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          半導(dǎo)體晶體管電路設(shè)計須知(一)

          作者: 時間:2012-03-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          參數(shù)在實際使用中的意義

            做模擬電路的工程師,都有過使用(場效應(yīng)管也是中的一種)、運放的經(jīng)驗和體會。尤其是在設(shè)計時,更會對晶體管的一些電參數(shù)進行測試和考量。在測試時,許多人對晶體管電參數(shù)的實測值與規(guī)格書所提供的規(guī)范值,為什么會有很大差異,感到不可思議。有時,一些工程師會用實測值來要求供應(yīng)商,也有一些工程師會把一些特殊參數(shù)作為常規(guī)參數(shù)進行處理。這樣的后果就是整機產(chǎn)品一致性、重復(fù)性差,嚴重時還會出現(xiàn)達不到設(shè)計指標,更有甚者是在生產(chǎn)中出現(xiàn)大量損壞電子元器件的異常。此時,許多工程師都會把眼光釘住那些損壞的晶體管上,以為是晶體管的質(zhì)量問題,導(dǎo)致的異常。殊不知晶體管的損壞,只是一個表面現(xiàn)象,而深層次的原因,往往是設(shè)計師自己造成的。引起這些問題的原因有很多,對工程師而言,在選用元器件時,對器件電參數(shù)的片面理解,或許是個重要因素。

            晶體管的電參數(shù),在常規(guī)情況下可分為極限參數(shù)、直流參數(shù)(DC)、交流參數(shù)(AC)等。但在實際的使用中,我發(fā)現(xiàn)還有許多想測而無法測量到的參數(shù),為使工作方便,我便稱其為“功能參數(shù)”。分別述之:

            一、極限參數(shù)

            所謂極限參數(shù),是指在晶體管工作時,不管因何種原因,都不允許超過的參數(shù)。這些參數(shù)常規(guī)的有三個擊穿電壓(BV)、最大集電極電流(Icm)、最大集電極耗散功率(Pcm)、晶體管工作的環(huán)境(包括溫度、濕度、電磁場、大氣壓等)、存儲條件等。在民用電子產(chǎn)品的應(yīng)用中,基本只關(guān)心前三個。

            1、晶體管的反向擊穿電壓

            定義:在被測PN結(jié)兩端施加連續(xù)可調(diào)的反向直流電壓,觀察其PN結(jié)的電流變化情況,當PN結(jié)的反向電流出現(xiàn)劇烈增加時,此時施加到此PN結(jié)兩端的電壓值,就是此PN結(jié)的反向擊穿電壓。

            每個晶體管都有三個反向擊穿電壓,分別是:基極開路時集電極—發(fā)射極反向擊穿電壓(BVceo)、發(fā)射極開路時集電極—基極反向擊穿電壓(BVcbo)和集電極開路時基極—發(fā)射極反向擊穿電壓。

            此電參數(shù)對工程設(shè)計的指導(dǎo)意義是:決定了晶體管正常工作的電壓范圍。

            由此電參數(shù)的特性可知,當晶體管在工作中出現(xiàn)擊穿狀態(tài),將是非常危險的。因此,在設(shè)計中,都給晶體管工作時的電壓范圍,留有足夠的余量。實際上,當晶體管長期工作在較高電壓時(晶體管實測值的60%以上),其晶體管的可靠性將會出現(xiàn)數(shù)量級的下降。有興趣的可以參考《電子元器件降額準則》。

            許多公司在對來料進行入庫檢驗時發(fā)現(xiàn),一些品種的反向擊穿電壓實測值要比規(guī)格書上所標的要大出許多。這是怎么回事呢?

            晶體管在生產(chǎn)制造過程中,與一些我們常見的生產(chǎn)完全不一樣。在晶體管的生產(chǎn)過程中,可以分成二大塊:芯片制造和封裝。在工程分類中,習慣把芯片制造統(tǒng)稱為 “前道”,而把封裝行業(yè)統(tǒng)稱為“后道”。在前道生產(chǎn)中,從投料開始選原材料,到芯片出廠,一切控制數(shù)據(jù),給出的都是范圍。芯片在正常生產(chǎn)時,投料的最小單位是“編號批”,每批為24或25片4英寸到8英寸直徑的園片。就以4寸片為例,每片可出合格的晶體管只數(shù)少則上千,多則可近10萬。在實際生產(chǎn)中,最小生產(chǎn)單位是“擴散批”,一個擴散批所投的園片從150片到250片之間。可以想象出,在芯片的前道生產(chǎn)中,每次投料,對以單只來計算的晶體管而言,是一個什么樣的數(shù)量概念。不說別的,要讓一個擴散批所有的材料,具有相同的電特性(這里,也可以說是硅片的電阻率),是不可能的。加上硅片中,不可避免的會有一些固有的缺陷(晶格的層錯和位錯),使得在幾乎相同環(huán)境中生產(chǎn)出的同一品種的晶體管,不可能具有完全相同的電特性。這樣只能給出一個大家都能接受的范圍,這就是產(chǎn)品規(guī)格書。

            為了提高生產(chǎn)效率,現(xiàn)在許多芯片廠都把芯片的“免測率”作為生產(chǎn)線工序能力的一項重要考核指標。所謂的“免測”,是指產(chǎn)品的參數(shù)靠設(shè)計、工序控制來達到,加工結(jié)束后,通過抽測部分相關(guān)點的參數(shù),來判斷此片的質(zhì)量情況。當此片的抽測

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