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          納芯微新品,專門用于驅動E?mode(增強型)GaN 開關管的半橋芯片NSD2621

          作者: 時間:2023-02-15 來源:充電頭網(wǎng) 收藏

          前言

          現(xiàn)階段的大多數(shù) 電源系統(tǒng)都是由多個芯片組成。 器件在電路板上組裝前采用分立式的元件組裝會產生寄生電感,從而影響器件的性能。例如驅動器會在單獨的芯片上帶有驅動器的分立晶體管,受到驅動器輸出級和晶體管輸入之間以及半橋開關節(jié)點之間的寄生電感的影響,同時 HEMT 具有非常高的開關速度,如果寄生電感未被抑制,將會導致信號傳輸?shù)牟▌印?/span>

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202302/443382.htm

          近日,推出了兩款全新的GaN相關產品,分別是GaN驅動NSD2621,一顆高壓半橋柵極驅動芯片,專門用于驅動E?mode(增強型)GaN 開關管;集成化的Power Stage產品NSG65N15K,內部集成了高壓半橋驅動器和兩顆650V耐壓的GaN開關管。均可廣泛適用于快充、儲能、服務器電源等多種GaN應用場景。

          NSD2621的亮點

          NSD2621將隔離技術應用于高壓半橋驅動,使得共模瞬變抗擾度更高,可以耐受700V的負壓,有效提升了系統(tǒng)的可靠性。解決了GaN應用橋臂中點SW引腳的共模瞬變和負壓尖峰問題。上下管的驅動輸出都集成了內部穩(wěn)壓器LDO,可以有效抑制VDD或BST引入的高頻干擾,有利于保持柵極驅動信號幅值穩(wěn)定,保護GaN開關管柵級免受過壓應力的影響。

          由于GaN器件可以實現(xiàn)反向導通,替代了普通MOSFET體二極管的續(xù)流作用,但是一旦負載電流過大會出現(xiàn)高反向導通壓降,造成較大的傳輸損耗,降低了系統(tǒng)效率,所以NSD2621內置20ns~100ns可調的硬件死區(qū)時間,可以有效避免發(fā)生橋臂直通的情況,橋臂直通是指兩個串聯(lián)的電力電子開關器件同時導通,如果兩端有電壓,將導致直流電源短路,損壞橋臂功率器件。

          如上圖所示,CH1為上管驅動輸入 ,CH2為下管驅動輸入,CH3為上管驅動輸出,CH4為下管驅動輸出。一開始當上管和下管驅動輸入都為高電平時,為避免橋臂直通,上下管驅動輸出都為低電平;當下管驅動輸入變?yōu)榈碗娖?,經過30ns的傳輸延時和內置20ns的死區(qū)時間后,上管驅動輸出變?yōu)楦唠娖健?br/>

          NSD2621產品特性和功能一覽圖。

          NSG65N15K產品特性

          為進一步發(fā)揮GaN高頻、高速的特性優(yōu)勢,同時推出了集成化的Power Stage產品NSG65N15K,內部集成了半橋驅動器NSD2621和兩顆耐壓650V、導阻電阻150mΩ的GaN開關管,工作電流可達20A。NSG65N15K內部還集成了自舉二極管,并且內置可調死區(qū)時間、欠壓保護、過溫保護功能,可以用于圖騰柱PFC、ACF和LLC等半橋或全橋拓撲。

          1. NSG65N15K用一顆器件取代驅動器和兩顆開關管組成的半橋,有效減少元件數(shù)量和布板面積。NSG65N15K是9*9mm的QFN封裝,相比傳統(tǒng)分立方案的兩顆5*6mm DFN封裝的GaN開關管加上一顆4*4mm QFN封裝的高壓半橋驅動,加上外圍元件,總布板面積可以減小40%以上,從而有效提高電源的功率密度。同時,NSG65N15K的走線更方便PCB布局,有利于實現(xiàn)簡潔快速的方案設計。

          傳統(tǒng)分立方案引入寄生電感

          2. NSG65N15K的合封設計有助于減小驅動和開關管之間的寄生電感,簡化系統(tǒng)設計并提高可靠性。如上圖所示,傳統(tǒng)的分立器件方案,會引入由于PCB走線造成的柵極環(huán)路電感Lg_pcb和由于GaN內部打線造成的共源極電感Lcs。

          其中,柵極環(huán)路電感Lg_pcb會在柵極電壓開通或關斷過程產生振鈴,如果振鈴超出GaN的柵源電壓范圍,容易造成柵極擊穿;并且在上管開通過程中,高dv/dt產生的米勒電流會在下管的Lg_pcb上產生正向壓降,有可能造成GaN的柵極電壓大于開啟電壓,從而誤導通。而共源極電感Lcs造成的影響,主要是會限制GaN電流的di/dt,增加額外的開關損耗;此外,在GaN開通過程電流增大,由于di/dt會在Lcs上產生正向壓降,降低了GaN的實際柵極電壓,增大了開通損耗。

          NSG65N15K減小雜散電感的影響。

          如上圖所示,NSG65N15K通過將驅動器和GaN合封在一起,消除了共源極電感Lcs,并且將柵極回路電感Lg也降到最小,避免了雜散電感的影響,可以有效地提高系統(tǒng)效率與可靠性。

          充電頭網(wǎng)總結

          發(fā)布的2款新品中的NSG65N15K,將半橋驅動器NSD2621和 HEMT 集成在同一芯片上將有效減少寄生效應和達到 GaN 卓越開關速度的最大化利用,其內置的兩個晶體管之間死區(qū)時間控制加上高集成度的芯片電路,可以有效減少寄生效應和電路發(fā)生短路的情況,最終提高電源的功率密度和轉化效率??蓮V泛適用于快充、儲能、服務器電源等多種GaN應用場景,可以為汽車、工業(yè)、消費電子、信息通訊等領域提供完整的解決方案。

          如果產品設計要求需要更高的能效、轉換效率和更好的溫控表現(xiàn)等,可以在產品中加入DrMos技術。DrMos 技術是推出了很久的一種服務器主板節(jié)能技術,擁有超低電源反應時間和低阻抗特性,在主板高負荷運作時,能夠大幅提升整體效能,擁有比傳統(tǒng)主板更高的用電效率,同時帶來更低的熱量產生,更高的系統(tǒng)穩(wěn)定性,可以擴展出更多的應用場景。



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