挑戰(zhàn)毫微安小電流測量技術(shù)
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這些應用使你確信測量小電流的困難。另外，也足以說明在這種高要求應用中使用經(jīng)過驗證的器件與設(shè)備的價值，無論是 Analog Devices 的 AD549、國家半導體公司的 LMC660、TI 的 DDC114 積分電路、Keithley 的 2400 參數(shù)測試單元，還是 Agilent 的 4156 參數(shù)測量單元。不過也要記住這些非凡的器件和儀器并不是魔盒。只有消除了電路板或測試裝置中的噪聲源和泄漏路徑，才能夠發(fā)揮它們的優(yōu)點。了解運放針對電壓和電流噪聲的規(guī)范將有助于選擇正確的器件（參考文獻 10）。同時，如果你的老板想要知道為什么你買芯片要花 5美元或 10 美元，而一個電表卻要幾千美元，現(xiàn)在你可以解釋給他聽，因為考慮測量小電流的各種挑戰(zhàn)，這種設(shè)備真不算貴。
參考文獻
1. Long, James, "Sidebands be gone, or let there be (no) light," EDN, Oct 12, 2006, pg 40.
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4. Pease, Bob, "What's All This Teflon Stuff, Anyhow?" Feb 14, 1991.
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8. www.keithley.com/wb/141.
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10. Brisebois, Glen, "Op Amp Selection Guide for Optimum Noise Performance," Linear Technology Design Note 355, January 2005.
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