使用NI軟件與PXI硬件，進(jìn)行高性能、點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)的 高級(jí)無(wú)線電系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試

"NI軟硬件平臺(tái)的功能與靈活性，可幫助我們有效開(kāi)發(fā)高度穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)、滿足客戶的所有需求，并能確保配合產(chǎn)品上市時(shí)間。"

- Stephen Patterson　氏, CPE Systems社

挑戰(zhàn):

設(shè)計(jì)并開(kāi)發(fā)高成本效益的測(cè)試系統(tǒng)，包含組件和不插電測(cè)試、設(shè)備編程、無(wú)線電信號(hào)分析和校準(zhǔn)功能，并要能針對(duì)高性能、點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)的高級(jí)無(wú)線電產(chǎn)品，達(dá)到無(wú)人工干預(yù)的產(chǎn)線測(cè)試，以用于遠(yuǎn)端監(jiān)控與數(shù)據(jù)采集(SCADA)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用。

解決方案:

基于NI PXI平臺(tái)、NI LabVIEW、NI TestStand、NI Switch Executive軟件創(chuàng)建測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)氣動(dòng)式測(cè)試設(shè)備連接至被測(cè)部件(UUT) - 包括射頻區(qū)域的自定義屏蔽，以實(shí)現(xiàn)高性能的射頻測(cè)試解決方案。

2008年，4RF Communications公司開(kāi)始著手開(kāi)發(fā)新的無(wú)線電產(chǎn)品，以擴(kuò)充現(xiàn)有的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)長(zhǎng)距離無(wú)線產(chǎn)品。Aprisa SR是點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)的Smart SCADA無(wú)線電產(chǎn)品，可達(dá)12.5 kHz通道頻寬與9.6 kbps窄帶無(wú)線電的功能，以通過(guò)許可的400至470 MHz頻譜帶寬，普及用于石油、煤氣、公共事業(yè)的監(jiān)控應(yīng)用。Aprisa SR是針對(duì)需要高級(jí)安全功能的工業(yè)所設(shè)計(jì)的，可有效處理日益復(fù)雜的SCADA網(wǎng)絡(luò)，并評(píng)估IP構(gòu)架與智能型電網(wǎng)等公共建設(shè)。

Aprisa SR的完整功能，搭配其高穩(wěn)定性和精心設(shè)計(jì)的高級(jí)無(wú)線電平臺(tái)，使其可用于多種監(jiān)控應(yīng)用并滿足當(dāng)前和未來(lái)的需求。無(wú)線電另可設(shè)定為基地臺(tái)、遠(yuǎn)程工作站、中繼器，無(wú)縫集成至任何網(wǎng)路拓?fù)渲?(圖1)。且單個(gè)機(jī)箱即可支持大量序列與以太網(wǎng)接口，并內(nèi)建安全功能。

圖1.測(cè)試設(shè)備對(duì)射頻區(qū)域的屏蔽設(shè)計(jì)

項(xiàng)目難題

4RF Communications需要不同的測(cè)試方法來(lái)降低單位測(cè)試成本、高傳輸率，并要能適應(yīng)未來(lái)的新產(chǎn)品功能。因此4RF找到了測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)先廠商CPE Systems，設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)出了高成本效益的無(wú)線電測(cè)試系統(tǒng)。產(chǎn)品的測(cè)試需求包含組件測(cè)試、不插電測(cè)試、設(shè)備編程、無(wú)線電信號(hào)分析與校準(zhǔn)以及無(wú)人操作的自動(dòng)環(huán)境。

由于4RF Communications對(duì)中/大型測(cè)試設(shè)備所知有限，且內(nèi)部工程資源不足，因此外包了測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)工程。此開(kāi)發(fā)任務(wù)交到CPE Systems手上之后，我們隨機(jī)選用了NI PXI平臺(tái)，搭配LabVIEW與NI TestStand軟件，提供了具備最高成本效益的靈活測(cè)試解決方案。

測(cè)試開(kāi)發(fā)進(jìn)程

我們記錄了計(jì)劃中的測(cè)試目標(biāo)，并需達(dá)到下列特性：

· 板卡測(cè)試需在5分鐘內(nèi)完成

· 每月需能測(cè)試3000組產(chǎn)品

· 測(cè)試期間不能有人為干預(yù)

· 即使非技術(shù)人員也能操作

· 測(cè)試針可存取板卡另一邊的所有測(cè)試點(diǎn)

· 包含除錯(cuò)設(shè)備

· 可針對(duì)未來(lái)產(chǎn)品隨時(shí)擴(kuò)充，如更多的射頻頻帶與頻寬

我們將測(cè)試分為3大塊：

· DC Testing: 測(cè)試組件數(shù)值、電源供應(yīng)電壓、耗電量，以及低電壓關(guān)機(jī)、切換面板、LED指示燈的功能性測(cè)試。

· Built-In Self Test (BIST): 用于Boot loader與軟件安裝、測(cè)試RAM與閃存、確認(rèn)以太網(wǎng)的地址分配。我們將這些測(cè)試植入設(shè)備中，通過(guò)指令線路界面即可存取。