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          提高M(jìn)SP430G系列單片機(jī)的Flash擦寫壽命的方法

          作者: 時(shí)間:2012-12-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          提高M(jìn)SP430G系列單片機(jī)的Flash擦寫壽命的方法

          采用劃分子頁的方案總結(jié)如下。

          ? 每次寫入模擬EEPROM的數(shù)據(jù)長度為定長,即為子頁的長度。

          ? 軟件需要定義一個(gè)存儲(chǔ)變量結(jié)構(gòu)體,用于刷新和同步模擬EEPROM內(nèi)容。在將數(shù)據(jù)寫入模擬EEPROM之前,程序員需要按照約定的數(shù)據(jù)格式,在內(nèi)存中將所有的目標(biāo)存儲(chǔ)變量進(jìn)行整理。

          ? 在軟件處理上,需要計(jì)算當(dāng)前寫入和下一次寫入的物理地址;在每一次執(zhí)行寫入操作后,根據(jù)子頁長度大小,將指向子頁的目的操作指針自動(dòng)累加。

          ? 待一個(gè)頁(Page)寫滿后,需要將最后更新的模擬EEPROM數(shù)據(jù)拷貝到下一個(gè)頁,再對(duì)寫滿頁執(zhí)行一次擦除操作。

          ? 在嵌入式軟件處理上需加入合適的校驗(yàn)機(jī)制,保證寫入數(shù)據(jù)的正確性并監(jiān)測(cè)用于模擬EEPROM功能的 子頁是否已經(jīng)失效。

          2.3 兩種方案的對(duì)比分析

          兩種方案的對(duì)比分析見表二。

          表二 兩種方案的對(duì)比分析

          提高M(jìn)SP430G系列單片機(jī)的Flash擦寫壽命的方法

          3. 實(shí)際的嵌入式應(yīng)用

          根據(jù)軟件需要,建議采用字節(jié)(8bit)做為操作的最小粒度,適用性會(huì)更廣泛。

          3.1 存儲(chǔ)器的提升對(duì)于MSP430G 系列的 存儲(chǔ)器,可以保證至少10000 次的編程和擦除壽命。如圖六所示。

          提高M(jìn)SP430G系列單片機(jī)的Flash擦寫壽命的方法

          圖六 MSP430G 系列Flash 編程和擦除壽命

          采用劃分小頁結(jié)合至少分配2 個(gè)大頁的操作方式,則可以大大增加Flash 模擬EEPROM 的。例如,對(duì)于MSP430G 系列,如果將每個(gè)小頁的尺寸劃分為16 字節(jié),采用2 個(gè)大頁(每頁512 字節(jié))作為模擬EEPROM 使用,則可以提供64 個(gè)操作子頁((512/16)x2=64),可以保證至少640000 次的。

          3.2 掉電時(shí)的異常處理

          如果正在進(jìn)行Flash 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)時(shí)發(fā)生掉電,數(shù)據(jù)可能會(huì)保存不成功,存在異常。為了增強(qiáng)健壯性,在軟件處理上,需要考慮設(shè)備異常掉電等可能會(huì)導(dǎo)致Flash 擦寫失敗的情況。

          在軟件處理中,當(dāng)成功保存Flash 數(shù)據(jù)后,再寫入該子頁的狀態(tài)標(biāo)志。上電后,用戶程序?qū)⒉檎易詈笠淮螌懭氲淖禹摚賹⒃撟禹摰臄?shù)據(jù)內(nèi)容并恢復(fù)到內(nèi)存中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中。

          4. 系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)

          4.1 時(shí)鐘源的選擇

          由于驅(qū)動(dòng)Flash 的時(shí)鐘源(ACLK、MCLK、SMCLK)和時(shí)鐘頻率可以設(shè)定,為了保證在將數(shù)據(jù)寫入模擬EEPROM時(shí)的可靠性,建議在將Flash 的時(shí)鐘頻率降低后,再對(duì)其進(jìn)行操作。例如將Flash 的時(shí)鐘頻率降低到1MHz 后,進(jìn)行寫入操作。需要注意,在降低了時(shí)鐘頻率后,若此時(shí)鐘源也是定時(shí)器(Timer)的時(shí)鐘源,則可能會(huì)影響到定時(shí)器的定時(shí)準(zhǔn)確性,需要軟件上做好處理。

          4.2 代碼在RAM中運(yùn)行

          由于向Flash 寫入數(shù)據(jù)操作是通過執(zhí)行Flash 中程序代碼,對(duì)Flash 進(jìn)行擦除和編程操作。由于對(duì)Flash 的編程需要mcu 內(nèi)部執(zhí)行一個(gè)升壓操作,所以如果有足夠的內(nèi)存空間,建議將編程、擦除等關(guān)鍵代碼拷貝到RAM中運(yùn)行,可以使用關(guān)鍵字__ramfunc 指定,如下圖七所示。

          提高M(jìn)SP430G系列單片機(jī)的Flash擦寫壽命的方法

          圖七 使用關(guān)鍵字__ramfunc 將程序指定到Ram 中運(yùn)行

          5. 總結(jié)

          本文從軟件方面,以及安全性方面探討了使用MSP430G 系列單片機(jī)在使用Flash 模擬EEPROM方面的應(yīng)用,提供了兩種不同的方式供選擇。兩種方式都可以大幅度提高模擬EEPROM的編寫、擦除壽命,并且滿足高可靠性的應(yīng)用設(shè)計(jì),用戶可以結(jié)合具體的應(yīng)用進(jìn)行選擇。

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