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          晶體管進(jìn)入納米片時(shí)代

          作者: 時(shí)間:2024-02-05 來源:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫 收藏

          全球最先進(jìn)的芯片公司正在競相大規(guī)模推出基于環(huán)柵(GAA)架構(gòu)的新一代晶體管。雖然他們都處于不同的過渡階段,但他們打算開始在 3 納米和 2 納米工藝節(jié)點(diǎn)集成這些「納米片」晶體管,并可能在 2024 年和 2025 年實(shí)現(xiàn)大規(guī)模生產(chǎn)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202402/455363.htm

          英特爾和臺積電等公司需要時(shí)間來釋放這些晶體管的全部潛力,而整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)還需要一段時(shí)間才能感受到轉(zhuǎn)型的全面影響。此后該改進(jìn)必將成為 CPU、GPU 和其他高級邏輯芯片的黃金標(biāo)準(zhǔn),這些芯片是從人工智能到高性能計(jì)算 (HPC) 等一切領(lǐng)域的核心。這些晶體管的設(shè)計(jì)速度更快,功耗更低,挑戰(zhàn)了長期主導(dǎo)半導(dǎo)體領(lǐng)域的 的局限性。

          納米片晶體管并不能拯救摩爾定律,也不能解決代工廠在最先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)上面臨的所有挑戰(zhàn)。為了克服這些問題,代工廠正在尋求各種創(chuàng)新,例如背面供電(BSPD),以在節(jié)省功耗的同時(shí)從晶體管之間的互聯(lián)中獲得更多性能。

          他們還采用新的芯片設(shè)計(jì)方法,即系統(tǒng)技術(shù)協(xié)同優(yōu)化(STCO)。STCO 涉及將小芯片與 2.5D 和 3D 先進(jìn)封裝連接起來。

          盡管納米片有其局限性,但半導(dǎo)體行業(yè)正在全力以赴進(jìn)行轉(zhuǎn)型。就其本身而言,英特爾打算在即將推出的工藝節(jié)點(diǎn)中引入 RibbonFET。它將從「20A」節(jié)點(diǎn)開始,該公司表示,該節(jié)點(diǎn)將于 2024 年上半年啟用。臺積電計(jì)劃在 2025 年初在其 2 納米節(jié)點(diǎn)上首次采用納米片。

          雖然三星在邏輯芯片市場上更像是一個(gè)次要參與者,但三星在 2022 年率先推出了納米片的一種變體,稱為多橋通道 FET (MBCFET),并推出了 3 納米節(jié)點(diǎn)。

          為了更好地了解支持納米片的案例及其獨(dú)特優(yōu)勢,imec 的邏輯技術(shù)副總裁 Julien Ryckaert 發(fā)表了他的看法。

          為納米片奠定基礎(chǔ),首先支持 的論點(diǎn)是什么?

          納米片晶體管實(shí)際上是 的延續(xù)。大家開始研究這類 3D 架構(gòu)的主要原因是短通道控制。

          當(dāng)你縮小平面晶體管的柵極長度,以保持源極和漏極之間的隔離,并確保每當(dāng)你關(guān)閉晶體管時(shí)都有足夠的截止電壓時(shí),這變得越來越難。這種現(xiàn)象被稱之為「短溝道效應(yīng)」,而解決這一問題的能力通常由我們稱之為「亞閾值斜率」的度量來表征。

          隨著柵極長度縮小,漏極在物理上距離源極越來越近,然后保證兩個(gè)終端之間的隔離就開始變得更加困難。因此,您開始尋找限制溝道的方法,以便每當(dāng)您關(guān)閉晶體管時(shí),半導(dǎo)體區(qū)域內(nèi)的磁場就足夠強(qiáng),以保證漏極和源極保持隔離。

          各家的焦點(diǎn)都集中在這個(gè)鰭狀器件上,它是一塊突出的硅片(從硅晶圓上),其中柵極將包裹結(jié)構(gòu)并保證良好控制的關(guān)斷狀態(tài),從而在擴(kuò)展時(shí)確保亞閾值斜率大門。

          是否還有其他力量推動半導(dǎo)體行業(yè)采用 FinFET?

          Julien Ryckaert 表示:「我不確定這是否是 FinFET 開發(fā)時(shí)思考過程的一部分。但溝道寬度 (W) 的很大一部分(與開關(guān)晶體管所需的電流量密切相關(guān)的特性)位于垂直方向,即鰭片的高度。鰭越高,為 FinFET 創(chuàng)建的 W 越多,為晶體管創(chuàng)建的驅(qū)動電流也越大?!?/p>

          這對于 FinFET 的縮放非常有用,因?yàn)槟F(xiàn)在可以創(chuàng)建一個(gè)非常緊湊且具有足夠驅(qū)動電流的晶體管。芯片制造商在 FinFET 一代中廣泛利用了這一點(diǎn),減少了晶體管中鰭片的數(shù)量,并通過增加鰭片的高度來補(bǔ)償這一點(diǎn)。如果你想縮小平面晶體管中的 W,它就必須占據(jù)越來越多的空間。

          因此,作為邏輯庫構(gòu)建塊的標(biāo)準(zhǔn)單元最終從三鰭器件轉(zhuǎn)變?yōu)殡p鰭器件。公司用來縮放晶體管的旋鈕被稱為「軌道高度縮放」。您可以在結(jié)構(gòu)上縮放標(biāo)準(zhǔn)單元,而無需縮放間距,因?yàn)槟梢詼p少鰭片的數(shù)量,取而代之的是使用越來越高的鰭片。因此,有兩個(gè)支持 FinFET 的論點(diǎn)——一個(gè)是更好的靜電控制,另一個(gè)是更好的效率。

          為什么半導(dǎo)體行業(yè)試圖取代 FinFET?

          Julien Ryckaert 認(rèn)為,雖然從平面晶體管到鰭狀晶體管的轉(zhuǎn)變是理所當(dāng)然的事情,但不幸的是,納米片將很難帶來我們從 FinFET 中看到的同樣的好處。

          我們轉(zhuǎn)向納米片的原因主要是因?yàn)殪o電控制。您之前使用了固定在晶圓上的鰭片,它要求鰭片具有非常直的輪廓,因此您需要一個(gè)從頂部到底部的非常直的硅薄鰭片,以確保您可以精確控制整個(gè)渠道。

          然而,鰭片輪廓從來都不是完全筆直的,因此總會有一定程度的功率從鰭片底部泄露。一些主要的代工廠正在嘗試改善鰭片輪廓以保證靜電控制。

          與此同時(shí),每個(gè)人都想擴(kuò)大晶體管的柵極長度,但他們意識到,同時(shí)擴(kuò)大鰭片和柵極長度并仍保證相同的靜電控制變得更具挑戰(zhàn)性。

          目前的情況是,我們正在轉(zhuǎn)向完整的 GAA 結(jié)構(gòu),其中整個(gè)溝道在所有四個(gè)側(cè)面都包裹起來,以獲得強(qiáng)大的柵極場,從而保證強(qiáng)大的導(dǎo)通和關(guān)斷并減少漏電流。這樣,您就可以繼續(xù)縮放納米片器件內(nèi)的柵極長度。

          在最先進(jìn)的工藝節(jié)點(diǎn)規(guī)模上使用 FinFET 是否不再是可持續(xù)的?

          當(dāng)您制造越來越小的晶體管時(shí),最終每個(gè)器件都會有一對鰭片。下一步是探索單鰭片設(shè)備的可能性。但單鰭片的問題是,如果您想保持一對鰭片的驅(qū)動電流,則需要將單鰭片的高度加倍。

          例如,在雙鰭片場景中,鰭片的高度可能為 50 納米。如果使用單個(gè)鰭片,則必須使用 100 納米的鰭片,這種鰭片非常高,因此很難以經(jīng)濟(jì)高效的方式制造。

          與此同時(shí),在這么高的結(jié)構(gòu)中所積累的寄生效應(yīng)(最明顯的是電容和電阻),會消耗掉使設(shè)備更緊湊的所有優(yōu)勢。所以,這并不是說 100 納米的鰭片就像一對并排放置的 50 納米鰭片一樣好用。

          這就是為什么公司開始投資向納米片晶體管過渡,也是為什么你會看到不同的代工廠采取不同的發(fā)展軌跡。一些代工廠先于其他代工廠引入了納米片,這僅僅是因?yàn)榧{米片和 FinFET 仍在這些尺寸上爭奪主導(dǎo)地位,即在器件的效率、驅(qū)動和寄生之間實(shí)現(xiàn)平衡。

          我們知道兩個(gè)鰭片之間的距離是有限的,取決于你能在兩個(gè)鰭片之間擠壓多少金屬來形成閘門,所以在某些時(shí)候你會被一個(gè)鰭片卡住。如果沒有納米片,你就無法獲得同樣的功率和性能改進(jìn)。

          如果您是一家領(lǐng)先的代工廠,并且已經(jīng)掌握了鰭片的制造,那么您將盡力從 FinFET 中榨取最大的收益。但這完全取決于您的制造能力、您認(rèn)為的領(lǐng)先優(yōu)勢以及您希望以多快的速度進(jìn)入市場。一些公司正試圖盡快利用納米片革命。

          就功耗和性能而言,我想說它實(shí)際上與 FinFET 相當(dāng)。但你知道在某個(gè)時(shí)候你將不得不轉(zhuǎn)向納米片,因?yàn)?FinFET 不再可擴(kuò)展,不再為你提供每單位面積更多的晶體管。

          因此,半導(dǎo)體行業(yè)很久以前就停止了根據(jù)晶體管中的任何特定測量來命名工藝節(jié)點(diǎn)。相反,它主要是強(qiáng)調(diào)流程節(jié)點(diǎn)先進(jìn)程度的一種方式。

          鑒于此,公司是否真的使用納米片技術(shù)來縮小晶體管尺寸?與 FinFET 相比,它似乎更多的是為了提高晶體管的性能,而不是減少其占地面積。對于納米片來說,節(jié)省面積似乎更為次要。

          另一種看待它的方式是,想象縮放正在迫使您縮小標(biāo)準(zhǔn)單元的面積。您正在嘗試壓縮兩種類型的晶體管:n 溝道 (nFET) 和 p 溝道 FET (pFET),用于創(chuàng)建 CMOS 邏輯。它們都需要適合標(biāo)準(zhǔn)單元的占地面積,因此您開始將問題分解為必須遵守的所有規(guī)則。鰭片可以分開多遠(yuǎn)?FET 彼此之間的距離可以多遠(yuǎn)?您需要提供的間距才能使一切都在控制之中?

          你分析了晶體管布局的所有這些限制,然后你意識到不可能再把兩個(gè)鰭片放進(jìn)設(shè)備中。你不能得到一對 nFET 和 pFET 晶體管在同一空間了,你只能得到一個(gè)鰭上的 nFET 和一個(gè)鰭上的 pFET。

          這些平面型晶體管允許您更好地利用可用的空間,以創(chuàng)建與 FinFET 相比更大的有效溝道寬度,并以增加器件驅(qū)動電流能力的方式將晶體管擠壓在一起。

          因此,當(dāng)將 FinFET 的功率、性能和面積與相同尺寸的納米片晶體管進(jìn)行比較時(shí),您會發(fā)現(xiàn) FinFET 在大約 2 納米節(jié)點(diǎn)處性能開始下降。納米片可以繼續(xù)保持當(dāng)今公司最想要的性能、功率和面積增益。但你不會看到納米片突然帶來巨大的收益。

          芯片行業(yè)的公司正在獲得從制造工具到 EDA 軟件的一切,EDA 軟件可以捕獲納米片 FET 的所有復(fù)雜性。當(dāng)你想到基于納米片晶體管的芯片要進(jìn)入市場還需要什么的時(shí)候,你還想到了什么?

          Julien Ryckaert 表示,據(jù)我所知,提供 I/O 以及標(biāo)準(zhǔn) CMOS 平臺的大量設(shè)備將非常具有挑戰(zhàn)性。將其他類型的器件與納米片共同集成存在許多困難。這意味著必須設(shè)計(jì)大量新的知識產(chǎn)權(quán) (IP),以保證 SoC 子系統(tǒng)的正確性。否則 I/O 將不可用。

          雖然它可能與納米片沒有直接關(guān)系,但請記住,向納米片的過渡恰逢半導(dǎo)體公司設(shè)計(jì)方式的許多變化。一些公司計(jì)劃在 2 納米節(jié)點(diǎn)進(jìn)行的另一個(gè)轉(zhuǎn)變是背面供電。

          無論你如何看待,對于代工廠和無晶圓廠公司來說,許多變化同時(shí)發(fā)生。

          除了提高晶體管密度之外,納米片還有其他獨(dú)特的優(yōu)勢嗎?

          Julien Ryckaert 表示,對于 FinFET,它是四個(gè)鰭、三個(gè)鰭或兩個(gè)鰭,對吧?然而,對于納米片,您可以想象幾乎以連續(xù)的方式調(diào)制片材寬度。

          現(xiàn)在,將其放入制造過程中非常困難。但是,將片材寬度從 25 nm 調(diào)整到 20 nm、15 nm 到 10 nm 的能力將為您提供另一個(gè)優(yōu)化 SoC 功率和性能的旋鈕(因?yàn)檎{(diào)整溝道寬度會影響晶體管的寄生電容)。因此,如果代工廠能夠掌握這項(xiàng)技術(shù),無晶圓廠公司將能夠?qū)崿F(xiàn)更好的功耗與性能權(quán)衡。

          只需要對工藝流程進(jìn)行很少的改變即可實(shí)現(xiàn)調(diào)制,這就是為什么它需要一些時(shí)間才能變得可用。隨著 FinFET 耗盡,芯片行業(yè)開始將重點(diǎn)轉(zhuǎn)向其他創(chuàng)新,尤其是小芯片和先進(jìn)封裝。

          納米片晶體管會產(chǎn)生與 FinFET 相同的影響嗎?

          Julien Ryckaert 認(rèn)為這只是不斷擴(kuò)大的工具箱中的另一個(gè)工具,晶體管主導(dǎo)整個(gè)半導(dǎo)體路線圖的世界現(xiàn)在已經(jīng)結(jié)束了。

          保持新器件的密度擴(kuò)展非常重要,而獲得更緊湊的晶體管仍將是擴(kuò)展的關(guān)鍵因素。

          器件的空間乃至其性能的關(guān)鍵因素甚至不是由其溝道和晶體管本身的其他屬性決定的。但這同樣取決于您訪問設(shè)備的方式。三大代工廠擁有截然不同的中線 (MOL) 戰(zhàn)略,這表明它仍然有可能進(jìn)行創(chuàng)新和引入新的解決方案。

          未來,3D 芯片堆疊和類似小芯片的方法對于補(bǔ)充晶體管的路線圖也可能變得更加重要。納米片過渡的關(guān)鍵問題之一是,與 FinFET 相比,SRAM 無法擴(kuò)展或很難擴(kuò)展密度。因此,如果處理器的一半由 SRAM 組成,您可以假設(shè)該產(chǎn)品的一半將無法擴(kuò)展。這不僅是不幸的,而且還將迫使芯片設(shè)計(jì)人員尋找其他解決方案來解決該瓶頸。



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