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          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          作者: 時(shí)間:2013-11-23 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          ak-word; text-indent: 2em; line-height: 24px; color: rgb(62, 62, 62); font-family: Tahoma, Arial, sans-serif; font-size: 14px; text-align: justify; ">產(chǎn)品往往工作在高電壓低電流的環(huán)境中,尤其是對(duì)于背光源一類(lèi)的產(chǎn)品,通常會(huì)使用極其微小的電流來(lái)進(jìn)行測(cè)試。而普通的電源在微小的電流輸出時(shí)會(huì)很容易進(jìn)入限流模式,導(dǎo)致電壓上升時(shí)間延遲。當(dāng)電流越小、電壓越高,則對(duì)應(yīng)的上升時(shí)間就越長(zhǎng)。艾德克斯IT6200系列直流電源,具有另一項(xiàng)獨(dú)特的測(cè)試模式——low current mode,可以解決這一問(wèn)題。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/222023.htm

          low current mode,顧名思義:微電流模式。在此模式下,IT6200系列電源可以微小電流啟動(dòng),并且電壓高速上升。打開(kāi)此模式后,輸出電壓的上升時(shí)間不會(huì)受微電流的大小改變而有所變動(dòng),大大加快電壓上升時(shí)間,縮短產(chǎn)品被點(diǎn)亮的時(shí)間,進(jìn)而提高測(cè)試效率和產(chǎn)能。

          例如,在對(duì)某電視機(jī)背光源的測(cè)試中,使用IT6200系列直流電源給其供電,測(cè)試在100mA的電流下進(jìn)行,那么,在打開(kāi)和關(guān)閉IT6200系列電源的low current mode時(shí),其電壓變化波形分別如下兩幅圖所示:

          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          在這兩幅圖中,左圖是啟用low current mode時(shí)的電壓上升曲線,右圖是未啟用該測(cè)試模式時(shí)的電壓上升曲線,對(duì)比兩幅圖中的電壓波形變化不難看出,當(dāng)啟用low current mode時(shí),電壓上升時(shí)間縮短,LED產(chǎn)品很快能夠被點(diǎn)亮。如果測(cè)試的電流再小一些,結(jié)果又會(huì)如何?現(xiàn)在,再用IT6200系列電源來(lái)測(cè)試一款手機(jī)背光源,設(shè)定測(cè)試電流值1mA。下圖是分別打開(kāi)和關(guān)閉IT6200系列電源的low current mode時(shí),其電壓變化的曲線:

          如何提高LED光性能測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

          可以看出,當(dāng)測(cè)試電流更加微小時(shí),如果不使用Low current mode(即相當(dāng)于普通的電源),則經(jīng)過(guò)很長(zhǎng)一段時(shí)間的等待以后,電壓仍然無(wú)法上升到設(shè)定值,也就是說(shuō)待測(cè)LED一直未被點(diǎn)亮,無(wú)法開(kāi)始測(cè)試。而當(dāng)使用了IT6200系列電源的low current mode以后,電壓快速上升到設(shè)定值,繼而點(diǎn)亮待測(cè)LED,開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。

          結(jié)論

          面對(duì)LED產(chǎn)業(yè)的巨大商機(jī)和美好前景,艾德克斯IT6200系列直流電源供應(yīng)器以其保護(hù)LED壽命、提高LED測(cè)試效率的顯著優(yōu)勢(shì),雙范圍、高壓測(cè)試等為L(zhǎng)ED測(cè)試所專(zhuān)門(mén)打造的功能特點(diǎn),成為L(zhǎng)ED產(chǎn)業(yè)以及LED測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)、集成廠商首屈一指的選擇。


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