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          MOSFET柵漏電流噪聲分析

          作者: 時(shí)間:2012-10-29 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          TH: 0px; MAX-WIDTH: 90%; BORDER-RIGHT-WIDTH: 0px; border-image: initial" height=26 alt=公式 src="http://www.elecfans.com/uploads/allimg/111019/1134143Q2-3.jpg" width=24>

          為與靜電勢(shì)ψ(y)相關(guān)的柵電流,IG的雅可比矩陣,Gψ(x,x1)為氧化層x1處的單位電荷在氧化層x處的電勢(shì)ψ(x)的格林函數(shù)。

            氧化層中的陷阱可發(fā)射載流子至溝道或從溝道中俘獲載流子。對(duì)于近二氧化硅/多晶硅界面捕獲的載流子,若其再發(fā)射,進(jìn)入多晶硅柵,應(yīng)用朗之萬(wàn)方程,假定產(chǎn)生幾率不受再發(fā)射過(guò)程的影響,則單位體積內(nèi)占據(jù)陷阱數(shù)量漲落的譜密度為

            

          公式

            其中,

          公式

            

          柵電流分量示意圖

            由BSIM4提出的簡(jiǎn)易MOS模型的柵極電流分量模型

            

          公式

            其中,JG是柵極電流密度,L是溝道長(zhǎng)度,W是溝道寬度,x是沿溝道的位置(源極處x=0,漏極處x=L),IGS和IGD是柵極電流的柵/源和柵/漏分量。通過(guò)線性化柵電流密度與位置的關(guān)系,簡(jiǎn)化這些等價(jià)噪聲電流分析表達(dá)式,所得的總柵極電流噪聲表達(dá)式為

            

          公式

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