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          光電二極管檢測電路的工作原理及設(shè)計方案

          作者: 時間:2011-10-03 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

             光電二極管及其相關(guān)的前置放大器是基本物理量和電子量之間的橋梁。許多精密應(yīng)用領(lǐng)域需要檢測光亮度并將之轉(zhuǎn)換為有用的數(shù)字信號。可用于CT掃描儀、血液分析儀、煙霧檢測器、位置傳感器、紅外高溫計和色譜分析儀等系統(tǒng)中。在這些電路中,光電二極管產(chǎn)生一個與照明度成比例的微弱電流。而前置放大器將光電二極管傳感器的電流輸出信號轉(zhuǎn)換為一個可用的電壓信號。看起來好象用一個光電二極管、一個放大器和一個電阻便能輕易地實現(xiàn)簡單的電流至電壓的轉(zhuǎn)換,但這種應(yīng)用電路卻提出了一個問題的多個側(cè)面。為了進(jìn)一步擴(kuò)展應(yīng)用前景,單電源電路還在電路的運(yùn)行、及噪聲處理方面顯示出新的限制。

            本文將分析并通過模擬驗證這種典型應(yīng)用電路的及噪聲性能。首先探討電路工作原理,然后如果讀者有機(jī)會的話,可以運(yùn)行一個程序,它會很形象地說明電路原理。以上兩步是完成設(shè)計過程的開始。第三步也是最重要的一步(本文未作討論)是制作實驗?zāi)M板。

            1 的基本組成和工作原理

            設(shè)計一個精密的最常用的方法是將一個光電二極管跨接在一個CMOS輸入放大器的輸入端和反饋環(huán)路的電阻之間。這種方式的單電源電路示于圖1中。

            在該電路中,光電二極管工作于光致電壓(零偏置)方式。光電二極管上的入射光使之產(chǎn)生的電流ISC從負(fù)極流至正極,如圖中所示。由于CMOS放大器反相輸入端的輸入阻抗非常高,二極管產(chǎn)生的電流將流過反饋電阻RF。輸出電壓會隨著電阻RF兩端的壓降而變化。

            圖中的放大系統(tǒng)將電流轉(zhuǎn)換為電壓,即

            VOUT = ISC ×RF (1)

            光電二極管檢測電路的工作原理及設(shè)計方案

          圖1 單電源光電二極管檢測電路

            式(1)中,VOUT是運(yùn)算放大器輸出端的電壓,單位為V;ISC是光電二極管產(chǎn)生的電流,單位為A;RF是放大器電路中的反饋電阻,單位為W 。圖1中的CRF是電阻RF的寄生電容和電路板的分布電容,且具有一個單極點(diǎn)為1/(2p RF CRF)。

            用SPICE可在一定頻率范圍內(nèi)模擬從光到電壓的轉(zhuǎn)換關(guān)系。模擬中可選的變量是放大器的反饋元件RF。用這個模擬程序,激勵信號源為ISC,輸出端電壓為VOUT。

            此例中,RF的缺省值為1MW ,CRF為0.5pF。理想的光電二極管模型包括一個二極管和理想的電流源。給出這些值后,傳輸函數(shù)中的極點(diǎn)等于1/(2p RFCRF),即318.3kHz。改變RF可在信號頻響范圍內(nèi)改變極點(diǎn)。

            遺憾的是,如果不考慮和噪聲等問題,這種簡單的方案通常是注定要失敗的。例如,系統(tǒng)的階躍響應(yīng)會產(chǎn)生一個其數(shù)量難以接受的振鈴輸出,更壞的情況是電路可能會產(chǎn)生振蕩。如果解決了系統(tǒng)不穩(wěn)定的問題,輸出響應(yīng)可能仍然會有足夠大的“噪聲”而得不到可靠的結(jié)果。

            實現(xiàn)一個穩(wěn)定的光檢測電路從理解電路的變量、分析整個傳輸函數(shù)和設(shè)計一個可靠的電路方案開始。設(shè)計時首先考慮的是為光電二極管響應(yīng)選擇合適的電阻。第二是分析穩(wěn)定性。然后應(yīng)評估系統(tǒng)的穩(wěn)定性并分析輸出噪聲,根據(jù)每種應(yīng)用的要求將之調(diào)節(jié)到適當(dāng)?shù)乃健?/P>

            這種電路中有三個設(shè)計變量需要考慮分析,它們是:光電二極管、放大器和R//C反饋網(wǎng)絡(luò)。首先選擇光電二極管,雖然它具有良好的光響應(yīng)特性,但二極管的寄生電容將對電路的噪聲增益和穩(wěn)定性有極大的影響。另外,光電二極管的并聯(lián)寄生電阻在很寬的溫度范圍內(nèi)變化,會在溫度極限時導(dǎo)致不穩(wěn)定和噪聲問題。為了保持良好的線性性能及較低的失調(diào)誤差,運(yùn)放應(yīng)該具有一個較小的輸入偏置電流(例如CMOS工藝)。此外,輸入噪聲電壓、輸入共模電容和差分電容也對系統(tǒng)的穩(wěn)定性和整體精度產(chǎn)生不利的影響。最后,R//C反饋網(wǎng)絡(luò)用于建立電路的增益。該網(wǎng)絡(luò)也會對電路的穩(wěn)定性和噪聲性能產(chǎn)生影響。

            2 光檢測電路的SPICE模型

            2.1 光電二極管的SPICE模型

            一個光電二極管有兩種工作方式:光致電壓和光致電導(dǎo),它們各有優(yōu)缺點(diǎn)。在這兩種方式中,光照射到二極管上產(chǎn)生的電流ISC方向與通常的正偏二極管正常工作時的方向相反,即從負(fù)極到正極。

            光電二極管的工作模型示于圖2中,它由一個被輻射光激發(fā)的電流源、理想的二極管、結(jié)電容和寄生的串聯(lián)及并聯(lián)電阻組成。

            光電二極管檢測電路的工作原理及設(shè)計方案

          圖2 非理想的光電二極管模型

            當(dāng)光照射到光電二極管上時,電流便產(chǎn)生了,不同二極管在不同環(huán)境中產(chǎn)生的電流ISC、具有的CPD、RPD值以及圖中放大器輸出電壓為0~5V所需的電阻RF值均不同,例如SD-020-12-001硅光電二極管,在正常直射陽光(1000fc[英尺-燭光])時,ISC=30m A、CPD=50pF、RPD=1000MW 、RF=167kW ;睛朗白天(100fc)時,ISC = 3m A、CPD=50pF、RPD= 1000 MW 、RF=1.67MW ;桌上室內(nèi)光(1.167fc)時,ISC=35nA、CPD=50pF、RPD=1000MW 、RF=142.9MW ??梢姽庹詹煌瑫r,ISC有顯著變化,而CPD、RPD基本不變。

            工作于光致電壓方式下的光電二極管上沒有壓降,即為零偏置。在這種方式中,為了光靈敏度及線性度,二極管被應(yīng)用到最大限度,并適用于精密應(yīng)用領(lǐng)域。影響電路性能的關(guān)鍵寄生元件為CPD和RPD,它們會影響光檢測電路的頻率穩(wěn)定性和噪聲性能。

            結(jié)電容CPD是由光電二極管的P型和N型材料之間的耗盡層寬度產(chǎn)生的。耗盡層窄,結(jié)電容的值大。相反,較寬的耗盡層(如PIN光電二極管)會表現(xiàn)出較寬的頻譜響應(yīng)。硅二極管結(jié)電容的數(shù)值范圍大約從20或25pF到幾千pF以上。結(jié)電容對穩(wěn)定性、帶寬和噪聲等性能產(chǎn)生的重要影響將在下面討論。

            在光電二極管的數(shù)據(jù)手冊中,寄生電阻RPD也稱作“分流”電阻或“暗”電阻。該電阻與光電二極管零偏或正偏有關(guān)。在室溫下,該電阻的典型值可超過100MW 。對于大多數(shù)應(yīng)用,該電阻的影響可被忽略。

            分流電阻RPD是主要的噪聲源,這種噪聲在圖2中示為ePD。RPD產(chǎn)生的噪聲稱作散粒噪聲(熱噪聲),是由于載流子熱運(yùn)動產(chǎn)生的。

            二極管的第二個寄生電阻RS稱為串聯(lián)電阻,其典型值從10W 到1000W 。由于此電阻值很小,它僅對電路的頻率響應(yīng)有影響。光電二極管的漏電流IL是引發(fā)誤差的第四個因素。如果放大器的失調(diào)電壓為零,這種誤差很小。

            與光致電壓方式相反,光致電導(dǎo)方式中的光電二極管具有一個反向偏置電壓加至光傳感元件的兩端。當(dāng)此電壓加至光檢測器上時,耗盡層的寬度會增加,從而大幅度地減小寄生電容CPD的值。寄生電容值的減小有利于高速工作,然而,線性度和失調(diào)誤差尚未最優(yōu)化。這個問題的折衷設(shè)計將增加二極管的漏電流IL和線性誤差。

            下面將集中討論光致電壓方式下的光電二極管的應(yīng)用領(lǐng)域。

            2.2 運(yùn)放的SPICE模型

            運(yùn)算放大器具有范圍較寬的技術(shù)指標(biāo)及性能參數(shù),它對光檢測電路的穩(wěn)定性和噪聲性能影響很少。其主要參數(shù)示于圖3的模型中,它包括一個噪聲源電壓、每個輸入端的寄生共模電容、輸入端之間的寄生電容及與頻率有關(guān)的開環(huán)增益。

            輸入差分電容CDIFF和輸入共模電容CCM是直接影響電路穩(wěn)定性和噪聲性能的寄生電容。這些寄生電容在數(shù)據(jù)手冊中通常規(guī)定為典型值,基本不隨時間和溫度變化。

            另一個涉及到輸入性能的是噪聲電壓,該參數(shù)可模擬為運(yùn)放同相輸入端的噪聲源。此噪聲源為放大器產(chǎn)生的所有噪聲的等效值。利用此噪聲源可建立放大器的全部頻譜模型,包括1/f噪聲或閃爍噪聲以及寬帶噪聲。討論中假設(shè)采用CMOS輸入放大器,則輸入電流噪聲的影響可忽略不計。

            光電二極管檢測電路的工作原理及設(shè)計方案

          圖3 非理想的運(yùn)放模型

            當(dāng)運(yùn)行SPICE噪聲模擬程序時,必須使用一個獨(dú)立的交流電壓源或電流源。為了模擬放大器的輸入噪聲RTI,一個獨(dú)立的電壓源VIN應(yīng)加在放大器的同相輸入端。另外,電路中的反饋電阻保持較低值(100W ),以便在評估中不影響系統(tǒng)噪聲。


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