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          SRAM型FPGA單粒子效應試驗研究

          作者: 時間:2017-06-05 來源:網絡 收藏

          針對軍品級SRAM型特性,文中采用,對Xilinx公司Virtex-II系列可重復編程中一百萬門的XQ2V1000進行輻射試驗。試驗中,被測單粒子翻轉采用了靜態(tài)與動態(tài)兩種測試方式。并且通過單粒子功能中斷的測試,研究了基于重配置的減緩方法。試驗發(fā)現被測FPGA對單粒子翻轉與功能中斷都較為敏感,但是在注入粒子LET值達到42MeV.cm2/mg時仍然對單粒子鎖定免疫。本文對翻轉敏感度、測試方法與減緩技術進行了討論,試驗結果說明SRAM型FPGA對比較敏感,利用重配置技術的減緩方法能夠有效降低敏感度,實現空間應用。

          SRAM型FPGA單粒子效應試驗研究.pdf

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201706/348890.htm


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