LED分選方式：芯片與封裝
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LED通常按照主波長、發(fā)光強(qiáng)度、光通亮、色溫、工作電壓、反向擊穿電壓等幾個(gè)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測試與分選。LED的測試與分選是LED生產(chǎn)過程中的一項(xiàng)必要工序。目前，它是許多LED芯片和封裝廠商的產(chǎn)能瓶頸，也是LED芯片生產(chǎn)和封裝成本的重要組成部分。
1、LED的分選方法
LED的分選有兩種方法：一是以芯片為基礎(chǔ)的測試分選，二是對封裝好的LED進(jìn)行測試分選。
?。?）芯片的測試分選
LED芯片分選難度很大，主要原因是LED芯片尺寸一般都很小，從9mil到14mil（0.22-0.35nm）。這樣小的芯片需要微探針才能夠完成測試，分選過程需要精確的機(jī)械和圖像識別系統(tǒng)，這使得設(shè)備的造價(jià)變得很高，而且測試速度受到限制?，F(xiàn)在的LED芯片測試分選機(jī)價(jià)格約在100萬元人民幣臺，其測試速度在每小時(shí)10000只左右。如果按照每月25天計(jì)算，每一臺分選機(jī)的產(chǎn)能為每月5KK.
目前，芯片的測試分選有兩種方法：
一種方法是測試分選由同一臺機(jī)器完成，它的優(yōu)點(diǎn)是可靠，但速度很慢，產(chǎn)能低；
另一種方法是測試和分選由兩臺機(jī)器完成，測試設(shè)備記錄下每個(gè)芯片的位置和參數(shù)，然后把這些數(shù)據(jù)傳遞到分選設(shè)備上，進(jìn)行快速分選、這樣做的優(yōu)點(diǎn)是快速，但缺點(diǎn)是可靠性比較低，容易出錯(cuò)，因?yàn)樵跍y試與分選兩個(gè)步驟之間通常還有襯底減薄和芯片分離的工藝過程，而在這個(gè)過程中，外延片有可能碎裂、局部殘缺碎裂或局部殘缺，使得實(shí)際的芯片分布與儲存在分選機(jī)里的數(shù)據(jù)不符，造成分選困難。
從根本上解決芯片測試分選瓶頸問題的關(guān)鍵是改善外延片均勻性。如果一片外延片波長分布在2nm之內(nèi)，亮度的變化在+15%之內(nèi)，則可以將這個(gè)片子上的所有芯片歸為一檔（Bin），只要通過測試把不合格的芯片去除即可，將大大增加芯片的產(chǎn)能和降低芯片的成本。在均勻性不是很好的情況下，也可以用測試并把 “不合格產(chǎn)品較多”的芯片區(qū)域用噴墨涂抹的方式處理掉，從而快速地得到想要的“合格”芯片，但這樣做的成本太高，會把很多符合其他客房要求的芯片都做為不合格證的廢品處理，最后核算出的芯片成本可能是市場無法接受的水平。
?。?）LED的測試分選
封裝后的LED可以按照波長、發(fā)光強(qiáng)度、發(fā)光角度以及工作電壓等進(jìn)行測試分選。其結(jié)果是把LED分成很多檔（Bin）和類別，然后測試分選機(jī)會自動(dòng)地根據(jù)設(shè)定的測試標(biāo)準(zhǔn)把LED分裝在不同的Bin盒內(nèi)。由于人們對于LED的要求越來越高，早期的分選機(jī)是32Bin,后來增加到64Bin,現(xiàn)在已有 72Bin的商用分選機(jī)。即使這樣，分Bin的LED技術(shù)指標(biāo)仍然無法滿足生產(chǎn)和市場的需求。
LED測試分選機(jī)是在一個(gè)特定的工作臺電流下（如20mA），對LED進(jìn)行測試，一般還會做一個(gè)反向電壓值的測試?，F(xiàn)在的LED測試分選機(jī)價(jià)格約在 40~50萬人民幣/臺，其測試速度在每小時(shí)18000只左右。如果按照每月25天，每天20小時(shí)的工作時(shí)間計(jì)算，每一臺分選機(jī)的產(chǎn)能為每月9KK.
大型顯示屏或其他高檔應(yīng)用客戶，對LED的質(zhì)量要求較高。特別是在波長與亮度一致性的要求上很嚴(yán)格。假如LED封裝廠在芯片采購時(shí)沒有提出嚴(yán)格的要求，則這些封裝廠在大量的封裝后會發(fā)現(xiàn)，封裝好的LED中只有很少數(shù)量的產(chǎn)品能滿足某一客戶的要求，其余大部分將變成倉庫里的存貨。這種情形迫使LED封裝廠在采購LED芯片時(shí)提出嚴(yán)格的要求，特別是波長、亮度和工作臺電壓的指標(biāo)；比如，過去對波長要求是+2nm,而現(xiàn)在則要求為+1nm,甚至在某些應(yīng)用上，已提出+0.5nm的要求。這樣對于芯片廠就產(chǎn)生了巨大的壓力，在芯片銷售前必須進(jìn)行嚴(yán)格的分選。
從以上關(guān)于LED與LED芯片分選取的分析中可以看出，比較經(jīng)濟(jì)的做法是對LED進(jìn)行測試分選。但是由于LED的種類繁多，有不同的形式，不現(xiàn)的形狀，不同的尺寸，不同的發(fā)光角度，不同的客戶要求，不同的應(yīng)用要求，這使用權(quán)得完全通過LED測試分選取進(jìn)行產(chǎn)品的分選變得很難操作。而且目前LED的應(yīng)用主要分布在幾個(gè)波長段和亮度段的范圍，一個(gè)封裝廠很難準(zhǔn)備全部客戶需要的各種形式和種類的LED.所以問題的關(guān)鍵又回到MOCVD的外延工藝過程，如何生長出所需波長及亮度的LED外延片是降低成本的關(guān)鍵點(diǎn)，這個(gè)問題不解決，LED的產(chǎn)能及成本仍將得不到完全解決。但在外延片的均勻度得到控制以前，比較行之有效的方法是解決快速低成本的芯片分選問題。
2、分選設(shè)備
目前，LED芯片的測試分選設(shè)備主要由美國和日本廠商提供，而LED的測試分選設(shè)備大多由臺灣地區(qū)、香港廠商提供，中國大陸還沒有能提供類似設(shè)備的廠家。LED芯片分選機(jī)主要包括兩大硬件部分（機(jī)器手、微探針和光電測試儀）和一套系統(tǒng)軟件，而這三部分分別由不同廠家提供再集成起來；而LED測試分選取機(jī)則包括LED的機(jī)械傳輸，儲存和光電測試兩部分。
3、LED分選取技術(shù)發(fā)展趨勢
?。?）在外延片的均勻度得到控制以前，研發(fā)快速低成本芯片分選工藝和設(shè)備。
?。?）隨著W級功率LED技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)LED產(chǎn)品參數(shù)檢測標(biāo)準(zhǔn)及測試方法已不能滿足照明應(yīng)用的需要，須開發(fā)全新的測試標(biāo)準(zhǔn)和方法，包含更多的與照明相關(guān)的光學(xué)內(nèi)容。
（3）在LED系統(tǒng)壽命測試中，研發(fā)LED系統(tǒng)的長期性能和壽命快速測定評價(jià)技術(shù)。
?。?）照明用LED是處于大電流驅(qū)動(dòng)下工作，這就對其提出更高的可靠性要求。傳統(tǒng)LED的篩選方式不合適照明用大功率LED,必須開發(fā)新的篩選試驗(yàn)辦法，剔除早期失效品，保證產(chǎn)品的可靠性。
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