挑戰(zhàn)毫微安小電流測量技術(shù)
加入技術(shù)交流群
這些應(yīng)用使你確信測量小電流的困難。另外，也足以說明在這種高要求應(yīng)用中使用經(jīng)過驗證的器件與設(shè)備的價值，無論是 Analog Devices 的 AD549、國家半導(dǎo)體公司的 LMC660、TI 的 DDC114 積分電路、Keithley 的 2400 參數(shù)測試單元，還是 Agilent 的 4156 參數(shù)測量單元。不過也要記住這些非凡的器件和儀器并不是魔盒。只有消除了電路板或測試裝置中的噪聲源和泄漏路徑，才能夠發(fā)揮它們的優(yōu)點(diǎn)。了解運(yùn)放針對電壓和電流噪聲的規(guī)范將有助于選擇正確的器件（參考文獻(xiàn) 10）。同時，如果你的老板想要知道為什么你買芯片要花 5美元或 10 美元，而一個電表卻要幾千美元，現(xiàn)在你可以解釋給他聽，因為考慮測量小電流的各種挑戰(zhàn)，這種設(shè)備真不算貴。
參考文獻(xiàn)
1. Long, James, "Sidebands be gone, or let there be (no) light," EDN, Oct 12, 2006, pg 40.
2. "AC current probes".
3. Mancini, Ron, "The nuances of op-amp integrators," EDN, March 18, 2004, pg 28.
4. Pease, Bob, "What's All This Teflon Stuff, Anyhow?" Feb 14, 1991.
5. Pease, Bob, "What's All This Femtoampere Stuff, Anyhow?" Sept
2, 1993.
6. www.national.com/nationaltv.
7. Daire, Adam, "Counting Electrons: How to measure currents in the attoampere range," Keithley Instruments Inc, September 2005.
8. www.keithley.com/wb/141.
9. "Quad Current Input 20-Bit Analog-to-Digital Converter," Texas Instruments Inc, June 2005.
10. Brisebois, Glen, "Op Amp Selection Guide for Optimum Noise Performance," Linear Technology Design Note 355, January 2005.
評論