納芯微推出全新固態(tài)繼電器:支持1700V耐壓, 滿足CISPR25 Class 5要求
憑借在隔離技術(shù)領(lǐng)域的長(zhǎng)期耕耘,納芯微今日宣布推出基于電容隔離技術(shù)的全新固態(tài)繼電器產(chǎn)品NSI7258系列,該系列提供工規(guī)和車規(guī)版本。NSI7258專門為高壓測(cè)量和絕緣監(jiān)測(cè)而設(shè)計(jì),提供業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的耐壓能力和EMI性能,可幫助提高工業(yè)BMS,光儲(chǔ)充,新能源汽車BMS和OBC等高壓系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/202405/458718.htm集成SiC MOSFET,支持1700V耐壓
無論是在工業(yè)還是汽車領(lǐng)域,高壓系統(tǒng)正在變得越來越普遍,為了適配工業(yè)和汽車平臺(tái)高壓化的趨勢(shì),NSI7258以背靠背的形式集成了2顆納芯微參與研發(fā)的SiC MOSFET,每顆支持高達(dá)1700V的耐壓;在1分鐘的標(biāo)準(zhǔn)雪崩測(cè)試中,NSI7258可耐受2100V的雪崩電壓和1mA的雪崩電流,實(shí)現(xiàn)業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的耐壓和抗雪崩能力。于此同時(shí),在1000V高壓,125℃高溫的測(cè)試條件下,NSI7258的漏電流可以控制在1μA以內(nèi),極大提高了BMS系統(tǒng)中電池包的絕緣阻抗和檢測(cè)精度,有助于實(shí)現(xiàn)更安全的人機(jī)交互。
滿足各類安規(guī)要求,降低系統(tǒng)驗(yàn)證時(shí)間
高壓化應(yīng)用的普及需滿足各類嚴(yán)苛的安規(guī)要求。通過納芯微自有的專利技術(shù),NSI7258可在SOW12封裝下實(shí)現(xiàn)業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的5.91mm副邊爬電距離,同時(shí)原邊副邊爬電距離也達(dá)到8mm,滿足國(guó)際電工委員會(huì)制定的IEC60649要求。此外,憑借納芯微卓越的電容隔離技術(shù),NSI7258的隔離耐壓能力高達(dá)5kVrms,全面滿足UL、CQC和VDE相關(guān)認(rèn)證,可降低客戶系統(tǒng)驗(yàn)證時(shí)間,加速產(chǎn)品上市。
EMI顯著優(yōu)化,加速光耦繼電器替換
傳統(tǒng)的光耦繼電器方案存在光衰問題,其性能會(huì)隨著時(shí)間的推移而退化,但光耦繼電器的優(yōu)勢(shì)是無電磁干擾問題,這也是限制高壓系統(tǒng)中光耦替代的重要因素之一。納芯微NSI7258通過巧妙的設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了業(yè)內(nèi)卓越的EMI表現(xiàn),在單板無磁珠的條件下即可輕松通過CISPR25 Class 5測(cè)試,并且在全頻段測(cè)試中均留有充足裕量。NSI7258基于全半導(dǎo)體工藝進(jìn)行生產(chǎn),在長(zhǎng)期使用中具有更高的可靠性。卓越的EMI表現(xiàn)和更高的可靠性支持客戶在系統(tǒng)中同時(shí)采用多顆器件而不受影響,顯著降低了設(shè)計(jì)難度,助力客戶在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中加速光耦替換。
封裝和選型
NSI7258提供SOW12封裝,兼容市場(chǎng)主流的光耦繼電器。工規(guī)版本的NSI7258將于近期量產(chǎn),車規(guī)版本的NSI7258-Q1滿足AEC-Q100,Grade 1要求,支持–40°C~125°C的寬工作溫度范圍,將于2024年7月量產(chǎn)。NSI7258和NSI7258-Q1現(xiàn)已支持送樣。
評(píng)論