測(cè)試LTE從哪里開(kāi)始？

　　生產(chǎn)中的基本假設(shè)必須是，工程部門(mén)交付的設(shè)計(jì)能夠滿足客戶的所有需求并且在正確組裝以后能夠?qū)崿F(xiàn)一致的功能。盡管支持這一假設(shè)會(huì)為設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)及其流程增加負(fù)擔(dān)，但如果沒(méi)有這一保證，對(duì)于當(dāng)今極其復(fù)雜的設(shè)備，測(cè)試范圍將會(huì)過(guò)大而無(wú)法檢查出所有的可能性。生產(chǎn)車(chē)間不是檢驗(yàn)數(shù)百萬(wàn)固件生產(chǎn)線或是檢驗(yàn)與數(shù)百萬(wàn)門(mén)級(jí)數(shù)字信號(hào)處理（DSP）/專(zhuān)用集成電路（ASIC）設(shè)計(jì)相關(guān)的硬件功能的地方。

　　生產(chǎn)測(cè)試的主要目標(biāo)是測(cè)試盡可能多的移動(dòng)設(shè)備，發(fā)現(xiàn)制造缺陷，同時(shí)最大程度地縮短測(cè)試時(shí)間。軟件和數(shù)字設(shè)計(jì)已在工程和一致性測(cè)試中經(jīng)過(guò)了驗(yàn)證。數(shù)字集成電路在其生產(chǎn)過(guò)程中已進(jìn)行了廣泛測(cè)試。一旦出現(xiàn)數(shù)字故障，通常會(huì)導(dǎo)致手機(jī)出現(xiàn)無(wú)法開(kāi)機(jī)、不能產(chǎn)生輸出或不能接收信號(hào)等災(zāi)難性后果。這些故障通常最好是在根本沒(méi)有任何測(cè)試儀介入的情況下，通過(guò)內(nèi)部上電測(cè)試這樣的簡(jiǎn)單技術(shù)和通過(guò)使用校驗(yàn)和來(lái)發(fā)現(xiàn)。因此，最優(yōu)的生產(chǎn)測(cè)試注重于物理層測(cè)量，該領(lǐng)域展現(xiàn)了與制造過(guò)程相關(guān)的最大程度的可變性。

　　以下各節(jié)討論了LTE的測(cè)試以及如何對(duì)物理層測(cè)試儀（如LitePoint公司的Iqxstream，見(jiàn)圖）的測(cè)試進(jìn)行優(yōu)化。

　　物理層測(cè)量

　　物理層測(cè)試關(guān)注空中接口的最底層。其目標(biāo)是確定成功傳輸無(wú)線信號(hào)必不可少的重要參數(shù)的一致性。發(fā)射功率、發(fā)射波形質(zhì)量和發(fā)射頻率精度對(duì)移動(dòng)電臺(tái)的性能都至關(guān)重要。在接收端，移動(dòng)設(shè)備在最低和最高信號(hào)電平成功解碼所接收信號(hào)的能力，是其在網(wǎng)絡(luò)中成功操作的關(guān)鍵。

　　LTE的3GPP測(cè)試規(guī)范包含大量不同的測(cè)試手段，用來(lái)確定LTE規(guī)范的符合性。這些測(cè)試中有很多存在一定程度的重疊。鑒于數(shù)字域內(nèi)的實(shí)現(xiàn)程度，在一臺(tái)移動(dòng)設(shè)備和另一臺(tái)之間的很多測(cè)量不會(huì)有所差異。一般認(rèn)為用戶設(shè)備（UE）發(fā)送器（表1）測(cè)試足以檢測(cè)到生產(chǎn)環(huán)境中的問(wèn)題。

表1：UE發(fā)送器測(cè)量指標(biāo)

　　在很大程度上，鄰頻道泄漏功率比（ACLR）、占用帶寬和頻譜發(fā)射模板（SEM）都在解決相同的問(wèn)題。一般在模擬輸出鏈路的最終部分都存在某種劣化，或者在DUT內(nèi)有產(chǎn)生偽信號(hào)的噪聲源。因此，將只會(huì)指定這些測(cè)量的一種作為測(cè)試計(jì)劃的一部分。

　　與最終輸出位于天線連接器以供評(píng)估的發(fā)射鏈路不同，接收信號(hào)在被完全解碼之前始終處于DUT內(nèi)部。幸運(yùn)的是，雖然在接收鏈路中有許多可能劣化的器件，但幾乎所有的劣化都將在接收閾值或其附近的接收誤碼率測(cè)量中顯示出來(lái)。物理層測(cè)試儀通常依賴于DUT報(bào)告接收測(cè)試結(jié)果的能力。由于接收質(zhì)量監(jiān)測(cè)是現(xiàn)代空中接口操作的一個(gè)重要部分，所以將此數(shù)據(jù)路由至外部終端接口是一個(gè)簡(jiǎn)單明了的方法。大部分（如果不是全部的話）集成電路制造商都支持某種或其他形式的誤碼率測(cè)試。