集成運算放大器參數測試儀校準裝置的開發(fā)

　　設計背景

　　集成運算放大器（以下簡稱集成運放）以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點廣泛應用于眾多軍用和民用電子系統(tǒng)，是構成智能武器裝備電子系統(tǒng)的關鍵器件之一。近年來，隨著微電子技術的飛速發(fā)展，集成運放無論在技術性能上還是在可靠性上都日趨完善，并在我國軍用系統(tǒng)中被大量使用，其質量的好壞，關系到具體工程乃至國家的安危。

　　隨著集成運算放大器參數測試儀（以下簡稱運放測試儀）在國防軍工和民用領域的廣泛應用，其質量問題顯得尤為重要。傳統(tǒng)的運放測試儀校準方案已不能滿足國防軍工的要求，運放測試儀的校準問題面臨嚴峻的挑戰(zhàn)。因此，如何規(guī)范和提高運放測試儀的測試精度，保證軍用運放器件的準確性是目前應該解決的關鍵問題。

　　目前，國內外運放測試儀（或者模擬器件測試系統(tǒng)）主要存在以下幾種校準方案：校準板法、標準樣片法和標準參數模擬法。各校準方案校準項目、優(yōu)缺點和相關情況的比較如表1所示。

　　比較以上三種方案可知，前兩種方法只是校準儀器內部使用的PMU單元、電流源、電壓源等，并不涉及到儀器本身閉環(huán)測試電路部分，局限性很大，很難保證運放測試儀的集成運放器件參數測試精度。而標準參數模擬法直接面向測試夾具，其校準方法具有一定可行性，只是在校準精度、通用性、測試自動化程度等方面需要進一步的研究。因此，通過對標準參數模擬法加以改進，對運放測試儀進行校準，開發(fā)出集成運放參數測試儀校準裝置，在參數精度和校準范圍上，能滿足國內大多數運放測試儀；在通用性上，能夠校準使用“閉環(huán)測試原理”的儀器。

　　系統(tǒng)性能要求

　　本課題的主要任務是通過研究國內外運放測試儀的校準方法，改進實用性較強的標準參數模擬法，用指標更高的參數標準來校準運放測試儀，實現(xiàn)運放測試儀的自動化校準以及校準原始記錄、校準證書的自動生成等。

　　表2為本課題中研制的集成運放參數測試儀校準裝置與市場上典型運放測試儀的技術指標比較情況。從表2可以看出，校準裝置技術指標可以校準市場上的典型運放測試儀。