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          高密度、可見光LED的生產(chǎn)測(cè)試

          作者: 時(shí)間:2011-07-15 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          電探測(cè)器的避光外殼

            7. 用于連接數(shù)字源表9針公D型輔助接頭與元件機(jī)械手的定制數(shù)字I/O線

            8. 用于連接測(cè)試設(shè)備與DUT和光電探測(cè)器的定制線束

            配置圖4中的系統(tǒng)需要下列設(shè)備:

            1. 2400型數(shù)字源表

            2. 6517A型靜電計(jì)/高電阻系統(tǒng)

            3. 7001型(或7002型)開關(guān)主機(jī)

            4. 7011型四1x10多路復(fù)用卡(每個(gè)卡可支持20對(duì)/PD)

            5. 三條8501型Trigger Link線纜

            6. 三條7007型IEEE-488接口線

            7. KPCI-488型IEEE-488計(jì)算機(jī)PC接口板

            8. 用于連接測(cè)試設(shè)備與待測(cè)器件的定制線束

            配置圖5中的系統(tǒng)需要下列設(shè)備:

            1. 2400型數(shù)字源表

            2. 兩條8501型Trigger Link線纜

            3. 8505型Trigger Link Y型適配器

            4. 三條7007型IEEE-488接口線

            5. KPCI-488型IEEE-488計(jì)算機(jī)PC接口板

            6. 安裝在測(cè)試夾具中的經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的光電探測(cè)器

            7. 用于連接測(cè)試設(shè)備與待測(cè)器件的定制線束


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