測(cè)試SDRAM控制器的PDMA

3 測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)和工作原理

在本設(shè)計(jì)中，PDMA用于仿真多個(gè)IP核對(duì)SDRAM控制器進(jìn)行讀寫訪問以驗(yàn)證SDRAM控制器的設(shè)計(jì)是否高效合理，性能是否穩(wěn)定等指標(biāo)。

PDMA整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)由PCI接口模塊、PDMA 以及SDRAM控制器三大部分構(gòu)成（見圖1）。PCI接口模塊與PDMA之間以內(nèi)部IO總線相連接。 PDMA與SDRAM控制器之間以內(nèi)部Memory總線連接。PCI接口模塊連接外部PCI總線與內(nèi)部的 PDMA，轉(zhuǎn)換由外部發(fā)起的PCI IO訪問對(duì)PDMA進(jìn)行參數(shù)配置以及對(duì)命令、狀態(tài)等寄存器進(jìn)行讀寫。PDMA在得到了配置參數(shù)及啟動(dòng)訪問的命令信息后啟動(dòng)對(duì)SDRAM控制器的訪問(寫然后讀)，并把測(cè)試的結(jié)果反映到PDMA的狀態(tài)寄存里。

測(cè)試用PDMA的具體工作過程如下：

（1）PCI接口模塊對(duì)PDMA各通道進(jìn)行參數(shù)配置（如訪問長(zhǎng)度、訪問基址、訪問方式等）；

（2）PCI接口模塊寫PDMA的控制寄存器，啟動(dòng)對(duì)SDRAM的讀寫；

（3）PCI接口模塊讀PDMA的狀態(tài)寄存器，探測(cè)訪問是否完成，如完成，則讀取完成后的狀態(tài)信息（如錯(cuò)誤位，發(fā)生錯(cuò)誤的地址）。

4 RTL仿真

完成RTL級(jí)的設(shè)計(jì)后，我們利用Cadence公司的仿真工具VerilogXL對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行了功能仿真。仿真的環(huán)境是基于PCI的，所以其仿真順序如下：

（1）配置PCI配置空間的IO Base 及 Mem o ry Base寄存器；

（2）寫PCI配置空間54H，58H等寄存器，配置SDRAM 控制器及SDRAM芯片的參數(shù)；

（3）寫PCI配置空間的命令寄存器（offset==04h），使能該設(shè)備；

（4）訪問PCI IO空間中的PDMA配置寄存器，設(shè)定各個(gè)PDMA通道的配置參數(shù)；

（5）寫入相應(yīng)的命令，啟動(dòng)PDMA訪問內(nèi)新路子SDRAM控制器；

（6）檢測(cè)PDMA的狀態(tài)寄存器，根據(jù)設(shè)定的條件（正常結(jié)束或者發(fā)生錯(cuò)誤）退出仿真程序；

（7）打開波形文件，檢查是否有錯(cuò)誤發(fā)生。

圖5是由PCI發(fā)起的一次寫IO寄存器訪問的仿真波形，PDMA的配置數(shù)據(jù)就是通過若干這樣的操作完成的。

相對(duì)而言，我們更關(guān)注PDMA是如何訪問Memory的。圖6是由一個(gè)PDMA發(fā)起的寫讀模式下的訪問時(shí)序。GROUP1的信號(hào)是由PDMA發(fā)起的內(nèi)部Memory總線信號(hào)組，而GROUP2的信號(hào)是 Memory控制器和內(nèi)存芯片間的符合jedec標(biāo)準(zhǔn)的總線協(xié)議。從圖中我們可以清楚地看到總線協(xié)議的轉(zhuǎn)換過程，及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有違反協(xié)議的情況發(fā)生。

5 上板測(cè)試的方法和過程

在完成功能仿真后，使用Synopsys綜合工具 FPGA compiler對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行綜合，并選用XILINX公司的VERTEX1600E系列為目標(biāo)器件，生成相應(yīng)的網(wǎng)表文件，下載到FPGA上進(jìn)行測(cè)試。綜合的結(jié)果如表3所示。測(cè)試平臺(tái)是一臺(tái)PC機(jī)，帶有PCI標(biāo)準(zhǔn)接口的測(cè)試卡和PCI讀寫軟件。上板測(cè)試過程如下：

（1）下載bit文件到FPGA中；

（2）配置SDRAM控制器；

（3）置PDMA寄存器；

（4）啟動(dòng)PDMA訪問；

（5）讀回PDMA的狀態(tài)位。

測(cè)試時(shí)需要輸入相應(yīng)的測(cè)試向量，一個(gè)好的軟件界面可以大大減輕硬件工程師編寫、輸入測(cè)試向量的工作量。表4是一個(gè)測(cè)試向量的內(nèi)容和結(jié)果，像這樣的測(cè)試要進(jìn)行多次以提高故障覆蓋率并統(tǒng)瞥鯥P的性能。

6 實(shí)驗(yàn)結(jié)論

經(jīng)過不斷調(diào)試和改進(jìn)，PDMA能夠按照功能寄存器的配置準(zhǔn)確發(fā)起Memory訪問，并能夠及時(shí)報(bào)告SDRAM控制器的操作錯(cuò)誤。該測(cè)試平臺(tái)不僅適用于驗(yàn)證SDRAM控制器的設(shè)計(jì)，而且在經(jīng)過很小的改動(dòng)后可以配置成支持對(duì)性能更好的DDR存儲(chǔ)控制器的測(cè)試驗(yàn)證。靈活的配置方式使之成為一個(gè)通用的測(cè)試平臺(tái)，對(duì)不同的Memory控制器的測(cè)試只需用軟件對(duì)相應(yīng)的配置寄存器進(jìn)行配置即可，硬件基本不用進(jìn)行改動(dòng)，大大節(jié)約了設(shè)計(jì)時(shí)間，提高了設(shè)計(jì)的成功率和效益。