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          采用綜合學科研究法有效封裝MEMS加速儀(一)

          作者: 時間:2013-11-19 來源:網(wǎng)絡 收藏
          分析方法。我們采用了兩種方法來評估組裝和暴露給外部環(huán)境期間的芯片應力和斷裂風險。一種方法是常規(guī)應力分析,另一種是基于斷裂力學的分析。需要分析的階段包括外罩晶圓與感應單元基片晶圓的粘合、感應單元與引線架的連接、引線粘結(jié)、超模壓、回流焊接和熱循環(huán)。

          采用綜合學科研究法有效封裝MEMS加速儀(一)

          圖2 感應單元基片上的裂紋的SEM圖


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          關鍵詞: MEMS 加速儀

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