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          AXI技術(shù)方興未艾 LED照明裝備技術(shù)顯神通

          作者: 時(shí)間:2013-09-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          投資規(guī)模越來越大,工藝要求越來越高,產(chǎn)品可靠性越來越受重視,現(xiàn)代電子組裝業(yè)正發(fā)生著巨大的變化。在此基礎(chǔ)上,對(duì)于生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備的要求也越來越高。

            自動(dòng)X射線檢測(cè)無疑是一個(gè)重要的檢測(cè)技術(shù)發(fā)展方向,能滿足高品質(zhì)、高密度、小型化、高效率和大批量的電子產(chǎn)品生產(chǎn)要求。

            目前,國(guó)內(nèi)自主研發(fā)的微焦斑X射線檢測(cè)設(shè)備,能滿足多種復(fù)雜工藝的檢測(cè)要求和圖像處理需求,且設(shè)備性能高、成本低。針對(duì)不同應(yīng)用設(shè)計(jì)不同的檢測(cè)方案,AXI為電子制造企業(yè)達(dá)到提高“一次通過率”和“零缺陷”的目標(biāo),提供了一種有效的檢測(cè)手段。

          AXI技術(shù)方興未艾 LED照明裝備技術(shù)顯神通

            圖為日聯(lián)科技檢測(cè)設(shè)備生產(chǎn)車間

            新興檢測(cè)技術(shù)興起

            AXI是對(duì)ICT、AOI檢測(cè)能力不足的有力補(bǔ)充,不僅可對(duì)不可見焊點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè),還可對(duì)檢測(cè)結(jié)果定性、定量分析,以便及早發(fā)現(xiàn)故障。

            隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,封裝的小

          型化、組裝的高密度化以及各種新型封裝技術(shù)不斷涌現(xiàn),電子組裝對(duì)質(zhì)量的要求也越來越高,基于此,對(duì)于生產(chǎn)檢測(cè)技術(shù)也提出了更高的要求。為滿足這一要求,新的檢測(cè)技術(shù)不斷出現(xiàn),其中,自動(dòng)X射線檢測(cè)技術(shù)是目前新興檢測(cè)技術(shù)中的典型代表。

            AXI是對(duì)ICT、AOI檢測(cè)能力不足的有力補(bǔ)充,具有不可替代性,它不僅可對(duì)不可見焊點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè),還可對(duì)檢測(cè)結(jié)果定性、定量分析,以便及早發(fā)現(xiàn)故障。通過使用AXI,可以使電子產(chǎn)品的檢測(cè)能力得到較高的提升。

            可以說,AXI為達(dá)到提高“一次通過率”和“零缺陷”的目標(biāo)提供了一種有效的檢測(cè)手段?!?/P>

            AXI檢測(cè)原理是在組裝好的線路板(PCBA)沿導(dǎo)軌進(jìn)入機(jī)器內(nèi)部后,位于線路板上方的X射線發(fā)射管發(fā)射出的X射線穿過線路板,被置于下方的探測(cè)器接收,由于焊點(diǎn)中含有可以大量吸收X射線的鉛,因此與穿過玻璃纖維、銅、硅等其他材料的X射線相比,照射在焊點(diǎn)上的X射線會(huì)被大量吸收,在輸出圖像中顯示黑點(diǎn),從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)可靠的焊點(diǎn)缺陷檢測(cè)。

            目前X射線無損檢測(cè)技術(shù)大致可以分為三大類:基于2D圖像的X射線檢測(cè)分析技術(shù);基于2D圖像,具有最高放大倍數(shù)的傾斜視圖的X射線檢測(cè)分析技術(shù);3DX射線檢測(cè)分析技術(shù)。前兩種屬于直射式光學(xué)檢測(cè)技術(shù),后一種屬于斷層刨面X光檢測(cè)技術(shù)。

            目前看來,相比其他類型的檢測(cè)技術(shù),AXI檢測(cè)技術(shù)具備以下特點(diǎn):

            一是對(duì)工藝缺陷的覆蓋率高達(dá)97%。可檢測(cè)的缺陷包括虛焊、橋連、立碑、焊料不足、氣孔、器件漏裝、平整度等,尤其是X射線對(duì)BGA、CSP等焊點(diǎn)隱藏器件也可以進(jìn)行檢查;

            二是較高的測(cè)試覆蓋度,可以對(duì)肉眼和在線檢測(cè)不到的地方進(jìn)行檢測(cè)。比如PCBA被判斷故障時(shí),懷疑是PCB內(nèi)層走線斷裂,X射線可以很快地進(jìn)行檢查;

            三是檢測(cè)的準(zhǔn)備時(shí)間大大縮短;

            四是能觀察到其他測(cè)試手段無法可靠探測(cè)到的缺陷,比如虛焊、空氣孔和成像不良等;


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