推出了三款面向10nm以下的工藝/系統(tǒng)。下面,請隨著電子產(chǎn)品世界編輯一起,走進應用材料公司及下一代半導體制造的世界。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201611/340679.htm應用材料公司一覽
“應用材料公司的核心競爭力是材料工程的解決方案?!睉貌牧现袊臼紫夹g(shù)官趙甘鳴博士娓娓道來:“應用材料公司的特點是產(chǎn)品線多,可提供模塊集成工藝的提升。另外,全球員工近1.5萬人,2015財年營業(yè)額約97億美元?!倍鶕?jù)說明會后發(fā)布的應用材料公司最新財報,2016該公司財年凈銷售額已達108.3億美元,同比增長12%。
下圖為應用材料公司位于美國硅谷的梅丹技術(shù)中心,該中心包含一套完整的300mm晶圓制造設備先進實驗室。
應用材料公司的業(yè)務部門包括半導體產(chǎn)品事業(yè)部、全球服務產(chǎn)品事業(yè)部、顯示產(chǎn)品與鄰近市場事業(yè)部。據(jù)統(tǒng)計,應用材料公司半導體設備在全球市場占有率第一,下一步互聯(lián)、圖案化、封裝、檢測等是其主攻方向。在工藝方面,在沉積、熱處理方面技術(shù)投入很大,機臺是多腔體的平臺架構(gòu),在各個界面已開發(fā)出原子量級的精準度。
追溯晶圓設備支出的驅(qū)動因素,來自于應用端的移動與社交媒體。原來芯片的特征尺寸縮小靠光刻機,現(xiàn)在幾乎到了盡頭,主攻結(jié)構(gòu)的改變,例如3D,圖案化等。摩爾定律還會走下去,但是形式會改變,一方面是3D,double patterning(雙重曝光,屬于圖案化)等;另一方面是28、22、14nm等往前演進時,帶來了材料的革命?!斑@對應用材料公司是好事,因為這是我們的專長所在。從高k到銅互聯(lián)等的材料工程解決方案,應用材料公司都十分積極。”
中國是全球最大的半導體市場,根據(jù)已經(jīng)公布的各項信息,未來5年中國的WFE(晶圓設備支出)資本支出約200~300億美元,約有13條新代工廠和主要內(nèi)存生產(chǎn)線。應用材料公司已深耕中國市場32年,擁有一支強大的專業(yè)團隊。
1nm電子束檢測設備PROVisionTM:分辨率高、速度快
接下來,應用材料中國公司資深工藝經(jīng)理李文勝登場,他介紹了應用材料公司的下一代電子束設備檢測設備PROVisionTM,特點之一是分辨率高(1nm,通常是3nm),速度提高到3倍。通常,分辨率高時,必須通過的電流密度低,因此檢測速度慢,應用材料公司的方法是高電流密度時也可檢測。另一特點是FinFET由于是三維的,深溝道里不容易檢測到粘連等問題,PROVisionTM解決了此問題。
利用縫隙抑制型鎢填充接觸區(qū)工藝來提高良率
對于這個題目,應用材料中國公司資深工藝工程師吳桂龍用了自行車的比喻來解釋。要想自行車速度提升,一是減少阻力,再者是加大動力。但是為何有時汽車還沒自行車快?因為還要考慮路上的行人和紅綠燈等影響因素。吳桂龍講解道:受此啟發(fā),電阻和良率影響了器件性能。 在10nm及以下,電阻影響突出,對手機等電子產(chǎn)品的性能影響大。再看看自行車,從鋼到碳材料越來越輕,可使速度越來越快。在自行車比賽中,一輛車倒下,可能引發(fā)一大片車倒下。同理,一個單元失效,會引起整個芯片失效。而現(xiàn)在芯片的革命是密度越來越高,這個問題很突出。Endura@ VoltaTM CVD W(化學氣相沉積 鎢)可有效降低鎢薄膜的電阻,Centura@ iSprintTM ALD/CVD SSW(化學氣相沉積 縫隙抑制型鎢填充工藝)可大大提高良率。
選擇性材料技術(shù)帶來蝕刻工藝新突破
在談及半導體行業(yè)發(fā)展趨勢時,英特爾、三星、美光等公司均談到了材料在半導體制造中的重要性,因此由材料驅(qū)動的尺寸縮小便扮演了推動摩爾定律發(fā)展的關(guān)鍵。而應用材料公司在蝕刻工藝上帶來了突破性的產(chǎn)品。
蝕刻,筆者理解,就像雕刻一樣,但不是用刀,而是用化學腐蝕的方法,把沒用的半導體材料去除。在10nm工藝時,要蝕刻出數(shù)以億計的3D晶體管,想想這就頭大。
趙甘鳴博士介紹了選擇性材料技術(shù)帶來蝕刻工藝的突破。傳統(tǒng)有干法蝕刻和濕法蝕刻,應用材料公司有新的選擇性蝕刻工具SelectraTM系統(tǒng),應用范圍廣,可用于double patterning/multi-patterning、FinFET等。對于FinFET,因為SelectraTM的方法是氣態(tài)的,不是液態(tài)的,蝕刻可以更精準,而且氣體比液體更環(huán)保。對于下一代的GAA結(jié)構(gòu),3D NAND器件希望所有的蝕刻一樣,即側(cè)向均勻,過去對待單元不均勻通常需要用軟件修正,現(xiàn)在SelectraTM系統(tǒng)可一次搞定。但SelectraTM的弱點是速度較慢,因為要原子一層層剝離,像剝洋蔥一樣。
小結(jié)
摩爾定律將繼續(xù)演進,但形式正發(fā)生變化,從注重特征尺寸的縮小,正轉(zhuǎn)變到關(guān)注材料和結(jié)構(gòu)等創(chuàng)新,這也給應用材料公司帶來了機會。為了迎接10nm以下的挑戰(zhàn),應用材料公司推出了三個法寶:1nm電子束檢測設備 - ProVisionTM,分辨率提高3倍、速度提升3倍;利用縫隙抑制型鎢填充接觸區(qū)工藝來降低良率 - Endura@ VoltaTM CVD W以及Centura@ iSprintTM ALD/CVD SSW;以突破性的蝕刻技術(shù)實現(xiàn)原子級的蝕刻精準性 - Producer@ SelectraTM。
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