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基于FPGA實現(xiàn)感性元件電阻測試

作者：時間：2017-01-09 來源：網(wǎng)絡

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圖4、通過定點設計模型生成FPGA代碼

4、測試驗證

圖5、感性電阻測試FPGA代碼

圖6、未進行降采樣濾波電阻測試效果

如圖6所示，起始跳變是由于線圈充電瞬間造成的，但是由于未進行由于線圈感應電動勢影響所以電阻變化較大，如圖7細化觀察。

圖7、電阻變化較大

通過降采樣濾波算法，濾除由于電流不穩(wěn)定造成的感性線圈產(chǎn)生電動勢導致的電阻波動誤差，如圖8所示，感應線圈電阻測試穩(wěn)定，通過與6位半DMM比較，結(jié)果一致。

圖8、通過降采樣濾波后的電阻測試

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