淺談借助靜電測試提高LED品質(zhì)
結(jié)論
本文對所開發(fā)高速大動(dòng)態(tài)范圍LED晶圓靜電量測模組,使輸出電壓可涵蓋規(guī)范靜電分類之最小電壓250V至最大電壓8000V大動(dòng)態(tài)范圍;并縮短低電壓切換至高電壓上升時(shí)間至80ms以內(nèi),未來將進(jìn)行小型試量產(chǎn)與至客戶端進(jìn)行耐久測試,并視商品化需求進(jìn)行修改,以達(dá)高速與大動(dòng)態(tài)范圍LED晶粒線上檢測與分類目的。于應(yīng)用方面除可用于LED靜電測試外主,搭配探針點(diǎn)測技術(shù)可應(yīng)用于半導(dǎo)體BGA、CSP(Chip Scale Package)、FC(Flip Chip)微小元件晶圓靜電測試。進(jìn)一步應(yīng)用包括可用于X-ray Tubes、Photomultiplier Tubes、Electron Beam Focusing等。
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