iNEMI解決電路板的質(zhì)量問題

　　Taylor評論說：“我們從一開始就理解，功能測試與在線測試[ICT]和自動化光學檢測 [AOI]等結(jié)構(gòu)性測試技術(shù)有著根本的區(qū)別。那些方法依靠比較可預測的標準，并使用供應商提供的設備，所以允許采用相當一致的故障覆蓋方法?！?P>　　他補充說：“功能測試需要在產(chǎn)品的本地環(huán)境中高速運行。如果使用不同供應商的具有不同功能的傳統(tǒng)堆架式儀器或儀器卡來監(jiān)測電路板的性能，則不可避免地產(chǎn)生多種不同的結(jié)果。此外，在功能測試中，可將問題范圍縮小到執(zhí)行某個特定功能的電路元件，但是不一定縮小到單個元件的狀況或特性。這樣無法進行完全自動的故障覆蓋分析?！?P>　　該組在初期就認識到，盡管各種電路板測試技術(shù)在一定程度上有所重疊，但是功能測試可提供結(jié)構(gòu)性測試不能提供的電路性能信息。目的是盡可能以結(jié)構(gòu)等效術(shù)語重新解釋功能測試，添加功能測試獨有的覆蓋功能，以及建立一種整個行業(yè)的企業(yè)均可用作參考的框架。iNEMI將發(fā)布結(jié)果。

　　Taylor繼續(xù)說：“我們希望代表電路板測試領(lǐng)域所有觀點的企業(yè)都能參與。參與者將為我們帶來獨特的觀點和大量經(jīng)驗。項目將首先確立方法的基礎。然后，各公司將實施方法，并提供關(guān)于方法有效性方面的反饋?！?P>　　創(chuàng)建方法方面的一個關(guān)注點是確定評估標準。工程師分析電路板原理圖和測試代碼的初步理論分析，將提供關(guān)于如何確定一項測試計劃是否涵蓋一種電路板關(guān)鍵功能的一次通過率規(guī)范。一般而言，單是理論分析對于主要采用穩(wěn)定技術(shù)的低成本或低利潤率的電路板就足夠了。將電路板與實際儀器掛鉤監(jiān)測測試可增強對理論分析的信心，但是也增加了所需的時間和成本。測試預算可能不允許在低成本電路板、有大量元件（大幅度增加評估時間）和高度復雜電路（導致確定故障覆蓋率既耗時又模糊不清）的電路上進行這些額外操作。

　　如果產(chǎn)品可以保證提供高度可信的故障覆蓋評估，可能需要采取額外步驟注入故障，以確定在具有已知缺陷的電路板上運行測試是否能夠發(fā)現(xiàn)缺陷。理論分析可能預測出測試將覆蓋某些故障，但是監(jiān)測可能顯示當實際運行測試時預測的故障覆蓋率無效。

　　來看看采用耦合電容器的交流耦合差分對。在某些電路中，拆除耦合電容器不會導致測試失敗。有開口的差分線可采用電容方式跨接其他線路或連接器/元件引腳耦合，盡管信號完整性較差，但仍可到達差分接收器。理論分析可預測故障，但是盡管有故障，實際測試卻可以通過。在實際使用中，這種電路板可能出現(xiàn)間歇性運行故障。

　　另一種情況是，跟蹤一段測試代碼可能表明一定程度的覆蓋，但是由于編碼錯誤，該段代碼實際上永遠不會執(zhí)行。同樣，理論分析預測的是不存在的覆蓋。

　　該TIG提出了一種包含以下內(nèi)容的方法：
　　* 以現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)性覆蓋術(shù)語重新解釋功能測試，
　　* 引進功能測試獨有的新覆蓋元素，
　　* 以有意義和可重現(xiàn)的方式報告功能測試覆蓋。

　　該組將運用這種方法測試三種全然不同的產(chǎn)品，包括可植入醫(yī)療產(chǎn)品、光網(wǎng)絡電路板和PC服務器電路板，這些測試采用多種不同的技術(shù)，具有不同的復雜性并可產(chǎn)生多種不同的故障結(jié)果。

　　Taylor接著說：“我們將在這些產(chǎn)品上實施我們的初步測試方法，然后用汲取的經(jīng)驗來調(diào)整方法，如此反復，使它成為一種有用的框架。我們將發(fā)布關(guān)于提議解決方案和測試結(jié)果的足夠信息，在不透露任何專有信息的情況下允許非參與企業(yè)利用我們的工作成果?！?P>　　他提醒說：“我們的意圖不是為了簡化流程，而是實現(xiàn)行業(yè)的統(tǒng)一。最初，我們將運行統(tǒng)計報告來確立基準點。該信息將有助于我們評估優(yōu)勢與劣勢，以及哪些數(shù)據(jù)真正有意義?！?

如果一切按照計劃進行，該TIG到年底就可得到最終結(jié)論。