使用NI軟件與PXI硬件，進(jìn)行高性能、點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)的 高級(jí)無(wú)線電系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試

· 射頻功能性測(cè)試與校準(zhǔn)： 測(cè)試并校準(zhǔn)傳輸器、接收器、Aprisa SR板的系統(tǒng)功能。

圖2.最終測(cè)試系統(tǒng)

開(kāi)發(fā)難題

為了跟上產(chǎn)品開(kāi)發(fā)安排，我們必須配合產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測(cè)試系統(tǒng)，因此對(duì)其中5項(xiàng)板卡設(shè)計(jì)作出了變更。但又因?yàn)闇y(cè)試系統(tǒng)在設(shè)計(jì)之初，已考慮到其必要規(guī)格與靈活度，所以重新設(shè)計(jì)PCB也僅需對(duì)夾具進(jìn)行1項(xiàng)變更。在4RF Communication與CPE systems之間保持良好的通信，并建立項(xiàng)目、配置管理程序之后，NI軟硬件讓我們能確保達(dá)到同步開(kāi)發(fā)。

測(cè)試系統(tǒng)的主要限制之一，就是各組板卡需要5分鐘測(cè)試時(shí)間。因此需要優(yōu)化射頻校準(zhǔn)算法，確保達(dá)到高效率運(yùn)作。 而NI PXIe-5663矢量信號(hào)分析儀(VSA)與NI PXIe-5673矢量信號(hào)生成器(VSG)均可支持算法的優(yōu)化程序。

Aprisa SR的PCB組件包含射頻傳輸與接收電路，且必須連帶其外殼一起測(cè)試。所以我們也需考慮并納入射頻干擾與屏蔽的情況，再篩選夾具設(shè)計(jì)。 我們以產(chǎn)品的CAD模型容納射頻屏蔽外殼，構(gòu)成夾具頂板部分(圖3)。只要將板卡置于外殼之中，即可達(dá)到測(cè)試設(shè)備所研發(fā)的屏蔽功能。

圖3.Aprisa SR范例無(wú)線電設(shè)定

Aprisa SR無(wú)線電內(nèi)建數(shù)據(jù)加密功能，可產(chǎn)生仿真數(shù)據(jù)串流，以測(cè)試接收器敏感度。通過(guò)NI PXIe-5663 VNA，可讓NI PXIe-5673 VSG達(dá)到不同級(jí)別的無(wú)線電信號(hào)記錄與重復(fù)傳輸，再以實(shí)際數(shù)據(jù)測(cè)試接收器的敏感度。此方式也代表未來(lái)無(wú)需變更測(cè)試系統(tǒng)的軟件，即可改變加密程序。

NI軟硬件的關(guān)鍵作用

開(kāi)發(fā)射頻測(cè)試系統(tǒng)也包含管理程序的難題。除了需跨多個(gè)地點(diǎn)協(xié)調(diào)項(xiàng)目之外，也必須以高速測(cè)試復(fù)雜的射頻產(chǎn)品，并讓設(shè)備具備屏蔽功能。

NI軟硬件平臺(tái)的功能與靈活性，可幫助我們有效開(kāi)發(fā)高度穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)、滿足4RF公司的所有需求，并能確保配合產(chǎn)品上市時(shí)間。 最終我們擁有了低價(jià)位的自定義測(cè)試系統(tǒng)，它能夠測(cè)試并支持新款的高性能SCADA無(wú)線電產(chǎn)品的制造程序。

圖4.測(cè)試系統(tǒng)圖表顯示硬件組件與連接功能