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          控制器測試工裝放電技術(shù)

          作者:耿本利,陳中煒,程 磊,等 時間:2020-03-03 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          耿本利,陳中煒,程? 磊,張秀鳳 (格力電器(合肥)有限公司,安徽?合肥??230088)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202003/410493.htm

          摘? 要:是空調(diào)的大腦,在整機運行上起著至關(guān)重要的作用。的質(zhì)量直接決定了空調(diào)的使用壽 命。在生產(chǎn)時需模擬整機運行狀態(tài)進行,測試主板上各模塊電路能否正常工作,在此基礎(chǔ)上增 加,不僅可提前篩選出功能異常的電路板,同時能保障測試工裝電壓不對主板進行損害,最終提高整 機的,降低售后投訴,提高公司品牌質(zhì)量。 

          關(guān)鍵詞:控制器;;;

          0  引言 

          各大家電等企業(yè)中,為保證整機產(chǎn)品性能合格,每 一單控制器都經(jīng)過進行篩選,主板上的半導體 器件易受到靜電、過電損傷而導致器件功能失效。功能 測試可以篩選出在測試崗位前已經(jīng)失效的器件,測試工 裝給主板進行供電,工裝外接負載來模擬整機進行測試 各模塊的運行情況。功能測試可以有效篩選出有問題的 控制器,但工裝電源電壓不穩(wěn)、放電不徹底時也會損傷 控制器,使得篩選環(huán)節(jié)成為過電隱患的來源。

          1  功能測試原理 

          測試工裝內(nèi)設(shè)測試板,內(nèi)含強電檢測電路、弱點檢 測電路、驅(qū)動輸出電路、感溫包模擬電路、通訊電路以 及與機構(gòu)配合電路。利用工裝快測的方式模擬檢測空調(diào) 器制冷、制熱的各個線路電壓、電流是否正常;同步模 擬檢測過流保護電路、過載保護電路、低壓保護電路、 高壓保護電路、感溫包電路等各個保護電路是否正常。 根據(jù)主板線路針對的布防工裝測試點,測試點使用連接 線與內(nèi)設(shè)測試板連接,以便達到啟動工裝下壓主板與測
          試點探針接觸供電,達到測試的目的。

          2  研究背景 

          2.1芯片批量失效 

          生產(chǎn)過程中出現(xiàn)多單芯片下線,從芯片失效數(shù)據(jù)看 主要集中為A編碼和B編碼芯片失效最為突出,共計占 比73%。具體故障明細如下。

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          2.2 芯片失效機理確認 

          分別取故障品A芯片與B芯片各3單進行開封分析, 芯片開封后,晶圓表面均存在明顯灼傷痕跡,分析為EOS過電損傷導致。

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          2.3 失效模擬確認 

          排查工裝工具確認過電隱患點為工裝放電不足使得二 次放電擊穿芯片。通過模擬驗證分析此次異常主要為控制 器在功能檢測過程后,顯示板上C20/C15 25 V/470 μF儲能 電容無法在測試完成后短時間內(nèi)釋放內(nèi)部電荷,而控制 器在周轉(zhuǎn)過程中板上元器件引腳相互接觸后電容器殘留 電荷進行二次放電,造成芯片瞬間過電而損傷失效。

          3  測試工裝增加完善 

          3.1 增加放電結(jié)果監(jiān)控電路 

          工裝在放電時僅接了負載進行放電,對放電效果無 法監(jiān)督。放電電路中增加發(fā)光二極管,使放電結(jié)果目視 化,驗證工裝斷電后,待二極管燈滅,此時電路余電測 量未超過1 V,驗證可行。同時共設(shè)置4個放電端口,可 滿足所有機型的放電需求。區(qū)分強弱電放電,分別針對 45 V以上電壓和45 V以下電壓設(shè)置不同的放電方式,杜 絕測試設(shè)備的EOS類損傷。

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          下表為強電端口放電結(jié)果顯示表,通過端口顯示檢 測到的電壓可有效監(jiān)控放電效果。

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          3.2 增加放電延遲電路 

          在測試過程,員工可在測試結(jié)束后可手動結(jié)束測 試,此時無法對放電時間進行有效監(jiān)控,使用時間繼電 器和中間繼電器形成互鎖,利用時間繼電器控制氣動頭 的上升時間,即測試完成后時間繼電器工作(一般時間 繼電器設(shè)置為3~5 s)3~5 s后氣缸才能升起,這樣板 子與放電工裝充分放電,電容的電壓很小,不會對板子 帶來隱患。

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          3.3 測試方式調(diào)整 

          廠內(nèi)生產(chǎn)線在生產(chǎn)完顯示板后直接在后工序裝注塑 件盒,大膽提出在裝完注塑件盒后進行插線測試。并 對DCT工裝增加放電回路。因有注塑件盒防護,DCT測 試完電容余電有存在沒有放完的,但不存在控制器板相 互接觸的隱患,故不會有電容余電對控制器芯片失效的 隱患。

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          4  改善效果跟蹤 

          改善前,在1個月的時間,兩個編碼的芯片出現(xiàn)8單過電失效;改善后,跟蹤2個月,同款機型編碼無下 線。由此可得出經(jīng)過上述改善有效解決了工裝放電不足 導致的芯片過電損傷問題。

          5  小結(jié) 

          通過對芯片的失效分析,確認芯片失效為過電擊 穿。研究現(xiàn)有工裝的測試缺陷,針對異常點進行專項攻 關(guān),將所測試電路按照強、弱電進行分類,分別設(shè)計對 應(yīng)的放電電路,同時利用發(fā)光二極管的發(fā)光原理,來實 現(xiàn)放電效果的目視化監(jiān)控。為確保整改有效,消除在執(zhí) 行過程中人為操作異常導致的執(zhí)行偏差,將放電結(jié)果進 行計時,利用時間繼電器、中間繼電器互鎖實現(xiàn)工裝放 電后自動彈起,提高測試工裝放電。

          參考文獻: 

          [1] 尹繼業(yè).對提高電子元器件的使用可靠性的思考[J].電子制作, 2012(10):15. 

          [2] 蒲曉明. 電子元器件的失效模型與可靠性試驗方法解析 [J]. 科 技創(chuàng)新與應(yīng)用,2016(08):18. 

          [3] 印曉紅. 提高電子元器件使用可靠性的措施研究 [J]. 中國高新 技術(shù)企業(yè),2016(04):01.

          本文來源于科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2020年第03期第70頁,歡迎您寫論文時引用,并注明出處。



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