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          Qualcomm Atheros使用NI VST進行802.11ac測試,改進測試速度和范圍

          作者: 時間:2013-02-04 來源:網(wǎng)絡 收藏

          圖2. 采用LabVIEW來設計NI矢量信號收發(fā)儀的FPGA,藉由數(shù)字方式來控制待測設備。

          傳統(tǒng)的堆疊式儀器測量通常會受限于最佳的評估增益表選項。 因此 的團隊必須通過反復評估才能找出最終的解決方案,每次評估都得還原增益表特性。 這是相當緩慢的流程,每次評估都會產(chǎn)生大約40個重要數(shù)據(jù)點。

          改用NI PXI矢量信號收發(fā)儀之后,測試速度變快了,所以我們可執(zhí)行完整的增益表掃頻,而不是去反覆評估。 這樣一來, 的團隊即可在單一設備的每次測試掃頻中,全面測試無線電運作的特性,進而采集全部共300,000個數(shù)據(jù)點,以便確切判斷出最理想的運作設置。 鑒于這樣的數(shù)據(jù)操作流程,我們能以前所未有的方式掌握設備的運作狀況,負責團隊即可探索以前從未設想過的運作機制。

          圖3.就傳統(tǒng)儀器而言,每次測試大約會取得40個重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀(VST)的測試速度非常快,因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻,進而采集共300,000個數(shù)據(jù)點。

          我們通過儀器的射頻前端元件直接同步處理數(shù)字控制時序,測試速度比以前的PXI解決方案快了20倍以上,甚至超越原本的傳統(tǒng)儀器解決方案200倍之多。

          圖4. Qualcomm Atheros通過儀器的射頻前端元件直接同步處理數(shù)字控制時序,測試速度比以前的PXI解決方案快了20倍以上,甚至超越原本的傳統(tǒng)儀器解決方案200倍之多。

          提供更佳的靈活性、自由度和測試性能

          對Qualcomm Atheros來說,儀器的靈活性與精密控制非常重要,因為這可以有效提升射頻測試流程的效率,所以我們使用NI全新的矢量信號收發(fā)儀時,優(yōu)異的測試性能讓人非常滿意。 我們?yōu)榭蛻糸_發(fā)802.11ac解決方案的過程中,NI PXIe-5644R為我們帶來了自由度和靈活性,并大大提高了我們的測試吞吐量。

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