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          一種適用于UHF頻段RFID 近場(chǎng)天線的阻抗測(cè)量方法

          作者: 時(shí)間:2012-02-14 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            圖 5 是這款天線加工實(shí)物的阻抗測(cè)量照片,可以看出天線直接外接出一根長(zhǎng)為l 的同軸線和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相連接。表格I 給出了天線測(cè)量時(shí)的主要尺寸。

            2 De-embedding 技術(shù)

            通過(guò)第一節(jié)的方法,可以得出帶有同軸線參數(shù)的NFRA 回波損耗參數(shù)。De-embedding技術(shù)就是用來(lái)消除同軸線參數(shù)的影響得到NFRA 真實(shí)阻抗的一種技術(shù)[5,6]。圖6 給出了使用De-embedding 技術(shù)測(cè)量的等效電路模型,其中,同軸線被一段長(zhǎng)為l 的傳輸線等效

            3 測(cè)量結(jié)果

            圖 7 給出的是沒(méi)有添加時(shí)的S 參數(shù)的測(cè)量值和仿真結(jié)果的比較,可以看出測(cè)量的結(jié)果和使用HFSS 軟件得到的仿真結(jié)果基本吻合。仿真結(jié)果的回波損耗在865MHz-868MHz 很小,這將會(huì)導(dǎo)致仿真的阻抗值的不精確??梢钥闯?,在865MHz-868MHz,

            仿真得出的回波損耗為0.88dB 而測(cè)量得出的回波損耗為1.3dB.



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