消除測試設(shè)備對(duì)射頻器件測量影響

　　可以通過在過渡處采用良好質(zhì)量的邊緣突出的連接器減小反射來提高測量精度，并在測試設(shè)備中具有良好的50歐姆傳輸線。港口擴(kuò)展技術(shù)提供了良好的效果，并具有中等水平的精度。盡管并不和使用高質(zhì)量設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)一樣精確，它仍是迄今為止較為容易在設(shè)備內(nèi)部測試器件的方法，并為多種應(yīng)用提供了足夠的精度。

　　APE技術(shù)采用了曲線擬合過程來計(jì)算低階損耗和相位響應(yīng)。同時(shí)，該算法容許失配紋波，其不會(huì)去除紋波本身。大多數(shù)情況下，只需一個(gè)高反射標(biāo)準(zhǔn)來精確計(jì)算損耗和延誤響應(yīng)。只用一個(gè)高反射標(biāo)準(zhǔn)來要求測量的頻率范圍足夠?qū)挘员惴瓷?a class="contentlabel" href="http://www.ex-cimer.com/news/listbylabel/label/測量">測量中的紋波通過至少有一個(gè)完整周期。在這種情況下，可以使用最方便的標(biāo)準(zhǔn)，這往往是開路的。采用兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)寬帶測量而言差別不大，這是由于當(dāng)使用開路或短路時(shí)，紋波中出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)或經(jīng)過計(jì)算的損耗是一樣的。使用兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)來提高窄帶測量的精度，其中并不會(huì)出現(xiàn)完整的紋波周期。圖3中所示的更低軌跡的表示了在采用APE之前，測試設(shè)備的一部分響應(yīng)。上面的軌跡表明了在采用APE后的響應(yīng)。損耗補(bǔ)償可能以0dB誤差為中心(棕色軌跡)，或?qū)⒓y波峰值保持在0dB以下(藍(lán)色軌跡)。

　　圖4表示了平衡到不平衡5.5GHz無線本地網(wǎng)(WLAN)濾波器測試到10GHz的響應(yīng)。表示了在自動(dòng)端口擴(kuò)展工具欄內(nèi)，測試設(shè)備之一的端口延遲和損耗項(xiàng)。該值由安捷倫PNA網(wǎng)絡(luò)分析儀自動(dòng)計(jì)算。下面的兩個(gè)軌跡表示了沒有端口擴(kuò)展的DUT測量。沒有端口擴(kuò)展，測量包括了DUT和測試設(shè)備。失真響應(yīng)是由于沒有相位補(bǔ)償(尤其重要的是對(duì)平衡端口)，并沒有對(duì)PCB上該傳輸線的損耗進(jìn)行補(bǔ)償。具有端口擴(kuò)展，嚴(yán)重誤差由于測試設(shè)備被去除，并為WLAN濾波器的實(shí)際性能提供了相當(dāng)高的精度。

　　測試設(shè)備去嵌入是更為嚴(yán)格的建模技術(shù)。該過程一開始就建立DUT所使用的測試設(shè)備的模型。模型的精度直接影響去嵌入測量的精度。去嵌入被用于消除測試設(shè)備、適配器和探頭的不良影響。替代簡單地減去電長度和插入損耗，去嵌入使用經(jīng)過建模的響應(yīng)來作為頻率的函數(shù)，并采用數(shù)學(xué)從測量中去除測試設(shè)備的影響。不同于端口擴(kuò)展，去嵌入去除了同軸線到微帶線過渡的失配影響。測試設(shè)備電路的S參數(shù)存儲(chǔ)在一個(gè).s2p文件格式中。

　　創(chuàng)建測試設(shè)備.s2p模型的最簡單方式就是采用測量探頭，其可以與該測試設(shè)備中傳輸線的DUT端點(diǎn)實(shí)現(xiàn)接口(圖5)。這種情況下，用戶在測試設(shè)備一側(cè)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)使用同軸標(biāo)準(zhǔn)的未知的通過校準(zhǔn)，并使用了測試設(shè)備另一側(cè)的探頭阻抗標(biāo)準(zhǔn)基板(ISS)。測試設(shè)備的傳輸線是未知的路徑。經(jīng)過校準(zhǔn)后，測試設(shè)備只被簡單測量，并未移動(dòng)探頭或同軸線纜。測量過程對(duì)測試設(shè)備的每個(gè)部分反復(fù)進(jìn)行，使用與第一個(gè)設(shè)備相同的校準(zhǔn)。為了用探頭來測量傳輸線端點(diǎn)，接地平面必須放在與測試探頭的節(jié)距間有正確間距的測試設(shè)備上。

　　替代探測測試設(shè)備的方法就是使用一項(xiàng)技術(shù)，其實(shí)現(xiàn)了兩個(gè)單端口校