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功能測(cè)試
功能測(cè)試 文章 進(jìn)入功能測(cè)試技術(shù)社區(qū)
控制器測(cè)試工裝放電技術(shù)
- 耿本利，陳中煒，程? 磊，張秀鳳 （格力電器（合肥）有限公司，安徽?合肥??230088）摘? 要：控制器是空調(diào)的大腦，在整機(jī)運(yùn)行上起著至關(guān)重要的作用?？刂破鞯馁|(zhì)量直接決定了空調(diào)的使用壽 命?？刂破髟谏a(chǎn)時(shí)需模擬整機(jī)運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行功能測(cè)試，測(cè)試主板上各模塊電路能否正常工作，在此基礎(chǔ)上增 加放電電路，不僅可提前篩選出功能異常的電路板，同時(shí)能保障測(cè)試工裝電壓不對(duì)主板進(jìn)行損害，最終提高整 機(jī)的可靠性，降低售后投訴，提高公司品牌質(zhì)量。 關(guān)鍵詞：控制器；功能測(cè)試；放電電路；可靠性0 引言&nbs
- 關(guān)鍵字： 202003 控制器 功能測(cè)試 放電電路 可靠性
高密度印刷線路板的功能測(cè)試
- 功能測(cè)試正變得越來(lái)越重要，然而與在線測(cè)試一樣，技術(shù)的發(fā)展和PCB設(shè)計(jì)會(huì)使測(cè)試范圍受到限制。盡管在編程的軟件環(huán)境方面已取得了很大的進(jìn)展，有助于克服其中一些困難，但若想按照你的測(cè)試策略成功實(shí)施功能測(cè)試，還有很
- 關(guān)鍵字： PCB設(shè)計(jì) 功能測(cè)試 I/O連接器
IC卡功能測(cè)試與產(chǎn)業(yè)化測(cè)試不可偏廢
- 2011年3月15日，中國(guó)人民銀行發(fā)布《中國(guó)人民銀行關(guān)于推進(jìn)金融IC卡應(yīng)用工作的意見(jiàn)》，決定在全國(guó)范圍內(nèi)正式啟動(dòng)銀行卡芯片化遷移工作(既EMV遷移)。EMV遷移是近年來(lái)我國(guó)順應(yīng)國(guó)際銀行卡發(fā)展趨勢(shì)，立足國(guó)情，在改善金融，服務(wù)民生，提升電子支付風(fēng)險(xiǎn)防范水平，推動(dòng)銀行卡產(chǎn)業(yè)升級(jí)方面實(shí)施的一項(xiàng)重要戰(zhàn)略舉措。中國(guó)人民銀行將推廣金融IC卡行業(yè)應(yīng)用作為重大發(fā)展戰(zhàn)略，有計(jì)劃、有步驟地組織銀行業(yè)開(kāi)展EMV遷移?！笆濉逼陂g將加快銀行卡芯片化進(jìn)程，全面推進(jìn)金融IC卡應(yīng)用，以促進(jìn)中國(guó)銀行卡的產(chǎn)業(yè)升
- 關(guān)鍵字： IC卡 功能測(cè)試
嵌入式軟件三大潛在問(wèn)題及其測(cè)試技術(shù)
- 本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見(jiàn)的錯(cuò)誤，并介紹的幾個(gè)技巧幫助工程師發(fā)現(xiàn)軟件中隱藏的錯(cuò)誤。大部分軟件開(kāi)...
- 關(guān)鍵字： 堆棧溢出 軟件開(kāi)發(fā) 功能測(cè)試
基于GPIB/VXI/IEEE1394總線的板級(jí)電路功能測(cè)試和故障診斷自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
- 隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試技術(shù)對(duì)電子裝備發(fā)展的支撐作用越來(lái)越突出，測(cè)試保障裝備建設(shè)已受到前所未有的重視。為保證實(shí)際應(yīng)用時(shí)集成度越來(lái)越高的電子設(shè)備能有效、可靠的工作，得出較精確的數(shù)據(jù)，就需要一種高效率
- 關(guān)鍵字： 診斷 自動(dòng)化 測(cè)試系統(tǒng) 故障 功能測(cè)試 GPIB/VXI/IEEE1394
開(kāi)關(guān)電源常規(guī)功能測(cè)試分析
- 一、輸出電壓調(diào)整：當(dāng)制造開(kāi)關(guān)電源
- 關(guān)鍵字： 分析 功能測(cè)試 常規(guī) 開(kāi)關(guān)電源
半導(dǎo)體功能測(cè)試基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)
- 半導(dǎo)體功能測(cè)試包含一些新的術(shù)語(yǔ)，這里先簡(jiǎn)單介紹一下：Output Mask 輸出屏蔽，一種在功能測(cè)試期間讓測(cè)試通道的輸出比較功能打開(kāi)或關(guān)閉的方法，可以針對(duì)單獨(dú)的pin在單獨(dú)的周期實(shí)施。Output Sampling 輸出采樣，在功能
- 關(guān)鍵字： 半導(dǎo)體 功能測(cè)試 基礎(chǔ) 術(shù)語(yǔ)
LED顏色及亮度測(cè)試方案
- 一、原理通過(guò)光纖采集LED光信號(hào)，經(jīng)過(guò)光電信號(hào)轉(zhuǎn)換，導(dǎo)入LED測(cè)試(分析)模塊，分析數(shù)據(jù)通過(guò)各種數(shù)據(jù)接口...
- 關(guān)鍵字： 功能測(cè)試 并行接口 測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)試程序
功能測(cè)試介紹
黑盒測(cè)試（Black-box Testing，又稱(chēng)為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試）是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能，不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過(guò)程。
采用黑盒技術(shù)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法有：等價(jià)類(lèi)劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤推測(cè)、因果圖和綜合策略。
黑盒測(cè)試注重于測(cè)試軟件的功能性需求，也即黑盒測(cè)試使軟件工程師派生出執(zhí)行程序所有 [ 查看詳細(xì) ]
功能測(cè)試電路
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