MEMS加速計(jì)校準(zhǔn)提升工業(yè)應(yīng)用中的精度
電源誤差:某些精度要求將要求對電源變化的影響進(jìn)行特性化。當(dāng)需要時(shí),可以在不同的電源電平上采用相同的四點(diǎn)跌落測試,來采集合適的曲線擬合所需的數(shù)據(jù)。曲線擬合的復(fù)雜度與精度目標(biāo)和誤差自身的性質(zhì)無關(guān)。結(jié)果將是一系列用于每個(gè)電源條件的校準(zhǔn)系數(shù)。
溫度誤差:為了在溫度變化時(shí)保持1%的誤差,應(yīng)該考慮用于靈敏度和偏移的溫度系數(shù)。
靈敏度=0.3%(典型范圍,-40°C到+125°C)
偏移=0.1mg/°C(典型值)
對于快速估計(jì),這些值可以翻倍(假設(shè)2倍)并結(jié)合下式:
溫度的綜合誤差為: 如果最大的加速測量為1g,該比值可以在維持1%綜合熱誤差目標(biāo)的條件下,被用來計(jì)算溫度可以變化的范圍: 有可能將根據(jù)該校準(zhǔn)過程計(jì)算出來的校正因子施加到許多數(shù)字平臺上。這些例子包括微控制器,數(shù)字信號處理,現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA),以及其他可編程邏輯器件。校正公式所需的處理器資源將會影響到處理器的選擇,但在許多工業(yè)系統(tǒng)中,處理器還有更高要求的需求。校正所需的數(shù)學(xué)功能還是相對簡單的:(1)通過增加運(yùn)算來消除偏移/偏置誤差,(2)利用多重操作消除量化誤差。
在應(yīng)用中,工業(yè)系統(tǒng)在工作條件方面的變化將影響MEMS加速計(jì)的偏置和靈敏度。最常見的影響這些特性的工作條件是電源電壓和環(huán)境溫度。電源電壓的變化范圍可能高達(dá)10%,而每套工業(yè)系統(tǒng)有其自身的溫度范圍要求。
如果工作條件引起的變化超出了系統(tǒng)性能的許可范圍,則需要在多種工作條件下執(zhí)行四點(diǎn)跌落測試,目的是繪制誤差特性,并生成校準(zhǔn)系數(shù)表。這些系數(shù)的最終完成就像下圖中所示那樣。這種情況下的校準(zhǔn)表中有三個(gè)變量,其中包括一組用于工作條件超差的變量,這些可以用于頻率響應(yīng)或者各種其他條件。
校準(zhǔn)信號流
在部署加速計(jì)校準(zhǔn)功能過程中最為重要的是建立有價(jià)值的性能目標(biāo)。對于本文中指出并討論的風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域,開發(fā)商應(yīng)知道校準(zhǔn)并非隨意的,但還是有大量的增值機(jī)會,如果最終目標(biāo)明確的話。實(shí)際上,研發(fā)性能目標(biāo)不僅局限在工程領(lǐng)域,而是要考慮到進(jìn)度風(fēng)險(xiǎn)(損失收入),性能風(fēng)險(xiǎn)(達(dá)不到客戶要求)以及成本過高風(fēng)險(xiǎn)(丟失市場)等。盡管性能的影響是基本的,但還要考慮實(shí)現(xiàn)該性能并一直到校準(zhǔn)所需的投資,所有這些都有助于工程師做出更好的綜合決策,因?yàn)樗麄兯紤]的問題是一個(gè)永恒的問題-即制造與購買的關(guān)系。
針對成本和性能的改善預(yù)期來說,通過與現(xiàn)成的商用解決方案-如ADI公司的ADIS16201全校準(zhǔn)的雙軸加速計(jì)/磁傾計(jì)進(jìn)行比較后,自然會發(fā)問,研發(fā)一個(gè)定制校準(zhǔn)和工藝所冒上述風(fēng)險(xiǎn)是否值得?相信文中所述內(nèi)容將有助于針對各種情況來回答這個(gè)問題。
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