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          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          作者: 時(shí)間:2013-11-23 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          在整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈中,從芯片一直到封裝、成品,均需要對(duì)產(chǎn)品的各項(xiàng)光電指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。而大部分廠商會(huì)發(fā)現(xiàn),經(jīng)過(guò)測(cè)試以后,產(chǎn)品的壽命會(huì)受到一定影響,甚至有的在測(cè)試過(guò)程中就已經(jīng)直接報(bào)廢。這是為什么?當(dāng)使用微小電流進(jìn)行LED測(cè)試時(shí),電流越小,等待LED點(diǎn)亮的時(shí)間就越長(zhǎng),測(cè)試效率非常低下。這又是為什么?國(guó)內(nèi)大部分的廠商都認(rèn)為這是LED產(chǎn)品本身的特性所決定的,非人力所能改變,其實(shí)不然。目前,在歐美、日本、臺(tái)灣等LED產(chǎn)業(yè)相對(duì)發(fā)達(dá)的地區(qū),各大LED廠商已經(jīng)開(kāi)始選用LED測(cè)試專(zhuān)用電源供應(yīng)器來(lái)應(yīng)對(duì)這一問(wèn)題。ITECH艾德克斯也專(zhuān)門(mén)推出了IT6200雙范圍可編程直流電源系列,搭配LED測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,可有效減少LED產(chǎn)品在測(cè)試過(guò)程中的壽命折損,同時(shí)提高測(cè)試效率,使產(chǎn)能得以最大化。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/222023.htm

          引言

          LED是英文Light Emitting Diode(發(fā)光二極管)的縮寫(xiě),它的基本結(jié)構(gòu)是一塊電致發(fā)光的半導(dǎo)體材料,核心部分是由p型半導(dǎo)體和n型半導(dǎo)體組成的晶片,這種利用注入式電進(jìn)行發(fā)光的二極管叫發(fā)光二極管,通稱(chēng)LED。

          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          LED產(chǎn)品可謂是五花八門(mén)。上游的芯片是LED的技術(shù)核心,它的光電性能、體積厚度都決定了封裝出燈珠的品質(zhì)和應(yīng)用領(lǐng)域;LED light bar、LED背光源以及下游的LED手機(jī)、電腦、電視機(jī)顯示屏和LED燈具等成品,所有這些LED產(chǎn)品都無(wú)一不需要進(jìn)行多種光電測(cè)試。

          LED Light bar測(cè)試

          要使LED發(fā)光,就必須通電。因此在對(duì)LED產(chǎn)品的光電性能測(cè)試中,通常的做法是使用直流電源給LED產(chǎn)品供電,在LED被點(diǎn)亮的情況下完成各種參數(shù)的測(cè)試和記錄。以前,人們認(rèn)為,直流電源只要能夠供電即可,所以為了節(jié)約設(shè)備成本而選用一般的電源供應(yīng)器進(jìn)行測(cè)試。而一般的LED產(chǎn)品,所允許通過(guò)的電流一般在30mA以?xún)?nèi),這是任何普通的電源供應(yīng)器都無(wú)法做到的,因?yàn)樵趩?dòng)的瞬間,不可避免的會(huì)產(chǎn)生巨大的突波電流,大大超出LED所能承受的電流范圍。大多數(shù)時(shí)候,由于這個(gè)突波電流的時(shí)間很短暫,并不會(huì)立刻燒毀LED,但是一定會(huì)對(duì)其壽命造成不可修復(fù)的損害(平均壽命降低20-30%)。這樣一來(lái),對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和口碑都是很不利的,會(huì)因此蒙受巨大的經(jīng)濟(jì)損失。

          艾德克斯IT6200系列直流電源的優(yōu)勢(shì)在于,當(dāng)需要進(jìn)行LED產(chǎn)品測(cè)試時(shí),開(kāi)啟該電源獨(dú)特的LED mode,就可以有效的抑制啟動(dòng)瞬間的突波電流,從而保護(hù)待測(cè)LED。如果使用艾德克斯IT6200系列直流電源進(jìn)行測(cè)試,那么,LED產(chǎn)品的壽命就不會(huì)受到影響。現(xiàn)在來(lái)做一個(gè)實(shí)驗(yàn),使用IT6200系列直流電源測(cè)試負(fù)載為170V的LED light bar。將LED light bar連接到IT6200系列直流電源上,在菜單中選擇LED mode;然后電流命令設(shè)定為Iset=10mA;啟動(dòng)電源的on鍵,開(kāi)始給light bar供電。示波器顯示IT6200系列電源的電流變化如下圖所示:

          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          從圖中可以看出,當(dāng)選擇了LED mode進(jìn)行測(cè)試,IT6200直流電源系列在啟動(dòng)時(shí),電流非常平滑的上升到設(shè)定值,完全沒(méi)有突波電流產(chǎn)生,所以不會(huì)對(duì)LED產(chǎn)品的壽命造成任何影響。

          如果不使用LED mode(相當(dāng)于普通電源供應(yīng)器)來(lái)進(jìn)行同一測(cè)試,結(jié)果又會(huì)怎樣?不妨關(guān)閉IT6200系列電源的LED mode,來(lái)做一個(gè)同樣的測(cè)試。此時(shí),示波器記錄下的電流變化如下圖所示:

          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          不難看出,在電源啟動(dòng)的瞬間,產(chǎn)生約3.5mA的突波電流。而且,當(dāng)測(cè)試電流越大,產(chǎn)生的突波電流也會(huì)跟隨著設(shè)定電流的上升而上升。如下是IT6200系列電源在20mA的設(shè)定電流下給同樣的LED light bar進(jìn)行測(cè)試所得到的電流曲線。如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          從這個(gè)實(shí)驗(yàn)中可以得出這樣的結(jié)論:艾德克斯IT6200系列直流電源可以將沒(méi)有突波的電流供應(yīng)給LED,進(jìn)而保護(hù)LED,提高LED產(chǎn)品的壽命。

          LED背光源測(cè)試


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