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          基于ATE的FPGA測試

          作者: 時(shí)間:2017-06-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,的應(yīng)用越來越廣泛,其測試技術(shù)也得到了廣泛重視和研究。文章簡要介紹了的發(fā)展及其主要組成部分,提出了一種用ATE對進(jìn)行測試的方法和具體測試流程。以一段Xilinx XC3042的真實(shí)為例詳細(xì)描述了Intel HEX文件格式,以及將其轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制配置碼的方法,并介紹了FPGA的配置碼格式和長度的計(jì)算方法。然后,以外設(shè)配置模式為例,通過XC3042的配置電路原理圖和配置時(shí)序詳細(xì)描述了FPGA的配置原理;最后給出了采用ATE(Automatic Test Equipment)-J750對FPGA的配置與測試過程,為FPGA的通用測試提供了一種切實(shí)可行的有效方法。

          基于ATE的FPGA測試.pdf

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201706/348972.htm


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