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          使用時(shí)間可控發(fā)射方法來進(jìn)行模擬電路的失效分析

          作者: 時(shí)間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          體管與D2S接口的部分不匹配將導(dǎo)致事件發(fā)生器增益的減少。

            晶體管參數(shù)0.5%的不匹配就會對預(yù)期的波形產(chǎn)生影響。這對非常重要,這也表明TRE能用于診斷內(nèi)部敏感的不匹配問題。這樣的晶體管不匹配將導(dǎo)致器件的失效并最終需要重新設(shè)計(jì)芯片。通過相應(yīng)的掩模板修改和重新流片我們能生產(chǎn)出功能正常的芯片。

          模擬電路文章專題:模擬電路基礎(chǔ)

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