一種適用于UHF頻段RFID 近場(chǎng)天線的阻抗測(cè)量方法

圖 8 中我們比較了仿真和測(cè)量的阻抗值。從阻抗比較的小比例圖可以看出，天線的阻抗隨著頻率變化劇烈，這意味著匹配后天線的帶寬很窄。在 866MHz，仿真得到的阻抗值為366.9+j467.03(Ohm)，而de-embedding 后測(cè)量得到的阻抗值為 460.8+j309(Ohm)，二者的Q值相差了0.6 左右。對(duì)于窄帶的匹配，任何Q 值的微小差異都會(huì)導(dǎo)致匹配的失敗，所以精確的阻抗測(cè)量對(duì)于匹配網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)至關(guān)重要。這也是我們要對(duì)天線測(cè)量進(jìn)行de-embedding 技術(shù)處理原因。

　　基于在 866MHz 測(cè)量得到的阻抗值，我們可以設(shè)計(jì)出匹配網(wǎng)絡(luò)。圖9 給出了添加了設(shè)計(jì)的匹配網(wǎng)絡(luò)后NFRA 的S 參數(shù)的仿真和測(cè)量值的比較?？梢钥闯?，仿真得到的帶寬為

　　4 結(jié)論

　　以一款設(shè)計(jì)好的 NFRA 為例，闡述了一種低損耗的阻抗測(cè)量方法。通過聯(lián)合測(cè)量和de-embedding 技術(shù)，得到了天線阻抗的精確值。在得到的測(cè)量阻抗的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)出了性能良好的匹配網(wǎng)絡(luò)，匹配后的NFRA 的S 參數(shù)仿真值和測(cè)量值吻合良好，證明了這種方法的有效性和精確性。